按照測試規(guī)范的要求，在發(fā)送信號質量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質量測試就算過關；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設計， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復的“01” 碼型，通過對這些碼型的計算和處理，測試軟件可以方便地進行預加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？PCI-E測試銷售電話

要精確產生PCle要求的壓力眼圖需要調整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數(shù)的調 整需要反復進行以得到 一個比較好化的組合。校準中會調用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達到要求，會在誤碼儀中進 一步調整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達到參數(shù)要求。云南信息化PCI-E測試PCI-e體系的拓撲結構;

PCIe4.0的發(fā)射機質量測試發(fā)射機質量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發(fā)射機質量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗證其信號質量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應為25GHz或以上。如果要進行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質量測試組網圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIGPCIE 3.0的發(fā)射機物理層測試；

簡單總結一下，PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術上的相同點和不同點有：(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率；(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式；(3)發(fā)送端都采用3階預加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡；(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸，多1個連接器，更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應對鏈路損耗以及不同鏈路的情況，新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態(tài)鏈路協(xié)商功能；PCI-e 3.0簡介及信號和協(xié)議測試方法；云南信息化PCI-E測試

PCI-E3.0定義了11種發(fā)送端的預加重設置，實際應用中應該用那個？PCI-E測試銷售電話

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設計都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。PCI-E測試銷售電話