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DDR一致性測(cè)試基本參數(shù)
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DDR一致性測(cè)試企業(yè)商機(jī)

DDR總線上需要測(cè)試的參數(shù)高達(dá)上百個(gè),而且還需要根據(jù)信號(hào)斜率進(jìn)行復(fù)雜的查表修 正。為了提高DDR信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的效率,比較好使用御用的測(cè)試軟件進(jìn)行測(cè)試。使用自動(dòng) 測(cè)試軟件的優(yōu)點(diǎn)是:自動(dòng)化的設(shè)置向?qū)П苊膺B接和設(shè)置錯(cuò)誤;優(yōu)化的算法可以減少測(cè)試時(shí) 間;可以測(cè)試JEDEC規(guī)定的速率,也可以測(cè)試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率;自動(dòng)讀/寫(xiě)分離技 術(shù)簡(jiǎn)化了測(cè)試操作;能夠多次測(cè)量并給出一個(gè)統(tǒng)計(jì)的結(jié)果;能夠根據(jù)信號(hào)斜率自動(dòng)計(jì)算建 立/保持時(shí)間的修正值??焖?DDR4協(xié)議解碼功能.云南DDR一致性測(cè)試一致性測(cè)試

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D D R 5 的 接 收 端 容 限 評(píng) 估 需 要 通 過(guò) 接 收 容 限 的 一 致 性 測(cè) 試 來(lái) 進(jìn) 行 , 主 要 測(cè) 試 的 項(xiàng) 目 有 D Q 信 號(hào) 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號(hào) 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動(dòng) 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時(shí) 序 容 限、DQ的壓力眼測(cè)試、DQ的均衡器特性等。

在DDR5的接收端容限測(cè)試中,也需要通過(guò)御用的測(cè)試夾具對(duì)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)試以及測(cè)試前的校準(zhǔn)。展示了一套DDR5的DIMM條的測(cè)試夾具,包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等,可以通過(guò)SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號(hào)以及讓被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式。測(cè)試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號(hào)的引出。 四川DDR一致性測(cè)試服務(wù)熱線DDR4/LPDDR4 一致性測(cè)試;

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通常測(cè)量眼圖很有效的一種方法就是使用示波器的眼圖測(cè)量功能,即用時(shí)鐘做觸發(fā)對(duì)數(shù) 據(jù)信號(hào)進(jìn)行累積,看累積結(jié)果的差情況是否在可以容許的范圍內(nèi)。但遺憾的是,想用這種 方法直接測(cè)量DDR的信號(hào)質(zhì)量非常困難,因?yàn)镈DR信號(hào)讀寫(xiě)時(shí)序是不一樣的。

可以看到,寫(xiě)數(shù)據(jù)(DQ)的跳變位置對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)(DQS)的中心,而 讀數(shù)據(jù)的跳變位置卻對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)的邊沿,而且在總線上還有三態(tài),因此如果直接用DQS 觸發(fā)對(duì)DQ累積進(jìn)行眼圖測(cè)量的話,會(huì)得到的結(jié)果。

如果PCB的密度較高,有可能期望測(cè)量的引腳附近根本找不到合適的過(guò)孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設(shè)計(jì)時(shí)),這時(shí)就需要有合適的手段把關(guān)心的BGA引腳上的信號(hào)盡可能無(wú)失真地引出來(lái)。為了解決這種探測(cè)的難題,可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板,有時(shí)也稱為BGA探頭)。這是一個(gè)專門設(shè)計(jì)的適配器,使用時(shí)要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間,并通過(guò)轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測(cè)信號(hào)引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設(shè)計(jì),以盡可能減小信號(hào)分叉對(duì)信號(hào)的影響。一個(gè)DDR的BGA探頭的典型使用場(chǎng)景。DDR、DDR2、DDR3 和 DDR4 設(shè)計(jì)與測(cè)試解決方案;

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DDR5的接收端容限測(cè)試

前面我們?cè)诮榻BUSB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測(cè)試時(shí)提到過(guò)很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器,因此需要進(jìn)行接收容限的測(cè)試以驗(yàn)證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號(hào) 下 的 表 現(xiàn) 。 對(duì) 于 D D R 來(lái) 說(shuō) , D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對(duì) 比 較 簡(jiǎn) 單 , 只 是 做 一 些 匹配、時(shí)延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時(shí)代(圖5 . 19),由于信號(hào)速率更高,因此接收端也 開(kāi) 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術(shù) , 這 也 使 得 D D R 5 測(cè) 試 中必須關(guān)注接收均衡器的影響,這是之前的DDR測(cè)試中不曾涉及的。 DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測(cè)試。四川DDR一致性測(cè)試服務(wù)熱線

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DDR系統(tǒng)設(shè)計(jì)過(guò)程,以及將實(shí)際的設(shè)計(jì)需求和DDR規(guī)范中的主要性能指標(biāo)相結(jié)合,我們以一個(gè)實(shí)際的設(shè)計(jì)分析實(shí)例來(lái)說(shuō)明,如何在一個(gè)DDR系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,解讀并使用DDR規(guī)范中的參數(shù),應(yīng)用到實(shí)際的系統(tǒng)設(shè)計(jì)中。某項(xiàng)目中,對(duì)DDR系統(tǒng)的功能模塊細(xì)化框圖。在這個(gè)系統(tǒng)中,對(duì)DDR的設(shè)計(jì)需求如下。

整個(gè)DDR功能模塊由四個(gè)512MB的DDR芯片組成,選用Micron的DDR存諸芯片MT46V64M8BN-75。每個(gè)DDR芯片是8位數(shù)據(jù)寬度,構(gòu)成32位寬的2GBDDR存諸單元,地址空間為Add<13..0>,分四個(gè)Bank,尋址信號(hào)為BA<1..0>。 云南DDR一致性測(cè)試一致性測(cè)試

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