Dimension-Labs 為激光設(shè)備與生產(chǎn)企業(yè)推出 Beamhere 光束質(zhì)量管家。該系統(tǒng)通過(guò)智能檢測(cè)模塊,可快速完成光斑能量分布測(cè)繪、發(fā)散角計(jì)算及 M2 因子分析,幫助用戶(hù)優(yōu)化光束整形效果、提升聚焦精度。所有測(cè)試參數(shù)均符合 ISO11146 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),包含光斑寬度、質(zhì)心位置等指標(biāo)。可選配的 M2 測(cè)試功能可動(dòng)態(tài)分析光束傳播特性,終由軟件自動(dòng)生成專(zhuān)業(yè)測(cè)試報(bào)告,將傳統(tǒng)人工檢測(cè)效率提升 80% 以上。 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì): 滿(mǎn)足測(cè)試需求的全系列產(chǎn)品 適配所有Beamhere光斑分析儀的M M2因子測(cè)試模塊 精心設(shè)計(jì)的分析軟件 軟件真正做到交互友好,簡(jiǎn)單易用,一鍵輸出測(cè)試報(bào)告。光斑分析儀保修期多長(zhǎng)?維度光電整機(jī) 3 年質(zhì)保,部件 5 年延保。近場(chǎng)光斑光斑分析儀購(gòu)買(mǎi)
使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開(kāi)展光斑與光束質(zhì)量測(cè)量的流程 系統(tǒng)搭建:將 BeamHere 相機(jī)式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑,通過(guò)支架調(diào)節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設(shè)備與電腦,安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅(qū)動(dòng)校準(zhǔn)。 數(shù)據(jù)采集:開(kāi)啟半導(dǎo)體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài),軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式,設(shè)置曝光時(shí)間 50μs,幀率 100fps,同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉。 參數(shù)提?。很浖詣?dòng)識(shí)別光斑區(qū)域,計(jì)算 FWHM 直徑(XY 軸)、橢圓率、能量集中度等 12 項(xiàng)基礎(chǔ)參數(shù),同時(shí)基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法生成 M2 因子、瑞利長(zhǎng)度等光束質(zhì)量指標(biāo)。 可視化分析:切換至 3D 視圖旋轉(zhuǎn)觀察能量分布,通過(guò) "刀邊法" 驗(yàn)證光斑對(duì)稱(chēng)性,標(biāo)記異常區(qū)域進(jìn)行局部放大分析。 報(bào)告輸出:點(diǎn)擊 "生成報(bào)告" 按鈕,自動(dòng)插入測(cè)試日期、激光器參數(shù)、測(cè)量曲線等內(nèi)容,支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導(dǎo)出。光斑大小光斑分析儀怎么收費(fèi)光斑分析儀如何測(cè)量 M2 因子?
維度光電致力于激光領(lǐng)域的應(yīng)用,將展示一系列針對(duì)千瓦級(jí)高功率、微米級(jí)小光斑以及脈沖激光的光束質(zhì)量測(cè)量解決方案。在此次展示中,我們將拆解光斑分析儀的全系列產(chǎn)品,深度剖析其技術(shù),從光學(xué)原理到智能算法,為您層層揭秘。通過(guò)實(shí)際操作演示,直觀展現(xiàn)產(chǎn)品在復(fù)雜工況下的良好的穩(wěn)定性和超高測(cè)量精度。 我們將詳細(xì)介紹光斑分析儀的工作原理,包括其光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、信號(hào)處理技術(shù)以及數(shù)據(jù)處理算法等環(huán)節(jié)。同時(shí),我們還將展示光斑分析儀在不同應(yīng)用場(chǎng)景中的表現(xiàn),例如在工業(yè)生產(chǎn)、科研探索以及質(zhì)量檢測(cè)等方面的實(shí)際應(yīng)用案例。通過(guò)這些案例,您可以了解到光斑分析儀如何在各種復(fù)雜環(huán)境下保持高穩(wěn)定性和高測(cè)量精度。 此外,針對(duì)工業(yè)生產(chǎn)和科研探索的不同需求,我們還將分享一系列精心打造的一站式完備方案。這些方案不僅包括光斑分析儀,還涵蓋了其他相關(guān)設(shè)備和軟件,旨在為您提供專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持和服務(wù)。我們的目標(biāo)是幫助您突破技術(shù)瓶頸,在激光領(lǐng)域取得新的突破,從而推動(dòng)整個(gè)行業(yè)的發(fā)展。
Dimension-Labs 維度光電相機(jī)式光斑分析儀系列覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍,實(shí)現(xiàn)可見(jiàn)光與近紅外波段光斑的實(shí)時(shí)檢測(cè)。其優(yōu)勢(shì)包括: 動(dòng)態(tài)分析能力 支持 2D 光斑實(shí)時(shí)成像與 3D 功率分布動(dòng)態(tài)顯示,高幀率(100fps)連續(xù)測(cè)量模式可捕捉光斑瞬態(tài)變化,3D 視圖支持任意角度旋轉(zhuǎn)分析,為光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試提供直觀數(shù)據(jù)支持。 復(fù)雜光斑適應(yīng)性 基于面陣傳感器技術(shù),可測(cè)量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)及含高階橫模的復(fù)雜光斑,突破傳統(tǒng)掃描式設(shè)備的局限性。 功率調(diào)節(jié) 標(biāo)配 6 片不同衰減率的濾光片(0.1%-100%),通過(guò)轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)一鍵切換,可測(cè)功率達(dá) 10W/cm2,滿(mǎn)足從弱光器件到高功率激光的全量程需求。 科研級(jí)擴(kuò)展性 采用模塊化設(shè)計(jì),相機(jī)與濾光片轉(zhuǎn)輪可分離使用。拆卸后的相機(jī)兼容通用驅(qū)動(dòng)軟件,支持科研成像、光譜分析等擴(kuò)展應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)工業(yè)檢測(cè)與實(shí)驗(yàn)室的一機(jī)多用。可用于產(chǎn)線檢測(cè)的光斑分析儀。
維度光電推出的 BeamHere 光斑分析儀系列提供高性?xún)r(jià)比光束質(zhì)量檢測(cè)解決方案,涵蓋掃描狹縫式、相機(jī)式及 M2 測(cè)試模塊三大產(chǎn)品線: 掃描狹縫式光斑分析儀采用國(guó)內(nèi)的刀口 / 狹縫雙模式切換技術(shù),支持 190-2700nm 寬光譜范圍,可測(cè)量 2.5μm-10mm 光束直徑,0.1μm 超高分辨率實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)光斑細(xì)節(jié)捕捉。創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制使其無(wú)需外置衰減片即可直接測(cè)量近 10W 高功率激光,適用于激光加工等高能量場(chǎng)景。 相機(jī)式光斑分析儀覆蓋 400-1700nm 波段,支持 2D/3D 實(shí)時(shí)成像與動(dòng)態(tài)分析,可測(cè)量非高斯光束(如平頂、貝塞爾光束)。獨(dú)特的六濾光片轉(zhuǎn)輪設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展,可拆卸結(jié)構(gòu)支持科研成像功能拓展。 M2 測(cè)試模塊適配全系產(chǎn)品,通過(guò) ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法測(cè)量光束傳播參數(shù)(M2 因子、發(fā)散角、束腰位置等),結(jié)合 BeamHere 軟件實(shí)現(xiàn)一鍵生成報(bào)告、多參數(shù)同步分析。系統(tǒng)以模塊化設(shè)計(jì)滿(mǎn)足光通信、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域的光斑檢測(cè)需求,兼顧實(shí)驗(yàn)室與產(chǎn)線在線監(jiān)測(cè)場(chǎng)景。光斑分析儀維護(hù)成本?維度光電遠(yuǎn)程指導(dǎo)維修,降低 80% 人工成本。激光聚焦直徑光斑分析儀軟件
脈沖激光光束質(zhì)量怎么測(cè)檢測(cè)?維度光電,超快激光器研發(fā)利器。近場(chǎng)光斑光斑分析儀購(gòu)買(mǎi)
Dimension-Labs 維度光電相機(jī)式與狹縫式光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場(chǎng)景的光斑尺寸、功率等級(jí)、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度。相機(jī)式基于面陣傳感器成像,可測(cè)大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元),結(jié)合 6 片衰減片(BeamHere 標(biāo)配)實(shí)現(xiàn) 1W 功率測(cè)量,適合大光斑、脈沖激光(觸發(fā)模式同步捕獲單脈沖)及非高斯光束(如貝塞爾光束)檢測(cè),通過(guò)面陣實(shí)時(shí)反饋保留復(fù)雜形態(tài)細(xì)節(jié)。狹縫式采用正交狹縫掃描,刀口模式可測(cè)小 2.5μm 光斑,創(chuàng)新狹縫物理衰減機(jī)制允許直接測(cè)量近 10W 高功率激光,適合亞微米光斑、高功率及高斯光斑檢測(cè),但需嚴(yán)格匹配掃描頻率與激光重頻以避免脈沖丟失,且復(fù)雜光斑會(huì)因狹縫累加導(dǎo)致能量分布失真。維度光電 BeamHere 系列提供雙技術(shù)方案,用戶(hù)可根據(jù)光斑尺寸(亞微米選狹縫,大光斑選相機(jī))、功率等級(jí)(高功率選狹縫,微瓦級(jí)選相機(jī))及光斑類(lèi)型(復(fù)雜形態(tài)選相機(jī),高斯光斑選狹縫)靈活選擇,實(shí)現(xiàn)光斑檢測(cè)全場(chǎng)景覆蓋。近場(chǎng)光斑光斑分析儀購(gòu)買(mǎi)