RDIMM(RegisteredDIMM,寄存器式雙列直插內(nèi)存)有額外的RCD(寄存器時鐘驅(qū)動器,用來緩存來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制信號等)用于改善信號質(zhì)量,但額外寄存器的引入使得其延時和功耗較大。LRDIMM(LoadReducedDIMM,減載式雙列直插內(nèi)存)有額外的MB(內(nèi)存緩沖,緩沖來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制等),在技術(shù)實現(xiàn)上并未使用復雜寄存器,只是通過簡單緩沖降低內(nèi)存總線負載。RDIMM和LRDIMM通常應用在高性能、大容量的計算系統(tǒng)中。
綜上可見,DDR內(nèi)存的發(fā)展趨勢是速率更高、封裝更密、工作電壓更低、信號調(diào)理技術(shù) 更復雜,這些都對設計和測試提出了更高的要求。為了從仿真、測試到功能測試階段保證DDR信號的波形質(zhì)量和時序裕量,需要更復雜、更的仿真、測試和分析工具。
用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗證的總線解碼器。廣東測量DDR一致性測試
如果PCB的密度較高,有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設計時),這時就需要有合適的手段把關(guān)心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題,可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板,有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設計的適配器,使用時要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間,并通過轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設計,以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。廣東測量DDR一致性測試DDR地址、命令總線的一致性測試。
在進行接收容限測試時,需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ、DQS等信號。測 試 中 被 測 件 工 作 在 環(huán) 回 模 式 , D Q 引 腳 接 收 的 數(shù) 據(jù) 經(jīng) 被 測 件 轉(zhuǎn) 發(fā) 并 通 過 L B D 引 腳 輸 出 到 誤碼儀的誤碼檢測端口。在測試前需要用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準,如DQS與 DQ的時延校準、信號幅度校準、DCD與RJ抖動校準、壓力眼校準、均衡校準等。圖5.21 展示了一整套DDR5接收端容限測試的環(huán)境。
DDR4/5的協(xié)議測試
除了信號質(zhì)量測試以外,有些用戶還會關(guān)心DDR總線上真實讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確, 以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等,這時就需要進行相關(guān)的協(xié)議測試。DDR的總線寬度很 寬,即使數(shù)據(jù)線只有16位,加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線,更寬位數(shù)的總線甚 至會用到上百根線。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進行同時捕獲并進行協(xié)議分析,適 合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測試的基本方法是通過相應的探頭把被測信號引到 邏輯分析儀,在邏輯分析儀中運行解碼軟件進行協(xié)議驗證和分析。
測試軟件運行后,示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一 個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。 自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以 輔 助 用 戶 進 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 , 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì) 量的影響。
除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關(guān)鍵參數(shù)測試 失敗后,可以針對這個參數(shù)進行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進 行參數(shù)統(tǒng)計,根據(jù)統(tǒng)計結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置, 4代DDR之間有什么區(qū)別?
為了針對復雜信號進行更有效的讀/寫信號分離,現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能,在DDR測試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時間的觸發(fā)方法。
圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號觸發(fā)條件。用 區(qū)域觸發(fā)功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形, 一 種是讀時序的DQS波形,另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后,通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框,就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來,與之對應的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。 DDR4 和 LPDDR4 一致性測試應用軟件提供了多種可以簡化設計驗證的關(guān)鍵功能。上海信息化DDR一致性測試
DDR4協(xié)議/功能調(diào)試和分析參考解決方案。廣東測量DDR一致性測試
大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫,即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同,又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣,而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的,因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。廣東測量DDR一致性測試
DDR簡介與信號和協(xié)議測試 DDR/LPDDR簡介 目前在計算機主板和各種嵌入式的應用中,存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩 種: 一種是非易失性的,即掉電不會丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲器速度較慢,主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等;另 一種是易失性的,即掉電會丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(Random Access Memory,隨機存儲 器),這種存儲器運行速度較快,主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲器類型的劃分。 擴展 DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件的功能。青海...