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企業(yè)商機(jī)
DDR一致性測試基本參數(shù)
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  • 克勞德
  • 型號
  • DDR一致性測試
DDR一致性測試企業(yè)商機(jī)

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

一個實際的DDR4總線上的讀時序和寫時序。從兩張圖我們可 以看到,在實際的DDR總線上,讀時序、寫時序是同時存在的。而且對于讀或者寫時序來 說,DQS(數(shù)據(jù)鎖存信號)相對于DQ(數(shù)據(jù)信號)的位置也是不一樣的。對于測試來說,如果 沒有軟件的輔助,就需要人為分別捕獲不同位置的波形,并自己判斷每組Burst是讀操作還 是寫操作,再依據(jù)不同的讀/寫規(guī)范進(jìn)行相應(yīng)參數(shù)的測試,因此測量效率很低,而且無法進(jìn)行 大量的測量統(tǒng)計。 DDR5 一致性測試應(yīng)用軟件。湖南DDR一致性測試聯(lián)系人

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工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),Specification:如果所設(shè)計的功能模塊要實現(xiàn)某種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接口或者協(xié)議,那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),讀懂規(guī)范之后,才能開始設(shè)計。

因此,為實現(xiàn)本設(shè)計實例中的DDR模塊,需要技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設(shè)計DDR存諸模塊,那么在所有的資料當(dāng)中,應(yīng)該較早了解DDR規(guī)范。通過對DDR規(guī)范文件JEDEC79R]的閱讀,我們了解到,設(shè)計一個DDR接口,需要滿足規(guī)范中規(guī)定的DC,AC特性及信號時序特征。下面我們從設(shè)計規(guī)范要求和器件本身特性兩個方面來解讀,如何在設(shè)計中滿足設(shè)計要求。 湖南DDR一致性測試聯(lián)系人DDR測試信號問題排查;

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DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種: 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒,另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊,主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存,主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域,使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路,延時較小,但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時,UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等,設(shè)計難度較大,因此UDIMM在容量和頻率上都較低,通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場合。

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測試,但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法,所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說,由于時間和幅度的余量更小,必須考慮隨機(jī)抖動和隨機(jī)噪聲帶來的誤碼率的影響,而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中,就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖,并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推,然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料: JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。DDR4存儲器設(shè)計的信號完整性。

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通常我們會以時鐘為基準(zhǔn)對數(shù)據(jù)信號疊加形成眼圖,但這種簡單的方法對于DDR信 號不太適用。DDR總線上信號的讀、寫和三態(tài)都混在一起,因此需要對信號進(jìn)行分離后再進(jìn) 行測量分析。傳統(tǒng)上有以下幾種方法用來進(jìn)行讀/寫信號的分離,但都存在一定的缺點。

(1)根據(jù)讀/寫Preamble的寬度不同進(jìn)行分離(針對DDR2信號)。Preamble是每個Burst的數(shù)據(jù)傳輸開始前,DQS信號從高阻態(tài)到發(fā)出有效的鎖存邊沿前的  一段準(zhǔn)備時間,有些芯片的讀時序和寫時序的Preamble的寬度可能是不一樣的,因此可以  用示波器的脈沖寬度觸發(fā)功能進(jìn)行分離。但由于JEDEC并沒有嚴(yán)格規(guī)定寫時序的  Preamble寬度的上限,因此如果芯片的讀/寫時序的Preamble的寬度接近則不能進(jìn)行分  離。另外,對于DDR3來說,讀時序的Preamble可能是正電平也可能是負(fù)電平;對于  DDR4來說,讀/寫時序的Preamble幾乎一樣,這都使得觸發(fā)更加難以設(shè)置。 DDR DDR2 DDR3 DDR4 和 DDR5 內(nèi)存帶寬;湖南DDR一致性測試聯(lián)系人

DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。湖南DDR一致性測試聯(lián)系人

10Gbase-T總線測量為例做簡單介紹。

10Gbase-T總線的測量需要按照圖7-128來連接各種儀器和測試夾具。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時抖動/時鐘頻率要求用實時示波器測試;線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測試;回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測試。

需要自動化測試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測試,一般這個軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計算機(jī)里。 沒有自動測試軟件,測試是異常困難和耗時的工作。

測試夾具是測試系統(tǒng)的重要組成部分,測試儀器公司或一些專業(yè)的公司會提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測試夾具。當(dāng)然也可以自己設(shè)計,自己設(shè)計時主要關(guān)注阻抗匹配、損耗、串?dāng)_等 電氣參數(shù),以及機(jī)械連接方面的連接可靠性和可重復(fù)性等可操作性功能。 湖南DDR一致性測試聯(lián)系人

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DDR簡介與信號和協(xié)議測試 DDR/LPDDR簡介 目前在計算機(jī)主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩 種: 一種是非易失性的,即掉電不會丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲器速度較慢,主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等;另 一種是易失性的,即掉電會丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(Random Access Memory,隨機(jī)存儲 器),這種存儲器運行速度較快,主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲器類型的劃分。 擴(kuò)展 DDR5 發(fā)射機(jī)合規(guī)性測試軟件的功能。青海...

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