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企業(yè)商機
DDR測試基本參數(shù)
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  • DDR測試
DDR測試企業(yè)商機

DDR測試

由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達到3.2GT/s以上,DDR5的數(shù)據(jù)速率更高,所以對邏輯分析儀的要求也很高,需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀,相應(yīng)的適配器要經(jīng)過嚴格測試,確保在其標稱的速率下不會因為信號質(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。 DDR2總線上的信號波形;山西信息化DDR測試

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4)將Vref的去耦電容靠近Vref管腳擺放;Vtt的去耦電容擺放在遠的一個SDRAM外端;VDD的去耦電容需要靠近器件擺放。小電容值的去耦電容需要更靠近器件擺放。正確的去耦設(shè)計中,并不是所有的去耦電容都是靠近器件擺放的。所有的去耦電容的管腳都需要扇出后走線,這樣可以減少阻抗,通常,兩端段的扇出走線會垂直于電容布線。5)當(dāng)切換平面層時,盡量做到長度匹配和加入一些地過孔,這些事先應(yīng)該在EDA工具里進行很好的仿真。通常,在時域分析來看,差分線的正負兩根線要做到延時匹配,保證其誤差在+/-2ps,而其它的信號要做到+/-10ps。DDR測試配件用DDR的BGA探頭引出測試信號;

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DDR5發(fā)送端測試隨著信號速率的提升,SerDes技術(shù)開始在DDR5中采用,如會采用DFE均衡器改善接收誤碼率,另外DDR總線在發(fā)展過程中引入訓(xùn)練機制,不再是簡單的要求信號間的建立保持時間,在DDR4的時始使用眼圖的概念,在DDR5時代,引入抖動成分概念,從成因上區(qū)分解Rj,Dj等,對芯片或系統(tǒng)設(shè)計提供更具體的依據(jù);在抖動的參數(shù)分析上,也增加了一些新的抖動定義參數(shù),并有嚴苛的測量指標。針對這些要求,提供了完整的解決方案。UXR示波器,配合D9050DDRC發(fā)射機一致性軟件,及高阻RC探頭MX0023A,及Interposer,可以實現(xiàn)對DDR信號的精確表征。

4.時延匹配在做到時延的匹配時,往往會在布線時采用trombone方式走線,另外,在布線時難免會有切換板層的時候,此時就會添加一些過孔。不幸的是,但所有這些彎曲的走線和帶過孔的走線,將它們拉直變?yōu)榈乳L度理想走線時,此時它們的時延是不等的,

顯然,上面講到的trombone方式在時延方面同直走線的不對等是很好理解的,而帶過孔的走線就更加明顯了。在中心線長度對等的情況下,trombone走線的時延比直走線的實際延時是要來的小的,而對于帶有過孔的走線,時延是要來的大的。這種時延的產(chǎn)生,這里有兩種方法去解決它。一種方法是,只需要在EDA工具里進行精確的時延匹配計算,然后控制走線的長度就可以了。而另一種方法是在可接受的范圍內(nèi),減少不匹配度。對于trombone線,時延的不對等可以通過增大L3的長度而降低,因為并行線間會存在耦合,其詳細的結(jié)果,可以通過SigXP仿真清楚的看出,L3長度的不同,其結(jié)果會有不同的時延,盡可能的加長S的長度,則可以更好的降低時延的不對等。對于微帶線來說,L3大于7倍的走線到地的距離是必須的。 DDR存儲器信號和協(xié)議測試;

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DDR測試

DDR的信號仿真驗證由于DDR芯片都是采用BGA封裝,密度很高,且分叉、反射非常嚴重,因此前期的仿真是非常必要的。是借助仿真軟件中專門針對DDR的仿真模型庫仿真出的通道損耗以及信號波形。仿真出信號波形以后,許多用戶需要快速驗證仿真出來的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī)范要求。這時,可以把軟件仿真出的DDR的時域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測試軟件中,并生成相應(yīng)的一致性測試報告,這樣可以保證仿真和測試分析方法的一致,并且便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號違規(guī)。 DDR4信號完整性測試案例;山西信息化DDR測試

借助協(xié)議解碼軟件看DDR的會出現(xiàn)數(shù)據(jù)有那些;山西信息化DDR測試

trombone線的時延是受到其并行走線之間的耦合而影響,一種在不需要提高其間距的情況下,并且能降低耦合的程度的方法是采用sawtooth線。顯然,sawtooth線比trombone線具有更好的效果。但是,依來看它需要更多的空間。由于各種可能造成時延不同的原因,所以,在實際的設(shè)計時,要借助于CAD工具進行嚴格的計算,從而控制走線的時延匹配??紤]到在圖2中6層板上的過孔的因素,當(dāng)一個地過孔靠近信號過孔放置時,則在時延方面的影響是必須要考慮的。先舉個例子,在TOP層的微帶線長度是150mils,BOTTOM層的微帶線也是150mils,線寬都為4mils,且過孔的參數(shù)為:barreldiameter=”8mils”,paddiameter=”18mils”,anti-paddiameter=”26mils”。山西信息化DDR測試

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江蘇DDR測試方案商 2025-04-28

DDR測試 測試軟件運行后,示波器會自動設(shè)置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一個測試報告,測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。圖5.17是自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以輔助用戶進行內(nèi)存參數(shù)的配置,比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對信號質(zhì)量的影響。除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關(guān)鍵參數(shù)測試失敗后,可以針對這個參數(shù)進行Debug。此時,測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波...

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