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企業(yè)商機(jī)
DDR3測(cè)試基本參數(shù)
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DDR3測(cè)試企業(yè)商機(jī)

· 工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),Specification:如果所設(shè)計(jì)的功能模塊要實(shí)現(xiàn)某種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接口或者協(xié)議,那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),讀懂規(guī)范之后,才能開始設(shè)計(jì)。

因此,為實(shí)現(xiàn)本設(shè)計(jì)實(shí)例中的 DDR 模塊,需要的技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設(shè)計(jì) DDR 存儲(chǔ)模塊,那么在所有的資料當(dāng)中,應(yīng)該較早了解 DDR 規(guī)范。通過(guò)對(duì) DDR 規(guī)范文件「JEDEC79R」的閱讀,我們了解到,設(shè)計(jì)一個(gè) DDR 接口,需要滿足規(guī)范中規(guī)定的 DC,AC 特性及信號(hào)時(shí)序特征。下面我們從設(shè)計(jì)規(guī)范要求和器件本身特性兩個(gè)方面來(lái)解讀,如何在設(shè)計(jì)中滿足設(shè)計(jì)要求。 DDR3內(nèi)存的一致性測(cè)試包括哪些內(nèi)容?河北校準(zhǔn)DDR3測(cè)試

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 如果模型文件放在其他目錄下,則可以選擇菜單Analyze-Model Browser..,在界面里面單擊 Set Search Path按鈕,然后在彈出的界面里添加模型文件所在的目錄。

選擇菜單Analyze —Model Assignment..,在彈出的模型設(shè)置界面中找到U100 (Controller)來(lái)設(shè)置模型。

在模型設(shè)置界面中選中U100后,單擊Find Model...按鈕,在彈出來(lái)的界面中刪除 工具自認(rèn)的模型名BGA1295-40,將其用“*”取代,再單擊空白處或按下Tab鍵,在列岀的 模型文件中選中。

單擊Load按鈕,加載模型。

加載模型后,選擇文件下的Controller器件模型,然后單擊Assign 按鈕,將這個(gè)器件模型賦置給U100器件。 甘肅DDR3測(cè)試測(cè)試流程如何監(jiān)控DDR3內(nèi)存模塊的溫度進(jìn)行一致性測(cè)試?

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單擊Next按鈕,出現(xiàn)Setup Trace Check Wizard窗口,確保網(wǎng)絡(luò)組的所有網(wǎng)絡(luò)都被選中, 單擊Finish按鈕。

  單擊Save File with Error Check保存文件,保存結(jié)束后,單擊Start Simulation開始仿 真。仿真完成后,仿真結(jié)果包括Workflow中Results and Report的所有內(nèi)容。如果在Setup Trace Check Parameters 的步驟 net selection 時(shí)選的是 check all signal nets 或者 check all enabled signal nets 模式,那么仿真結(jié)果只有 Net Impedance Summary 和 Net Co叩ling Summaryo

  單擊Net Impedance Summary,出現(xiàn)阻抗總結(jié)表格,包括網(wǎng)絡(luò)序號(hào)、網(wǎng)絡(luò)名稱、無(wú)參 考平面的走線數(shù)目、回流不連續(xù)的走線數(shù)目、過(guò)孔數(shù)目、比較大阻抗值、小阻抗值、主導(dǎo)阻 抗值、主導(dǎo)阻抗走線長(zhǎng)度百分比、走線總長(zhǎng)度、走線延時(shí)。

為了改善地址信號(hào)多負(fù)載多層級(jí)樹形拓?fù)湓斐傻男盘?hào)完整性問題,DDR3/4的地址、控制、命令和時(shí)鐘信號(hào)釆用了Fly-by的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)種優(yōu)化了負(fù)載樁線的菊花鏈拓?fù)?。另外,在主板加?nèi)存條的系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,DDR2的地址命令和控制信號(hào)一般需要在主板上加匹配電阻,而DDR3則將終端匹配電阻設(shè)計(jì)在內(nèi)存條上,在主板上不需要額外電阻,這樣可以方便主板布線,也可以使匹配電阻更靠近接收端。為了解決使用Fly-by拓?fù)鋵绗F(xiàn)的時(shí)鐘信號(hào)和選通信號(hào)“等長(zhǎng)”問題,DDR3/4采用了WriteLeveling技術(shù)進(jìn)行時(shí)序補(bǔ)償,這在一定程度上降低了布線難度,特別是弱化了字節(jié)間的等長(zhǎng)要求。不同于以往DDRx使用的SSTL電平接口,新一代DDR4釆用了POD電平接口,它能夠有效降低單位比特功耗。DDR4內(nèi)存也不再使用SlewRateDerating技術(shù),降低了傳統(tǒng)時(shí)序計(jì)算的復(fù)雜度。如何解決DDR3一致性測(cè)試期間出現(xiàn)的錯(cuò)誤?

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DDR3一致性測(cè)試是一種用于檢查和驗(yàn)證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測(cè)試方法。通過(guò)進(jìn)行一致性測(cè)試,可以確保內(nèi)存模塊在工作過(guò)程中能夠按照預(yù)期的方式讀取、寫入和傳輸數(shù)據(jù)。

一致性測(cè)試通常涵蓋以下方面:

電氣特性測(cè)試:對(duì)內(nèi)存模塊的電壓、時(shí)鐘頻率、時(shí)序等電氣特性進(jìn)行測(cè)試,以確保其符合規(guī)范要求。

讀寫測(cè)試:驗(yàn)證內(nèi)存模塊的讀取和寫入功能是否正常,并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。

數(shù)據(jù)一致性檢查:通過(guò)檢查讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)期的數(shù)據(jù)是否一致來(lái)驗(yàn)證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準(zhǔn)確性。

時(shí)序一致性測(cè)試:確認(rèn)內(nèi)存模塊的時(shí)序設(shè)置是否正確,并檢查內(nèi)存模塊對(duì)不同命令和操作的響應(yīng)是否符合規(guī)范。

并發(fā)訪問測(cè)試:測(cè)試內(nèi)存模塊在并發(fā)訪問和多任務(wù)環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。

一致性測(cè)試有助于檢測(cè)潛在的內(nèi)存問題,如數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤、時(shí)序不一致、并發(fā)訪問等,以確保內(nèi)存模塊在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的正常運(yùn)行。這種測(cè)試可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性,并減少不一致性可能帶來(lái)的數(shù)據(jù)損壞或系統(tǒng)故障。 DDR3一致性測(cè)試需要運(yùn)行多長(zhǎng)時(shí)間?廣西DDR3測(cè)試安裝

如果DDR3一致性測(cè)試失敗,是否需要更換整組內(nèi)存模塊?河北校準(zhǔn)DDR3測(cè)試

瀏覽選擇控制器的IBIS模型,切換到Bus Definition選項(xiàng)卡,單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮,將鼠標(biāo)移動(dòng)到Signal Names下方高亮處,單擊 出現(xiàn)的字母E,打開Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號(hào),單擊0K按鈕確認(rèn)。

同樣,在Timing Ref下方高亮處,單擊出現(xiàn)的字母E打開TimingRef列表。在這個(gè)列表 窗口左側(cè),用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)選DQS差分線的正端,用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)選負(fù)端,單擊中間的“>>”按 鈕將選中信號(hào)加入TimingRefs,單擊OK按鈕確認(rèn)。

很多其他工具都忽略選通Strobe信號(hào)和時(shí)鐘Clock信號(hào)之間的時(shí)序分析功能,而SystemSI可以分析包括Strobe和Clock在內(nèi)的完整的各類信號(hào)間的時(shí)序關(guān)系。如果要仿真分析選通信號(hào)Strobe和時(shí)鐘信號(hào)Clock之間的時(shí)序關(guān)系,則可以設(shè)置與Strobe對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)。在Clock 下方的高亮處,單擊出現(xiàn)的字母E打開Clock列表。跟選擇與Strobe -樣的操作即可選定時(shí) 鐘信號(hào)。 河北校準(zhǔn)DDR3測(cè)試

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常見的信號(hào)質(zhì)量包括閾值電平、Overshoot、Undershoot、Slew Rate> tDVAC等,DDRx 信號(hào)質(zhì)量的每個(gè)參數(shù)JEDEC都給出了明確的規(guī)范。比如DDR3要求Overshoot和Undershoot 分別為0.4V,也就是說(shuō)信號(hào)幅值P?P值應(yīng)該在-0.4-1.9V,但在實(shí)際應(yīng)用中由于不適合信號(hào) 端接使DDR信號(hào)質(zhì)量變差,通過(guò)仿真就可以找出合適端接,使信號(hào)質(zhì)量滿足JEDEC規(guī)范。 下面以DDR3 1066Mbps信號(hào)為例,通過(guò)一個(gè)實(shí)際案例說(shuō)明DDR3信號(hào)質(zhì)量仿真。 在本案例中客戶反映實(shí)測(cè)CLK信號(hào)質(zhì)量不好。CLK信號(hào)從CUP (U100)出來(lái)經(jīng)過(guò)4片 DDR3 (...

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