在測(cè)試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法，即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接，但是由于會(huì)引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中，對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法，即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試，這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIGPCI-E 3.0測(cè)試接收端容限測(cè)試；四川PCI-E測(cè)試推薦貨源

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合，PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變  得更加復(fù)雜，系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設(shè)計(jì)和測(cè)試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。山東DDR測(cè)試PCI-E測(cè)試pcie4.0和pcie2.0區(qū)別？

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類型的板卡，針對(duì)一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號(hào)的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動(dòng)、周期抖動(dòng)等，以滿足眼高、眼寬和抖動(dòng)的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會(huì)相互制約，比如調(diào)整信號(hào)的幅度時(shí)除了會(huì)影響眼高也會(huì)影響到眼寬，因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會(huì)調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對(duì)信號(hào) 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會(huì)在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動(dòng)和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試？

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測(cè)試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測(cè)試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測(cè)試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測(cè)試夾具、1塊可 變ISI的測(cè)試夾具。在測(cè)試中，CBB4用于插卡的TX測(cè)試以及主板RX測(cè)試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測(cè)試以及插卡RX測(cè)試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測(cè)試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無(wú)論是哪種測(cè)試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測(cè)試夾具的原因是在PCIe4.0 的測(cè)試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。多個(gè)cpu socket的系統(tǒng)時(shí)，如何枚舉的？山東DDR測(cè)試PCI-E測(cè)試

PCIe如何解決PCI體系結(jié)構(gòu)存在的問題的呢？四川PCI-E測(cè)試推薦貨源

在物理層方面，PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸，每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。四川PCI-E測(cè)試推薦貨源