前面介紹過，JEDEC規(guī)范定義的DDR信號(hào)的要求是針對(duì)DDR顆粒的引腳上的，但 是通常DDR芯片采用BGA封裝，引腳無法直接測試到。即使采用了BGA轉(zhuǎn)接板的方 式，其測試到的信號(hào)與芯片引腳處的信號(hào)也仍然有一些差異。為了更好地得到芯片引腳 處的信號(hào)質(zhì)量， 一種常用的方法是在示波器中對(duì)PCB走線和測試夾具的影響進(jìn)行軟件的 去嵌入(De-embedding)操作。去嵌入操作需要事先知道整個(gè)鏈路上各部分的S參數(shù)模型 文件(通常通過仿真或者實(shí)測得到),并根據(jù)實(shí)際測試點(diǎn)和期望觀察到的點(diǎn)之間的傳輸函數(shù)， 來計(jì)算期望位置處的信號(hào)波形，再對(duì)這個(gè)信號(hào)做進(jìn)一步的波形參數(shù)測量和統(tǒng)計(jì)。展示了典型的DDR4和DDR5信號(hào)質(zhì)量測試環(huán)境，以及在示波器中進(jìn)行去嵌入操作的 界面。什么是DDR DDR2 DDR3 DDR4 DDR5;青海USB測試DDR一致性測試

我們看到，在用通用方法進(jìn)行的眼圖測試中，由于信號(hào)的讀寫和三態(tài)都混在一起，因此很難對(duì)信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。要進(jìn)行信號(hào)的評(píng)估，第1步是要把讀寫信號(hào)分離出來。傳統(tǒng)上有幾種方法用來進(jìn)行讀寫信號(hào)的分離，但都存在一定的缺陷。可以利用讀寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā)，但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限，因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的，而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣，則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離，如圖7-138中間 的圖片所示，但是如果讀寫信號(hào)幅度差別不大，則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號(hào)來分離讀寫，但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè)，只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求，比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列，對(duì)于用戶示波器的要求比較高。青海USB測試DDR一致性測試DDR命令、地址和地址總線的建立時(shí)間和保持時(shí)間定義。

(2)根據(jù)讀/寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測試時(shí)可能讀/寫信號(hào)的幅度不太一樣，可以基于幅度進(jìn)行觸發(fā)分離。但是 這種方法對(duì)于走線長度不長或者讀/寫信號(hào)幅度差別不大的場合不太適用。

(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號(hào)進(jìn)行分離。這種方法使用控制信號(hào)的讀/寫  來判決當(dāng)前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時(shí)連接多個(gè)控制信號(hào)以及Clk、 DQS、DQ等信號(hào)，要求示波器的通道數(shù)多于4個(gè)，只有帶數(shù)字通道的混合信號(hào)示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號(hào)波形。

DDR總線一致性測試

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線一致性測量概述

高速數(shù)字系統(tǒng)使用了各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線，對(duì)這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線進(jìn)行規(guī)范一致性測量是確 保系統(tǒng)工作穩(wěn)定和可靠的關(guān)鍵點(diǎn)之一。“一致性”是對(duì)英文單詞“Compliance”的中文解釋， 美國把按工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行的電氣參數(shù)測量叫作一致性測量。

測試這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線，完整和可靠的測試方案是非常重要的。完整的測試方案不僅保證測試準(zhǔn)確度，還可以大量節(jié)省測試時(shí)間，提高工作效率。

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線完整的測試方案一般包括幾部分：測試夾具；探頭和附件；自動(dòng)測試軟件;測試儀器。 DDR眼圖測試及分析DDR穩(wěn)定性測試\DDR2一致性測試；

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會(huì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對(duì)于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號(hào)是一樣的。DDR5 一致性測試應(yīng)用軟件。吉林DDR一致性測試系列

DDR測試信號(hào)問題排查；青海USB測試DDR一致性測試

在實(shí)際探測時(shí)，對(duì)于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(hào)(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號(hào)，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號(hào)是單端信號(hào)，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號(hào)的數(shù)量很多，雖然逐 個(gè)測試是嚴(yán)格的方法，但花費(fèi)時(shí)間較多，所以有時(shí)用戶會(huì)選擇一些有代表性的信號(hào)進(jìn)行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號(hào)進(jìn)行測試。

還有些用戶想在溫箱里對(duì)DDR信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對(duì)于使用的示波器探頭也是個(gè)挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會(huì)被損壞。如果要在溫箱里對(duì)信號(hào)進(jìn)行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測量帶寬。 青海USB測試DDR一致性測試

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