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光斑分析儀基本參數(shù)
  • 品牌
  • 維度光電
  • 型號
  • 相機式/狹縫式光斑分析儀DL-BH
  • 尺寸
  • 29×29×30
  • 產(chǎn)地
  • 深圳
  • 可售賣地
  • 全球
  • 是否定制
  • 材質(zhì)
  • 鋁合金
  • 配送方式
  • 空運
  • 波長范圍(nm)
  • 400~1100/400~1700/900~2700nm
  • 可測光斑大小
  • 2.5~11um
  • 狹縫款測量模式
  • 狹縫/刀口
  • 狹縫掃描速度
  • 2~20hz
  • 功率范圍
  • 1uw~10w(可擴展至1000W)
  • 相機款分辨率
  • 656×520/2048×2048
  • 相機像元尺寸
  • 5.5um
  • M2因子測試模塊波長
  • 190~2700nm
  • M2因子測試模塊行程
  • 200mm
  • M2因子測試模塊透鏡焦距(mm)
  • 100
光斑分析儀企業(yè)商機

在激光應用領域,高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏,在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和,常規(guī)激光器功率遠超此強度,不衰減光束不僅無法測量光斑信息,還可能損壞設備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng)。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 的高功率激光,無需額外衰減片。在此基礎上,還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件,可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配,可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1,45° 傾斜設計,取樣率 4% - 5%,有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結構,能測量任意角度入射激光;雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2,內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡,取樣率 0.16% - 0.25%,可應對 400W 功率光束,多面體結構有多個支撐安裝孔位。組合安裝配件可進一步衰減更高功率激光,大衰減程度達 10??。而且其緊湊結構的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求,單次取樣 68mm,雙次取樣 53mm,為各類激光應用場景的檢測提供了方案。光斑的形狀和強度測量。維度科技光斑分析儀軟件

光斑分析儀

BeamHere 分析軟件作為組件,支持多設備協(xié)同工作:掃描數(shù)據(jù)自動校準、光斑模式智能識別、M2 因子三維重建。通過機器學習算法,可自動補償環(huán)境光干擾與溫度漂移。通過可視化界面,用戶可實時查看光斑能量分布云圖、發(fā)散角變化曲線及束腰位置動態(tài)圖,支持多參數(shù)聯(lián)動分析。軟件內(nèi)置模板庫,一鍵生成包含 20 + 參數(shù)的標準化報告,支持 PDF/Excel/XML 多格式導出,并支持數(shù)據(jù)追溯與批量處理,歷史數(shù)據(jù)可自動關聯(lián)測試條件,縮短測試周期。企業(yè)版支持用戶權限分級管理與數(shù)據(jù)加密。光束直徑光斑分析儀制造商用于激光加工測試的光斑質(zhì)量分析儀。

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維度光電國產(chǎn)光束質(zhì)量分析解決方案破局之路 國內(nèi)激光光束質(zhì)量分析市場長期被歐美品牌壟斷,存在三大痛點:產(chǎn)品型號單一(無法兼顧亞微米光斑與高功率檢測)、定制周期漫長(3-6 個月周期)、服務響應滯后(返廠維修影響生產(chǎn) 35 天 / 次)。 全場景產(chǎn)品矩陣 狹縫式:0.1μm 分辨率,直接測 10W 激光,支持 ±90° 任意角度掃描,滿足半導體加工等亞微米級需求 相機式:5.5μm 像元精度,6 片濾光片轉(zhuǎn)輪實現(xiàn) 1μW-1W 寬功率檢測,擅長復雜光斑分析 定制化服務:12 項定制選項(波長擴展、自動化接口等),短交付周期 5 天 未來將聚焦多模態(tài)光束分析與智能化診斷,為智能制造、醫(yī)療科技等提供技術支撐。

Dimension-Labs 推出 Beamhere 光束質(zhì)量分析系統(tǒng),針對激光加工、醫(yī)療設備等領域的光束質(zhì)量評估需求。該系列產(chǎn)品通過多維度檢測模塊,可對光束能量分布進行實時可視化分析,同步獲取發(fā)散角、M2 因子等參數(shù)。支持光束整形效果驗證、聚焦光斑優(yōu)化及準直系統(tǒng)校準三大典型應用場景,所有測試結果均符合 ISO11146 標準。可選配的 M2 測試模塊可實現(xiàn)光束傳播特性的全程分析,終由軟件自動生成量化評估報告。 產(chǎn)品優(yōu)勢: 滿足測試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測試模塊 精心設計的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡單易用,一鍵輸出測試報告。如何利用光斑分析儀和 M2 因子測量模塊評估激光光束的質(zhì)量?

維度科技光斑分析儀軟件,光斑分析儀

維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性價比光束質(zhì)量檢測解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機式及 M2 測試模塊三大產(chǎn)品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術,支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實現(xiàn)亞微米級光斑細節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機制使其無需外置衰減片即可直接測量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場景。 相機式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實時成像與動態(tài)分析,可測量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設計實現(xiàn)功率范圍擴展,可拆卸結構支持科研成像功能拓展。 M2 測試模塊適配全系產(chǎn)品,通過 ISO 11146 標準算法測量光束傳播參數(shù)(M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等),結合 BeamHere 軟件實現(xiàn)一鍵生成報告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設計滿足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領域的光斑檢測需求,兼顧實驗室與產(chǎn)線在線監(jiān)測場景。國產(chǎn)的 M2 因子測量模塊哪家強?光斑大小光斑分析儀光斑測試

用于準直器生產(chǎn)的光斑質(zhì)量分析儀。維度科技光斑分析儀軟件

維度光電深刻認識到高功率光束檢測在激光應用中的性和難度。大多數(shù)光斑分析儀使用的面陣傳感器在**功率下就會飽和,而常規(guī)激光器功率普遍較高,這使得大功率光束檢測成為激光應用的難點。為解決這一問題,維度光電推出 BeamHere 光斑分析儀系列和大功率光束取樣系統(tǒng)。掃描狹縫式光斑分析儀憑借創(chuàng)新的狹縫物理衰減機制,可直接測量近 10W 高功率激光,保障了測試過程的安全與高效。為應對更高功率,又推出單次和雙次取樣配件,可疊加使用形成多次取樣系統(tǒng)。搭配合適衰減片,可測功率超 1000W。單次取樣配件 DL - LBA - 1,取樣率 4% - 5%,采用 45° 傾斜設計和 C 口安裝,有鎖緊環(huán)可固定在任意方向測量不同角度入射激光;雙次取樣配件 DL - LBA - 2,取樣率 0.16% - 0.25%,內(nèi)部兩片取樣透鏡緊湊安裝,能應對 400W 功率光束,多面體結構便于工業(yè)或?qū)嶒灜h(huán)境安裝。組合安裝配件可獲得高衰減程度,實現(xiàn)更高功率激光測量。同時,其緊湊結構設計的取樣光程滿足聚焦光斑測量,單次 68mm,雙次 53mm,為激光生產(chǎn)提供了強大的檢測支持。維度科技光斑分析儀軟件

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