維度光電致力于激光領(lǐng)域的應(yīng)用，將展示一系列針對千瓦級高功率、微米級小光斑以及脈沖激光的光束質(zhì)量測量解決方案。在此次展示中，我們將拆解光斑分析儀的全系列產(chǎn)品，深度剖析其技術(shù)，從光學(xué)原理到智能算法，為您層層揭秘。通過實際操作演示，直觀展現(xiàn)產(chǎn)品在復(fù)雜工況下的良好的穩(wěn)定性和超高測量精度。 我們將詳細(xì)介紹光斑分析儀的工作原理，包括其光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計、信號處理技術(shù)以及數(shù)據(jù)處理算法等環(huán)節(jié)。同時，我們還將展示光斑分析儀在不同應(yīng)用場景中的表現(xiàn)，例如在工業(yè)生產(chǎn)、科研探索以及質(zhì)量檢測等方面的實際應(yīng)用案例。通過這些案例，您可以了解到光斑分析儀如何在各種復(fù)雜環(huán)境下保持高穩(wěn)定性和高測量精度。 此外，針對工業(yè)生產(chǎn)和科研探索的不同需求，我們還將分享一系列精心打造的一站式完備方案。這些方案不僅包括光斑分析儀，還涵蓋了其他相關(guān)設(shè)備和軟件，旨在為您提供專業(yè)的技術(shù)支持和服務(wù)。我們的目標(biāo)是幫助您突破技術(shù)瓶頸，在激光領(lǐng)域取得新的突破，從而推動整個行業(yè)的發(fā)展。微弱信號光斑如何檢測？維度光電動態(tài)范圍增強(qiáng)算法，突破探測器極限，同步清晰成像。脈沖激光光斑分析儀原理

在激光應(yīng)用領(lǐng)域，高功率光束檢測一直是個難題。傳統(tǒng)面陣傳感器十分靈敏，在每平方厘米約 10μW 的功率水平下就會飽和，常規(guī)激光器功率遠(yuǎn)超此強(qiáng)度，不衰減光束不僅無法測量光斑信息，還可能損壞設(shè)備。維度光電為此推出 BeamHere 光斑分析儀系列及適配的高功率光束取樣系統(tǒng)。其掃描狹縫式光斑分析儀采用創(chuàng)新的狹縫物理衰減機(jī)制，可直接測量近 10W 的高功率激光，無需額外衰減片。在此基礎(chǔ)上，還推出單次取樣與雙次取樣兩款衰減配件，可組裝疊加形成多次取樣系統(tǒng)。與合適衰減片搭配，可測功率超 1000W。單次取樣配件型號 DL - LBA - 1，45° 傾斜設(shè)計，取樣率 4% - 5%，有 C 口安裝方式和鎖緊環(huán)結(jié)構(gòu)，能測量任意角度入射激光；雙次取樣配件型號 DL - LBA - 2，內(nèi)部緊湊安裝兩片取樣透鏡，取樣率 0.16% - 0.25%，可應(yīng)對 400W 功率光束，多面體結(jié)構(gòu)有多個支撐安裝孔位。組合安裝配件可進(jìn)一步衰減更高功率激光，大衰減程度達(dá) 10??。而且其緊湊結(jié)構(gòu)的取樣光程能滿足聚焦光斑測量需求，單次取樣 68mm，雙次取樣 53mm，為各類激光應(yīng)用場景的檢測提供了方案。激光加工光斑分析儀如何評判激光質(zhì)量的好壞？

維度光電BeamHere 光斑分析儀系列，提供全場景激光光束質(zhì)量分析解決方案。產(chǎn)品覆蓋 190-2700nm 光譜，包括掃描狹縫式和相機(jī)式技術(shù)，實現(xiàn)亞微米至毫米級光斑測量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測，具備 0.1μm 分辨率，適用于高功率激光。相機(jī)式提供 400-1700nm 響應(yīng)，實現(xiàn) 2D/3D 成像分析，測量功率范圍 1μW-1W。M2 因子測試模塊基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)，評估光束質(zhì)量。軟件提供自動化分析和標(biāo)準(zhǔn)化報告。技術(shù)創(chuàng)新包括正交狹縫轉(zhuǎn)動輪結(jié)構(gòu)和適應(yīng)復(fù)雜光斑的面陣傳感器。產(chǎn)品適用于光束整形檢驗、光鑷系統(tǒng)檢測和準(zhǔn)直監(jiān)測。結(jié)構(gòu)設(shè)計優(yōu)化，通過 CE/FCC 認(rèn)證，應(yīng)用于多個領(lǐng)域，助力光束質(zhì)量分析和工藝優(yōu)化。

Dimension-Labs 推出的相機(jī)式光斑分析儀系列包含兩個型號，覆蓋 400-1700nm 寬光譜范圍，實現(xiàn)可見光與近紅外波段光斑的實時顯示與分析。其優(yōu)勢如下： 寬光譜覆蓋與動態(tài)分析 單臺設(shè)備即可滿足 400-1700nm 全波段測量需求，支持 2D 光斑實時成像與 3D 功率分布動態(tài)分析。高幀率連續(xù)測量模式下，可實時捕捉光斑變化并生成任意視角的 3D 視圖，為光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試、動態(tài)測試及時間監(jiān)控提供直觀數(shù)據(jù)支持。 復(fù)雜光斑適應(yīng)性 基于面陣傳感器的成像原理，可測量非高斯分布光束（如平頂、貝塞爾光束）及含高階橫模的復(fù)雜光斑，突破傳統(tǒng)掃描式設(shè)備的局限性。 功率調(diào)節(jié)系統(tǒng) 標(biāo)配 6 片不同衰減率的濾光片，通過獨特的轉(zhuǎn)輪結(jié)構(gòu)實現(xiàn)功率范圍擴(kuò)展，可測功率提升 100 倍。一鍵切換濾光片設(shè)計簡化操作流程，兼顧寬量程與高精度需求。 科研級功能拓展 采用模塊化可拆卸設(shè)計，光斑分析相機(jī)與濾光片轉(zhuǎn)輪可分離使用。拆卸后的相機(jī)兼容通用驅(qū)動軟件，支持科研成像、光譜分析等擴(kuò)展應(yīng)用，實現(xiàn)工業(yè)檢測與實驗室的一機(jī)多用。激光光束質(zhì)量評判標(biāo)準(zhǔn)，測量儀器都有哪些。

選擇適合特定應(yīng)用的 BeamHere 光斑分析儀需綜合考量光束特性、應(yīng)用場景及功能需求： 1. 光束特性分析 光斑尺寸：亞微米級光斑（如半導(dǎo)體加工）優(yōu)先選擇狹縫式（支持 2.5μm 精度），毫米級光斑（如激光焊接）推薦相機(jī)式（覆蓋 10mm 量程）。 功率等級：高功率激光（如工業(yè)切割）應(yīng)選狹縫式（直接測量近 10W），微瓦級弱光（如科研實驗）可采用相機(jī)式（通過 6 片衰減片適配）。 光束形態(tài)：高斯或規(guī)則光斑兩者均可（狹縫式更經(jīng)濟(jì)），非高斯光束（如貝塞爾光束）需相機(jī)式保留細(xì)節(jié)。 脈沖特性：單脈沖分析選相機(jī)式（觸發(fā)同步），連續(xù)或高頻脈沖適配狹縫式（需匹配掃描頻率）。 2. 應(yīng)用場景適配 工業(yè)制造：高功率加工（>1W）選狹縫式，動態(tài)監(jiān)測與大光斑校準(zhǔn)選相機(jī)式，組合方案可覆蓋全流程需求。 醫(yī)療設(shè)備：眼科準(zhǔn)分子激光需相機(jī)式實時監(jiān)測能量分布，脈沖激光適配觸發(fā)模式，確保手術(shù)精度。 ：超短脈沖測量、復(fù)雜光束分析（如 M2 因子）依賴相機(jī)式，材料加工優(yōu)化可結(jié)合狹縫式高精度掃描。 光通信：光纖端面檢測選相機(jī)式分析光斑形態(tài)，激光器表征適配狹縫式高靈敏度測量。光斑分析儀國產(chǎn)替代都有哪些廠家？近紅外光斑分析儀測量

工業(yè)光斑檢測儀如何選？維度光電；脈沖激光光斑分析儀原理

使用維度光電BeamHere 光斑分析儀開展光斑與光束質(zhì)量測量的流程 系統(tǒng)搭建：將 BeamHere 相機(jī)式光斑分析儀的傳感器置于激光束路徑，通過支架調(diào)節(jié)位置確保光斑完整覆蓋 sensor。使用 USB 3.0 數(shù)據(jù)線連接設(shè)備與電腦，安裝 BeamHere V3.2 軟件并完成驅(qū)動校準(zhǔn)。 數(shù)據(jù)采集：開啟半導(dǎo)體激光器至穩(wěn)定輸出狀態(tài)，軟件選擇 "連續(xù)采集" 模式，設(shè)置曝光時間 50μs，幀率 100fps，同步觸發(fā)激光器確保單脈沖捕捉。 參數(shù)提?。很浖詣幼R別光斑區(qū)域，計算 FWHM 直徑（XY 軸）、橢圓率、能量集中度等 12 項基礎(chǔ)參數(shù)，同時基于 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)算法生成 M2 因子、瑞利長度等光束質(zhì)量指標(biāo)。 可視化分析：切換至 3D 視圖旋轉(zhuǎn)觀察能量分布，通過 "刀邊法" 驗證光斑對稱性，標(biāo)記異常區(qū)域進(jìn)行局部放大分析。 報告輸出：點擊 "生成報告" 按鈕，自動插入測試日期、激光器參數(shù)、測量曲線等內(nèi)容，支持 PDF/A4 排版或自定義 LOGO 導(dǎo)出。脈沖激光光斑分析儀原理