DDR4/5與LPDDR4/5 的信號質(zhì)量測試

由于基于DDR顆?；駾DR DIMM的系統(tǒng)需要適配不同的平臺，應(yīng)用場景千差萬別， 因此需要進(jìn)行詳盡的信號質(zhì)量測試才能保證系統(tǒng)的可靠工作。對于DDR4及以下的標(biāo)準(zhǔn) 來說，物理層一致性測試主要是發(fā)送的信號質(zhì)量測試；對于DDR5標(biāo)準(zhǔn)來說，由于接收端出 現(xiàn)了均衡器，所以還要包含接收測試。

DDR信號質(zhì)量的測試也是使用高帶寬的示波器。對于DDR的信號，技術(shù)規(guī)范并沒有 給出DDR信號上升/下降時(shí)間的具體參數(shù)，因此用戶只有根據(jù)使用芯片的實(shí)際快上升/ 下降時(shí)間來估算需要的示波器帶寬。通常對于DDR3信號的測試，推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;DDR4測試建議的測試系統(tǒng)帶寬是12GHz;而DDR5測試則推薦使用 16GHz以上帶寬的示波器和探頭系統(tǒng)。 DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測試和分析工具箱。甘肅眼圖測試DDR一致性測試

10Gbase-T總線測量為例做簡單介紹。

10Gbase-T總線的測量需要按照圖7-128來連接各種儀器和測試夾具。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時(shí)抖動/時(shí)鐘頻率要求用實(shí)時(shí)示波器測試；線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測試；回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測試。

需要自動化測試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測試，一般這個軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計(jì)算機(jī)里。 沒有自動測試軟件，測試是異常困難和耗時(shí)的工作。

測試夾具是測試系統(tǒng)的重要組成部分，測試儀器公司或一些專業(yè)的公司會提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測試夾具。當(dāng)然也可以自己設(shè)計(jì)，自己設(shè)計(jì)時(shí)主要關(guān)注阻抗匹配、損耗、串?dāng)_等 電氣參數(shù)，以及機(jī)械連接方面的連接可靠性和可重復(fù)性等可操作性功能。 甘肅眼圖測試DDR一致性測試DDR4存儲器設(shè)計(jì)的信號完整性。

自動化一致性測試

因?yàn)镈DR3總線測試信號多，測試參數(shù)多，測試工作量非常大，所以如果不使用自動化 的方案，則按Jedec規(guī)范完全測完要求的參數(shù)可能需要7?14天。提供了全自動的DDR測試 軟件，包括：支持DDR2/LPDDR2的N5413B軟件；支持DDR3/LPDDR3的U7231B軟件； 支持DDR4的N6462A軟件。DDR測試軟件的使用非常簡便，用戶只需要 按順序選擇好測試速率、測試項(xiàng)目并根據(jù)提示進(jìn)行參數(shù)設(shè)置和連接，然后運(yùn)行測試軟件即可。 DDR4測試軟件使用界面的例子。

對DDR5來說，設(shè)計(jì)更為復(fù)雜，仿真軟件需要幫助用戶通過應(yīng)用IBIS模型針對基于 DDR5顆粒或DIMM的系統(tǒng)進(jìn)行仿真驗(yàn)證，比如仿真驅(qū)動能力、隨機(jī)抖動/確定性抖動、寄 生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時(shí)間、AGC(自動增益控制)功能、4taps DFE(4抽頭 判決反饋均衡)等。

DDR的讀寫信號分離

對于DDR總線來說，真實(shí)總線上總是讀寫同時(shí)存在的。規(guī)范對于讀時(shí)序和寫時(shí)序的 相關(guān)時(shí)間參數(shù)要求是不一樣的，讀信號的測量要參考讀時(shí)序的要求，寫信號的測量要參考寫 時(shí)序的要求。因此要進(jìn)行DDR信號的測試，第一步要做的是從真實(shí)工作的總線上把感興 趣的讀信號或者寫信號分離出來。JEDEC協(xié)會規(guī)定的DDR4總線的 一個工作時(shí) 序圖(參考資料： JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4),可以看到對于讀和寫信 號來說，DQS和DQ間的時(shí)序關(guān)系是不一樣的。 DDR5 接收機(jī)一致性和表征測試應(yīng)用軟件。

前面介紹過，JEDEC規(guī)范定義的DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉(zhuǎn)接板的方 式，其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號質(zhì)量， 一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進(jìn)行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型 文件(通常通過仿真或者實(shí)測得到),并根據(jù)實(shí)際測試點(diǎn)和期望觀察到的點(diǎn)之間的傳輸函數(shù)， 來計(jì)算期望位置處的信號波形，再對這個信號做進(jìn)一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計(jì)。展示了典型的DDR4和DDR5信號質(zhì)量測試環(huán)境，以及在示波器中進(jìn)行去嵌入操作的 界面。DDR4參數(shù)測試參考解決方案.甘肅眼圖測試DDR一致性測試

DDR3 和 LPDDR3 一致性測試應(yīng)用軟件。甘肅眼圖測試DDR一致性測試

大部分的DRAM都是在一個同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。甘肅眼圖測試DDR一致性測試