DDR總線上需要測試的參數(shù)高達(dá)上百個，而且還需要根據(jù)信號斜率進(jìn)行復(fù)雜的查表修 正。為了提高DDR信號質(zhì)量測試的效率，比較好使用御用的測試軟件進(jìn)行測試。使用自動 測試軟件的優(yōu)點(diǎn)是：自動化的設(shè)置向?qū)П苊膺B接和設(shè)置錯誤；優(yōu)化的算法可以減少測試時 間；可以測試JEDEC規(guī)定的速率，也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率；自動讀/寫分離技 術(shù)簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統(tǒng)計的結(jié)果；能夠根據(jù)信號斜率自動計算建 立/保持時間的修正值。DDR眼圖讀寫分離的傳統(tǒng)方法。電氣性能測試DDR一致性測試信號完整性測試

DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種： 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒，另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊，主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存，主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域，使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路，延時較小，但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時，UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等，設(shè)計難度較大，因此UDIMM在容量和頻率上都較低，通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場合。 河南校準(zhǔn)DDR一致性測試DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求；

DDR系統(tǒng)設(shè)計過程，以及將實(shí)際的設(shè)計需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標(biāo)相結(jié)合，我們以一個實(shí)際的設(shè)計分析實(shí)例來說明，如何在一個DDR系統(tǒng)設(shè)計中，解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù)，應(yīng)用到實(shí)際的系統(tǒng)設(shè)計中。某項(xiàng)目中，對DDR系統(tǒng)的功能模塊細(xì)化框圖。在這個系統(tǒng)中，對DDR的設(shè)計需求如下。

整個DDR功能模塊由四個512MB的DDR芯片組成，選用Micron的DDR存諸芯片MT46V64M8BN-75。每個DDR芯片是8位數(shù)據(jù)寬度，構(gòu)成32位寬的2GBDDR存諸單元，地址空間為Add<13..0>，分四個Bank，尋址信號為BA<1..0>。

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機(jī)抖動和隨機(jī)噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。DDR4存儲器設(shè)計的信號完整性。

每個DDR芯片獨(dú)享DOS，DM信號;四片DDR芯片共享RAS#，CAS#，CS#，WE#控制信號。

DDR工作頻率為133MHz。

DDR 控制器選用Xilinx公司的 FPGA，型號為XC2VP30 6FF1152C

得到這個設(shè)計需求之后，我們首先要進(jìn)行器件選型，然后根據(jù)所選的器件，準(zhǔn)備相關(guān)的設(shè)計資料。一般來講，對于經(jīng)過選型的器件，為了使用這個器件進(jìn)行相關(guān)設(shè)計，需要有如下資料。

器件數(shù)據(jù)手冊Datasheet:這個是必須要有的。如果沒有器件手冊，是沒有辦法進(jìn)行設(shè)計的(一般經(jīng)過選型的器件，設(shè)計工程師一定會有數(shù)據(jù)手冊)。 DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法？河南校準(zhǔn)DDR一致性測試

DDR時鐘總線的一致性測試。電氣性能測試DDR一致性測試信號完整性測試

由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達(dá)到3.2GT/s以上，DDR5的數(shù)據(jù)速率更高，所以對邏輯分析儀的要求也要很高，需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps 以上的數(shù)據(jù)速率。基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過 DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀，相應(yīng)的適配器要經(jīng)過嚴(yán)格測試，確 保在其標(biāo)稱的速率下不會因?yàn)樾盘栙|(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。電氣性能測試DDR一致性測試信號完整性測試

深圳市力恩科技有限公司總部位于深圳市南山區(qū)南頭街道南聯(lián)社區(qū)中山園路9號君翔達(dá)大廈辦公樓A201，是一家一般經(jīng)營項(xiàng)目是：儀器儀表的研發(fā)、租賃、銷售、上門維修；物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品的研發(fā)及銷售；無源射頻產(chǎn)品的研發(fā)及銷售；電子產(chǎn)品及電子元器件的銷售；儀器儀表、物聯(lián)網(wǎng)、無源射頻產(chǎn)品的相關(guān)技術(shù)咨詢；軟件的研發(fā)以及銷售，軟件技術(shù)咨詢服務(wù)等。的公司。力恩科技擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團(tuán)隊(duì)，以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀。力恩科技繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。力恩科技始終關(guān)注儀器儀表市場，以敏銳的市場洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長共贏。