DDR地址、命令總線的一致性測試
DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質(zhì)主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續(xù)時間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time (建立時間)和Hold Time (保持時間)。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時間,如為 保持時間,針對DDR400,加和如為0.7ns。
D9050DDRC DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件.湖北DDR一致性測試HDMI測試
除了DDR以外,近些年隨著智能移動終端的發(fā)展,由DDR技術(shù)演變過來的LPDDR (Low-Power DDR,低功耗DDR)也發(fā)展很快。LPDDR主要針對功耗敏感的應(yīng)用場景,相 對于同一代技術(shù)的DDR來說會采用更低的工作電壓,而更低的工作電壓可以直接減少器 件的功耗。比如LPDDR4的工作電壓為1. 1V,比標準的DDR4的1.2V工作電壓要低一 些,有些廠商還提出了更低功耗的內(nèi)存技術(shù),比如三星公司推出的LPDDR4x技術(shù),更是把 外部I/O的電壓降到了0.6V。但是要注意的是,更低的工作電壓對于電源紋波和串擾噪 聲會更敏感,其電路設(shè)計的挑戰(zhàn)性更大。除了降低工作電壓以外,LPDDR還會采用一些額 外的技術(shù)來節(jié)省功耗,比如根據(jù)外界溫度自動調(diào)整刷新頻率(DRAM在低溫下需要較少刷 新)、部分陣列可以自刷新,以及一些對低功耗的支持。同時,LPDDR的芯片一般體積更 小,因此占用的PCB空間更小。DDR一致性測試項目DDR命令、地址和地址總線的建立時間和保持時間定義。
克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室
一個實際的DDR4總線上的讀時序和寫時序。從兩張圖我們可 以看到,在實際的DDR總線上,讀時序、寫時序是同時存在的。而且對于讀或者寫時序來 說,DQS(數(shù)據(jù)鎖存信號)相對于DQ(數(shù)據(jù)信號)的位置也是不一樣的。對于測試來說,如果 沒有軟件的輔助,就需要人為分別捕獲不同位置的波形,并自己判斷每組Burst是讀操作還 是寫操作,再依據(jù)不同的讀/寫規(guī)范進行相應(yīng)參數(shù)的測試,因此測量效率很低,而且無法進行 大量的測量統(tǒng)計。
D D R 5 的 接 收 端 容 限 評 估 需 要 通 過 接 收 容 限 的 一 致 性 測 試 來 進 行 , 主 要 測 試 的 項 目 有 D Q 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時 序 容 限、DQ的壓力眼測試、DQ的均衡器特性等。
在DDR5的接收端容限測試中,也需要通過御用的測試夾具對被測件進行測試以及測試前的校準。展示了一套DDR5的DIMM條的測試夾具,包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等,可以通過SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號以及讓被測件進入環(huán)回模式。測試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號的引出。 DDR原理及物理層一致性測試;
由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達到3.2GT/s以上,DDR5的數(shù)據(jù)速率更高,所以對邏輯分析儀的要求也要很高,需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps 以上的數(shù)據(jù)速率?;诟咚龠壿嫹治鰞x的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過 DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀,相應(yīng)的適配器要經(jīng)過嚴格測試,確 保在其標稱的速率下不會因為信號質(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。DDR 設(shè)計可分為四個方面:仿真、互連設(shè)計、有源信號驗證和功能測試。重慶DDR一致性測試銷售電話
DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測試和分析工具箱。湖北DDR一致性測試HDMI測試
如果PCB的密度較高,有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設(shè)計時),這時就需要有合適的手段把關(guān)心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題,可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板,有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設(shè)計的適配器,使用時要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間,并通過轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設(shè)計,以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。湖北DDR一致性測試HDMI測試
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DDR簡介與信號和協(xié)議測試 DDR/LPDDR簡介 目前在計算機主板和各種嵌入式的應(yīng)用中,存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩 種: 一種是非易失性的,即掉電不會丟失數(shù)據(jù),常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲器速度較慢,主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等;另 一種是易失性的,即掉電會丟失數(shù)據(jù),常用的有RAM(Random Access Memory,隨機存儲 器),這種存儲器運行速度較快,主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲器類型的劃分。 擴展 DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件的功能。青海...