克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等方面測試服務(wù)。PCIE 3.0的發(fā)射機(jī)物理層測試；山東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析，測試效率 比較低，而且對(duì)于不熟練的測試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測試結(jié)果的不一致，測試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測試的效率和測試項(xiàng)目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測試軟件。貴州測量PCI-E測試3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？

當(dāng)鏈路速率不斷提升時(shí)，給接收端留的信號(hào)裕量會(huì)越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號(hào)經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_(dá)接收端，并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV,  小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小  的鏈路裕量下，必須仔細(xì)調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是，預(yù)  加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模  式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6～ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整，并且允許  2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素，實(shí)際情況下的預(yù)加  重和均衡器參數(shù)的組合可以達(dá)幾千種。

對(duì)于PCIe來說，由于長鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?山東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

為什么PCI-E3.0的一致性測試碼型和PCI-E2.0不一樣？山東信號(hào)完整性測試PCI-E測試

另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測試中，都還需要用到能 與被測件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信  號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預(yù)加  重組合，同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制，并對(duì)接收回來的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決，在進(jìn)行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項(xiàng)目  與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié)  內(nèi)容，其相關(guān)的測試軟件通常也和接收容限的測試軟件集成在一起。山東信號(hào)完整性測試PCI-E測試