DDR3: DDR3釆用SSTL_15接口,I/O 口工作電壓為1.5V;時鐘信號頻率為400? 800MHz;數(shù)據(jù)信號速率為800?1600Mbps,通過差分選通信號雙沿釆樣;地址/命令/控制信 號在1T模式下速率為400?800Mbps,在2T模式下速率為200?400Mbps;數(shù)據(jù)和選通信號 仍然使用點(diǎn)對點(diǎn)或樹形拓?fù)洌瑫r鐘/地址/命令/控制信號則改用Fly-by的拓?fù)洳季€;數(shù)據(jù)和選 通信號有動態(tài)ODT功能;使用Write Leveling功能調(diào)整時鐘和選通信號間因不同拓?fù)湟鸬?延時偏移,以滿足時序要求。進(jìn)行DDR3一致性測試時如何準(zhǔn)備備用內(nèi)存模塊?信息化DDR3測試芯片測試
所示的窗口有Pin Mapping和Bus Definition兩個選項卡,Pin Mapping跟IBIS 規(guī)范定義的Pin Mapping 一樣,它指定了每個管腳對應(yīng)的Pullup> Pulldown、GND Clamp和 Power Clamp的對應(yīng)關(guān)系;Bus Definition用來定義總線Bus和相關(guān)的時鐘參考信號。對于包 含多個Component的IBIS模型,可以通過右上角Component T拉列表進(jìn)行選擇。另外,如果 提供芯片每條I/O 口和電源地網(wǎng)絡(luò)的分布參數(shù)模型,則可以勾選Explicit IO Power and Ground Terminals選項,將每條I/O 口和其對應(yīng)的電源地網(wǎng)絡(luò)對應(yīng)起來,以更好地仿真SSN效應(yīng),這 個選項通常配合Cadence XcitePI的10 Model Extraction功能使用。甘肅校準(zhǔn)DDR3測試DDR3內(nèi)存的一致性測試可以修復(fù)一致性問題嗎?
DDR(Double Data Rate)是一種常見的動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(DRAM)技術(shù),它提供了較高的數(shù)據(jù)傳輸速度和帶寬。以下是DDR系統(tǒng)的概述:
架構(gòu):DDR系統(tǒng)由多個組件組成,包括主板、內(nèi)存控制器、內(nèi)存槽和DDR內(nèi)存模塊。主板上的內(nèi)存控制器負(fù)責(zé)管理和控制DDR內(nèi)存模塊的讀寫操作。數(shù)據(jù)傳輸方式:DDR采用雙倍數(shù)據(jù)傳輸率,即在每個時鐘周期內(nèi)進(jìn)行兩次數(shù)據(jù)傳輸,相比于單倍數(shù)據(jù)傳輸率(SDR),DDR具有更高的帶寬。在DDR技術(shù)中,數(shù)據(jù)在上升沿和下降沿時都進(jìn)行傳輸,從而實(shí)現(xiàn)雙倍數(shù)據(jù)傳輸。速度等級:DDR技術(shù)有多個速度等級,如DDR-200、DDR-400、DDR2-800、DDR3-1600等。速度等級表示內(nèi)存模塊的速度和帶寬,通常以頻率來表示(例如DDR2-800表示時鐘頻率為800 MHz)。不同的速度等級對應(yīng)著不同的數(shù)據(jù)傳輸速度和性能。
單擊Impedance Plot (expanded),展開顯示所有網(wǎng)絡(luò)走線的阻抗彩圖。雙擊彩圖 上的任何線段,對應(yīng)的走線會以之前定義的顏色在Layout窗口中高亮顯示。
單擊Impedance Table,可以詳細(xì)查看各個網(wǎng)絡(luò)每根走線詳細(xì)的阻抗相關(guān)信息,內(nèi) 容包括走線名稱、走線長度百分比、走線阻抗、走線長度、走線距離發(fā)送端器件的距離、走 線延時,
單擊Impedance Overlay in Layout,可以直接在Layout視圖中查看走線的阻抗。在 Layer Selection窗口中單擊層名稱,可以切換到不同層查看走線阻抗視圖。 何時需要將DDR3內(nèi)存模塊更換為新的?
"DDRx"是一個通用的術(shù)語,用于表示多種類型的動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(DRAM)標(biāo)準(zhǔn),包括DDR2、DDR3和DDR4等。這里的"x"可以是任意一個數(shù)字,了不同的DDR代數(shù)。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)在速度、帶寬、電氣特性等方面都有所不同,以適應(yīng)不斷增長的計算需求和技術(shù)發(fā)展。下面是一些常見的DDR標(biāo)準(zhǔn):DDR2:DDR2是第二代DDR技術(shù),相比于DDR,它具有更高的頻率和帶寬,以及更低的功耗。DDR2還引入了一些新的技術(shù)和功能,如多通道架構(gòu)和前瞻性預(yù)充電(prefetch)。DDR3:DDR3是第三代DDR技術(shù),進(jìn)一步提高了頻率和帶寬,并降低了功耗。DDR3內(nèi)存模塊具有更高的密度和容量,可以支持更多的內(nèi)存。DDR4:DDR4是第四代DDR技術(shù),具有更高的頻率和帶寬,較低的電壓和更高的密度。DDR4內(nèi)存模塊相對于之前的DDR3模塊來說,能夠提供更大的容量和更高的性能。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)都會有自己的規(guī)范和時序要求,以確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性。DDR技術(shù)在計算機(jī)系統(tǒng)、服務(wù)器、嵌入式設(shè)備等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,能夠提供快速和高效的數(shù)據(jù)訪問和處理能力。DDR3一致性測試期間如何設(shè)置測試環(huán)境?信息化DDR3測試芯片測試
是否可以通過重新插拔DDR3內(nèi)存模塊解決一致性問題?信息化DDR3測試芯片測試
從DDR1、DDR2、DDR3至U DDR4,數(shù)據(jù)率成倍增加,位寬成倍減小,工作電壓持續(xù)降 低,而電壓裕量從200mV減小到了幾十毫伏??偟膩碚f,隨著數(shù)據(jù)傳輸速率的增加和電壓裕 量的降低,DDRx內(nèi)存子系統(tǒng)對信號完整性、電源完整性及時序的要求越來越高,這也給系 統(tǒng)設(shè)計帶來了更多、更大的挑戰(zhàn)。
Bank> Rank及內(nèi)存模塊
1.BankBank是SDRAM顆粒內(nèi)部的一種結(jié)構(gòu),它通過Bank信號BA(BankAddress)控制,可以把它看成是對地址信號的擴(kuò)展,主要目的是提高DRAM顆粒容量。對應(yīng)于有4個Bank的內(nèi)存顆粒,其Bank信號為BA[1:O],而高容量DDR2和DDR3顆粒有8個Bank,對應(yīng)Bank信號為BA[2:0],在DDR4內(nèi)存顆粒內(nèi)部有8個或16個Bank,通過BA信號和BG(BankGroup)信號控制。2GB容量的DDR3SDRAM功能框圖,可以從中看到芯片內(nèi)部由8個Bank組成(BankO,Bankl,…,Bank7),它們通過BA[2:0]這三條信號進(jìn)行控制。 信息化DDR3測試芯片測試
單擊Next按鈕,出現(xiàn)Setup Trace Check Wizard窗口,確保網(wǎng)絡(luò)組的所有網(wǎng)絡(luò)都被選中, 單擊Finish按鈕。 單擊Save File with Error Check保存文件,保存結(jié)束后,單擊Start Simulation開始仿 真。仿真完成后,仿真結(jié)果包括Workflow中Results and Report的所有內(nèi)容。如果在Setup Trace Check Parameters 的步驟 net selection 時選的是 check all signal nets 或者 check all enabled signal nets 模式,那么仿真結(jié)果...