JEDEC組織發(fā)布的主要的DDR相關(guān)規(guī)范,對發(fā)布時(shí)間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預(yù)取長度、端接、接收機(jī)均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細(xì)對比??梢钥闯鯠DR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進(jìn),同時(shí)也在逐漸采用更先進(jìn)的工藝和更復(fù)雜的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)。以DDR5為例,相 對于之前的技術(shù)做了一系列的技術(shù)改進(jìn),比如在接收機(jī)內(nèi)部有均衡器補(bǔ)償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓(xùn)練優(yōu)化信號時(shí)序、支持總線反轉(zhuǎn)和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。DDR2 和 LPDDR2 電氣一致性測試應(yīng)用軟件。浙江多端口矩陣測試DDR一致性測試
我們看到,在用通用方法進(jìn)行的眼圖測試中,由于信號的讀寫和三態(tài)都混在一起,因此很難對信號質(zhì)量進(jìn)行評估。要進(jìn)行信號的評估,第1步是要把讀寫信號分離出來。傳統(tǒng)上有幾種方法用來進(jìn)行讀寫信號的分離,但都存在一定的缺陷??梢岳米x寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā),但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限,因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的,而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣,則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號的幅度不同進(jìn)行分離,如圖7-138中間 的圖片所示,但是如果讀寫信號幅度差別不大,則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號來分離讀寫,但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè),只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求,比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列,對于用戶示波器的要求比較高。浙江DDR一致性測試服務(wù)熱線DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。
按照存儲信息方式的不同,隨機(jī)存儲器又分為靜態(tài)隨機(jī)存儲器SRAM(Static RAM)和 動態(tài)隨機(jī)存儲器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運(yùn)行速度較快、時(shí)延小、控制簡單,但是 SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲需要多個(gè)晶體管,不容易實(shí)現(xiàn)大的存儲容量,主要用于一些對時(shí) 延和速度有要求但又不需要太大容量的場合,如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等。DRAM的 時(shí)延比SRAM大,而且需要定期的刷新,控制電路相對復(fù)雜。但是由于DRAM每比特?cái)?shù)據(jù)存儲只需要一個(gè)晶體管,因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點(diǎn),目前已經(jīng)成為大 容量RAM的主流,典型的如現(xiàn)在的PC、服務(wù)器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內(nèi)存都是DRAM。
克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室
DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內(nèi)存,DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代,目前 DDR4已經(jīng)成為市場的主流,DDR5也開始進(jìn)入市場。對于DDR總線來說,我們通常說的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應(yīng)的工作時(shí)鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率,由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間、高阻態(tài)時(shí)間、總線刷新時(shí)間等,因此其實(shí)際的總線傳輸速率 達(dá)不到這個(gè)理想值。 4代DDR之間有什么區(qū)別?
DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測試
DQS (源同步時(shí)鐘)和DQ (數(shù)據(jù))的波形參數(shù)測試與命令地址總線測試類似,比較簡 單,在此不做詳細(xì)介紹。對于DDR1, DQS是單端信號,可以用單端探頭測試;DDR2&3 DQS 則是差分信號,建議用差分探頭測試,減小探測難度。DQS和DQ波形包括三態(tài)(T特征,以及讀數(shù)據(jù)(Read Burst)、寫數(shù)據(jù)(Write Burst)的DQS和DQ的相對時(shí)序特征。在 我們測試時(shí),只是捕獲了這樣的波形,然后測試出讀、寫操作時(shí)的建立時(shí)間和保持時(shí)間參數(shù) 是不夠的,因?yàn)閿?shù)據(jù)碼型是變化的,猝發(fā)長度也是變化的,只測試幾個(gè)時(shí)序參數(shù)很難覆蓋各 種情況,更難測出差情況。很多工程師花了一周時(shí)間去測試DDR,卻仍然測不出問題的關(guān) 鍵點(diǎn)就在于此。因此我們應(yīng)該用眼圖的方式去測試DDR的讀、寫時(shí)序,確保反映整體時(shí)序情 況并捕獲差情況下的波形,比較好能夠套用串行數(shù)據(jù)的分析方法,調(diào)用模板幫助判斷。 DDR 設(shè)計(jì)、測試、驗(yàn)證和一致性測試。浙江DDR一致性測試服務(wù)熱線
DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法?浙江多端口矩陣測試DDR一致性測試
自動化一致性測試
因?yàn)镈DR3總線測試信號多,測試參數(shù)多,測試工作量非常大,所以如果不使用自動化 的方案,則按Jedec規(guī)范完全測完要求的參數(shù)可能需要7?14天。提供了全自動的DDR測試 軟件,包括:支持DDR2/LPDDR2的N5413B軟件;支持DDR3/LPDDR3的U7231B軟件; 支持DDR4的N6462A軟件。DDR測試軟件的使用非常簡便,用戶只需要 按順序選擇好測試速率、測試項(xiàng)目并根據(jù)提示進(jìn)行參數(shù)設(shè)置和連接,然后運(yùn)行測試軟件即可。 DDR4測試軟件使用界面的例子。 浙江多端口矩陣測試DDR一致性測試
DDR簡介與信號和協(xié)議測試 DDR/LPDDR簡介 目前在計(jì)算機(jī)主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩 種: 一種是非易失性的,即掉電不會丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲器速度較慢,主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等;另 一種是易失性的,即掉電會丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(Random Access Memory,隨機(jī)存儲 器),這種存儲器運(yùn)行速度較快,主要用于程序運(yùn)行時(shí)的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲器類型的劃分。 擴(kuò)展 DDR5 發(fā)射機(jī)合規(guī)性測試軟件的功能。青海...