DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現(xiàn) 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術(shù) ， 這 也 使 得 D D R 5 測 試 中必須關(guān)注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR-致性測試探測和夾具；甘肅多端口矩陣測試DDR一致性測試

DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測試

DQS (源同步時鐘)和DQ (數(shù)據(jù))的波形參數(shù)測試與命令地址總線測試類似，比較簡 單，在此不做詳細介紹。對于DDR1, DQS是單端信號，可以用單端探頭測試；DDR2&3 DQS 則是差分信號，建議用差分探頭測試，減小探測難度。DQS和DQ波形包括三態(tài)(T特征，以及讀數(shù)據(jù)(Read Burst)、寫數(shù)據(jù)(Write Burst)的DQS和DQ的相對時序特征。在 我們測試時，只是捕獲了這樣的波形，然后測試出讀、寫操作時的建立時間和保持時間參數(shù) 是不夠的，因為數(shù)據(jù)碼型是變化的，猝發(fā)長度也是變化的，只測試幾個時序參數(shù)很難覆蓋各 種情況，更難測出差情況。很多工程師花了一周時間去測試DDR,卻仍然測不出問題的關(guān) 鍵點就在于此。因此我們應(yīng)該用眼圖的方式去測試DDR的讀、寫時序，確保反映整體時序情 況并捕獲差情況下的波形，比較好能夠套用串行數(shù)據(jù)的分析方法，調(diào)用模板幫助判斷。 浙江DDR一致性測試方案商DDR 設(shè)計、測試、驗證和一致性測試。

DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復(fù)雜，主要測試內(nèi)容可以分為兩方面：波形參數(shù)和抖動。波形參數(shù)主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復(fù)雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內(nèi)容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對這些抖動參數(shù)的測試需要用軟件實現(xiàn)，比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器，測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置，被測系統(tǒng)建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。

為了針對復(fù)雜信號進行更有效的讀/寫信號分離，現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能，在DDR測試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時間的觸發(fā)方法。

圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號觸發(fā)條件。用 區(qū)域觸發(fā)功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時序的DQS波形，另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后，通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框，就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來，與之對應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。 DDR1 電氣一致性測試應(yīng)用軟件。

自動化一致性測試

因為DDR3總線測試信號多，測試參數(shù)多，測試工作量非常大，所以如果不使用自動化 的方案，則按Jedec規(guī)范完全測完要求的參數(shù)可能需要7?14天。提供了全自動的DDR測試 軟件，包括：支持DDR2/LPDDR2的N5413B軟件；支持DDR3/LPDDR3的U7231B軟件； 支持DDR4的N6462A軟件。DDR測試軟件的使用非常簡便，用戶只需要 按順序選擇好測試速率、測試項目并根據(jù)提示進行參數(shù)設(shè)置和連接，然后運行測試軟件即可。 DDR4測試軟件使用界面的例子。 DDR 設(shè)計和測試解決方案；浙江DDR一致性測試方案商

DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測試和分析工具箱。甘肅多端口矩陣測試DDR一致性測試

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數(shù)量很多，雖然逐 個測試是嚴格的方法，但花費時間較多，所以有時用戶會選擇一些有代表性的信號進行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號進行測試。

還有些用戶想在溫箱里對DDR信號質(zhì)量進行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對于使用的示波器探頭也是個挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會被損壞。如果要在溫箱里對信號進行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測量帶寬。 甘肅多端口矩陣測試DDR一致性測試