DDR總線一致性測試

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線一致性測量概述

高速數(shù)字系統(tǒng)使用了各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線，對這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線進行規(guī)范一致性測量是確 保系統(tǒng)工作穩(wěn)定和可靠的關(guān)鍵點之一?！耙恢滦浴笔菍τ⑽膯卧~“Compliance”的中文解釋， 美國把按工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進行的電氣參數(shù)測量叫作一致性測量。

測試這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線，完整和可靠的測試方案是非常重要的。完整的測試方案不僅保證測試準(zhǔn)確度，還可以大量節(jié)省測試時間，提高工作效率。

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線完整的測試方案一般包括幾部分：測試夾具；探頭和附件；自動測試軟件;測試儀器。 DDR原理及物理層一致性測試；江西DDR一致性測試維修電話

DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種： 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒，另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊，主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存，主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域，使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒有額外驅(qū)動電路，延時較小，但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個內(nèi)存顆粒時，UDIMM需要保證CPU到每個內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等，設(shè)計難度較大，因此UDIMM在容量和頻率上都較低，通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場合。 眼圖測試DDR一致性測試維修D(zhuǎn)DR、DDR2、DDR3 和 DDR4 設(shè)計與測試解決方案；

DDR簡介與信號和協(xié)議測試

DDR/LPDDR簡介

目前在計算機主板和各種嵌入式的應(yīng)用中，存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩 種： 一種是非易失性的，即掉電不會丟失數(shù)據(jù)，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-Only Memory),這種存儲器速度較慢，主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等；另 一種是易失性的，即掉電會丟失數(shù)據(jù)，常用的有RAM(Random Access Memory,隨機存儲 器),這種存儲器運行速度較快，主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市 面上一些主流存儲器類型的劃分。

對DDR5來說，設(shè)計更為復(fù)雜，仿真軟件需要幫助用戶通過應(yīng)用IBIS模型針對基于 DDR5顆?；駾IMM的系統(tǒng)進行仿真驗證，比如仿真驅(qū)動能力、隨機抖動/確定性抖動、寄 生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時間、AGC(自動增益控制)功能、4taps DFE(4抽頭 判決反饋均衡)等。

DDR的讀寫信號分離

對于DDR總線來說，真實總線上總是讀寫同時存在的。規(guī)范對于讀時序和寫時序的 相關(guān)時間參數(shù)要求是不一樣的，讀信號的測量要參考讀時序的要求，寫信號的測量要參考寫 時序的要求。因此要進行DDR信號的測試，第一步要做的是從真實工作的總線上把感興 趣的讀信號或者寫信號分離出來。JEDEC協(xié)會規(guī)定的DDR4總線的 一個工作時 序圖(參考資料： JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4),可以看到對于讀和寫信 號來說，DQS和DQ間的時序關(guān)系是不一樣的。 DDR-致性測試探測和夾具；

對于嵌入式應(yīng)用的DDR的協(xié)議測試， 一般是DDR顆粒直接焊接在PCB板上，測試可 以選擇針對邏輯分析儀設(shè)計的BGA探頭。也可以設(shè)計時事先在板上留測試點，把被測信 號引到一些按一定規(guī)則排列的焊盤上，再通過相應(yīng)探頭的排針頂在焊盤上進行測試。

協(xié)議測試也可以和信號質(zhì)量測試、電源測試結(jié)合起來，以定位由于信號質(zhì)量或電源問題 造成的數(shù)據(jù)錯誤。圖5.23是一個LPDDR4的調(diào)試環(huán)境，測試中用邏輯分析儀觀察總線上 的數(shù)據(jù)，同時用示波器檢測電源上的紋波和瞬態(tài)變化，通過把總線解碼的數(shù)據(jù)和電源瞬態(tài)變 化波形做時間上的相關(guān)和同步觸發(fā)，可以定位由于電源變化造成的總線讀/寫錯誤問題。 DDR3和 DDR4設(shè)計分成幾個方面：仿真、有源信號驗證和功能測試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測試解決方案。眼圖測試DDR一致性測試維修

DDR 設(shè)計、測試、驗證和一致性測試。江西DDR一致性測試維修電話

需要注意的是，由于DDR的總線上存在內(nèi)存控制器和內(nèi)存顆粒兩種主要芯片，所以 DDR的信號質(zhì)量測試理論上也應(yīng)該同時涉及這兩類芯片的測試。但是由于JEDEC只規(guī)定 了對于內(nèi)存顆粒這一側(cè)的信號質(zhì)量的要求，因此DDR的自動測試軟件也只對這一側(cè)的信 號質(zhì)量進行測試。對于內(nèi)存控制器一側(cè)的信號質(zhì)量來說，不同控制器芯片廠商有不同的要 求，目前沒有統(tǒng)一的規(guī)范，因此其信號質(zhì)量的測試還只能使用手動的方法。這時用戶可以在 內(nèi)存控制器一側(cè)選擇測試點，并借助合適的信號讀/寫分離手段來進行手動測試。江西DDR一致性測試維修電話

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