前面介紹過，JEDEC規(guī)范定義的DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉(zhuǎn)接板的方 式，其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號質(zhì)量， 一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進(jìn)行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型 文件(通常通過仿真或者實(shí)測得到),并根據(jù)實(shí)際測試點(diǎn)和期望觀察到的點(diǎn)之間的傳輸函數(shù)， 來計(jì)算期望位置處的信號波形，再對這個信號做進(jìn)一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計(jì)。展示了典型的DDR4和DDR5信號質(zhì)量測試環(huán)境，以及在示波器中進(jìn)行去嵌入操作的 界面。完整的 DDR4調(diào)試、分析和一致性測試.青海HDMI測試DDR一致性測試

為了進(jìn)行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時間不同，Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測試。

信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進(jìn)行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個模板對讀、寫信號進(jìn)行模板測試，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 上海數(shù)字信號DDR一致性測試DDR2 和 LPDDR2 一致性測試軟件。

DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性

對于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計(jì)，首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?，也就是?qū)動器能發(fā)出什么樣的信號，接收器能接受和判別什么樣的信號，用術(shù)語講，就是信號的DC和AC特性要求。

在DDR規(guī)范文件JEDEC79R的第51頁[TABLE6:ELECTRICALCHARACTERISTICSANDDCOPERATINGCONDITIONS]中對DDR的DC有明確要求:VCC=+2.5V+0.2V，Vref=+1.25V±0.05V，VTT=Vref±0.04V.

在我們的實(shí)際設(shè)計(jì)中，除了要精確設(shè)計(jì)供電電源模塊之外，還需要對整個電源系統(tǒng)進(jìn)行PI仿真，而這是高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)中另一個需要考慮的問題，在這里我們先不討論它，暫時認(rèn)為系統(tǒng)能夠提供穩(wěn)定的供電電源。

除DC特性外，我們還應(yīng)該注意規(guī)范中提到的AC特性，所謂AC特性，就是信號在高速利轉(zhuǎn)狀態(tài)下所表現(xiàn)出的動態(tài)變化特性。DDR規(guī)范中第60頁，對外于云態(tài)變化的地址信號、控制信號及數(shù)據(jù)信號分別給出了交流特性的要求。為方便讀者，現(xiàn)把規(guī)范中對干信號交流特性的要求復(fù)制到這里，作為高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一部分，要確保在我們的系統(tǒng)中，所有處于高速工作狀態(tài)下的DDR信號要符合這個AC特性規(guī)范。

DDR的信號仿真驗(yàn)證

由于DDR芯片都是采用BGA封裝，密度很高，且分叉、反射非常嚴(yán)重，因此前期的仿 真是非常必要的。借助仿真軟件中專門針對DDR的仿真模型庫仿真出的通道損 耗以及信號波形。

仿真出信號波形以后，許多用戶需要快速驗(yàn)證仿真出來的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī) 范要求。這時，可以把軟件仿真出的DDR的時域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測試軟件中 ,并生成相應(yīng)的一致性測試報告，這樣可以保證仿真和測試分析方法的一致，并且 便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號違規(guī) DDR4/LPDDR4 一致性測試；

工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，Specification:如果所設(shè)計(jì)的功能模塊要實(shí)現(xiàn)某種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接口或者協(xié)議，那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，讀懂規(guī)范之后，才能開始設(shè)計(jì)。

因此，為實(shí)現(xiàn)本設(shè)計(jì)實(shí)例中的DDR模塊，需要技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設(shè)計(jì)DDR存諸模塊，那么在所有的資料當(dāng)中，應(yīng)該較早了解DDR規(guī)范。通過對DDR規(guī)范文件JEDEC79R]的閱讀，我們了解到，設(shè)計(jì)一個DDR接口，需要滿足規(guī)范中規(guī)定的DC，AC特性及信號時序特征。下面我們從設(shè)計(jì)規(guī)范要求和器件本身特性兩個方面來解讀，如何在設(shè)計(jì)中滿足設(shè)計(jì)要求。 DDR4 總線物理層仿真測試和協(xié)議層的測試方案；青海HDMI測試DDR一致性測試

用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。青海HDMI測試DDR一致性測試

以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號分離的常用方法，根據(jù)不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據(jù)建立/保持 時間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號突發(fā)時延的方法(CA高接下來對應(yīng)讀操作，CA低 接下來對應(yīng)寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進(jìn)行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后，就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室 青海HDMI測試DDR一致性測試

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