由于DDR5工作時鐘比較高到3.2GHz,系統(tǒng)裕量很小，因此信號的 隨機和確定性抖動對于數(shù)據(jù)的正確傳輸至關重要，需要考慮熱噪聲引入的RJ、電源噪聲引 入的PJ、傳輸通道損耗帶來的DJ等影響。DDR5的測試項目比DDR4也更加復雜。比如 其新增了nUI抖動測試項目，并且需要像很多高速串行總線一樣對抖動進行分解并評估 RJ、DJ等不同分量的影響。另外，由于高速的DDR5芯片內部都有均衡器芯片，因此實際 進行信號波形測試時也需要考慮模擬均衡器對信號的影響。圖5.16展示了典型的DDR5 和LPDDR5測試軟件的使用界面和一部分測試結果。DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。江西DDR一致性測試檢查

前面介紹過，JEDEC規(guī)范定義的DDR信號的要求是針對DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉接板的方 式，其測試到的信號與芯片引腳處的信號也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號質量， 一種常用的方法是在示波器中對PCB走線和測試夾具的影響進行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個鏈路上各部分的S參數(shù)模型 文件(通常通過仿真或者實測得到),并根據(jù)實際測試點和期望觀察到的點之間的傳輸函數(shù)， 來計算期望位置處的信號波形，再對這個信號做進一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計。展示了典型的DDR4和DDR5信號質量測試環(huán)境，以及在示波器中進行去嵌入操作的 界面。河北DDR一致性測試PCI-E測試DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測試。

10Gbase-T總線測量為例做簡單介紹。

10Gbase-T總線的測量需要按照圖7-128來連接各種儀器和測試夾具。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時抖動/時鐘頻率要求用實時示波器測試；線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測試；回波損耗要求用網絡分析儀測試。

需要自動化測試軟件進行各種參數(shù)測試，一般這個軟件直接裝在示波器內置的計算機里。 沒有自動測試軟件，測試是異常困難和耗時的工作。

測試夾具是測試系統(tǒng)的重要組成部分，測試儀器公司或一些專業(yè)的公司會提供工業(yè)標準 總線所用的測試夾具。當然也可以自己設計，自己設計時主要關注阻抗匹配、損耗、串擾等 電氣參數(shù)，以及機械連接方面的連接可靠性和可重復性等可操作性功能。

DDR總線概覽

從測試角度看，因為DQS和DQ都是三態(tài)信 號，在PCB走線上雙向傳輸。在讀操作時，DQS信號的邊沿在時序上與DQ的信號邊沿處對 齊，而在寫操作時，DQS信號的邊沿在時序上與DQ信號的中心處對齊，參考圖7-132,這給 測試驗證帶來了巨大的挑戰(zhàn)：把讀信號與寫信號分開是非常困難的！

址/命令總線是時鐘的上升沿有效，其中，命令由/CS （片選）、/RAS、 /CAS、/WE （寫使能）決定，比如讀命令為LHLH,寫命令為LHLL等。操作命令有很多， 主要是 NOP （空操作）、Active （）、Write> Read^ Precharge （Bank 關閉）、Auto Refresh 或Self Refresh （自動刷新或自刷新）等（詳細內容請參考《Jedec規(guī)范JESD79）））。數(shù)據(jù)總 線由DQS的上升沿和下降沿判斷數(shù)據(jù)DQ的0與1。

DDR總線PCB走線多，速度快，時序和操作命令復雜，很容易出現(xiàn)失效問題，為此我 們經常用示波器進行DDR總線的信號完整性測試和分析。通常的測試內容包括：時鐘總線的 信號完整性測試分析；地址、命令總線的信號完整性測試分析；數(shù)據(jù)總線的信號完整性測試 分析。下面從這三個方面分別討論DDR總線的信號完整性測試和分析技術。 D9050DDRC DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件.

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。DDR4 一致性測試軟件；江西DDR一致性測試高速信號傳輸

擴展 DDR5 發(fā)射機合規(guī)性測試軟件的功能。江西DDR一致性測試檢查

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數(shù)量很多，雖然逐 個測試是嚴格的方法，但花費時間較多，所以有時用戶會選擇一些有代表性的信號進行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號進行測試。

還有些用戶想在溫箱里對DDR信號質量進行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對于使用的示波器探頭也是個挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會被損壞。如果要在溫箱里對信號進行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內提供1.5GHz的測量帶寬。 江西DDR一致性測試檢查

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