在測(cè)試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法,即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接,但是由于會(huì)引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中,對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類(lèi)似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法,即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試,這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過(guò)PCI-SIGPCI-E 3.0測(cè)試發(fā)送端變化;重慶PCI-E測(cè)試安裝
在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘,并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱(chēng) 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘,但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出,采用類(lèi)似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無(wú)法引出,則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。黑龍江通信PCI-E測(cè)試多個(gè)cpu socket的系統(tǒng)時(shí),如何枚舉的?
隨著數(shù)據(jù)速率的提高,芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來(lái)越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡(jiǎn)單的去加重(De-emphasis)技術(shù),即信號(hào)的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號(hào)時(shí)對(duì)跳變比特(信號(hào)中的高頻成分)加大幅度發(fā)送,這樣可以部分補(bǔ)償傳輸線路對(duì)高 頻成分的衰減,從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重,2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對(duì)于3代和4代技術(shù)來(lái)說(shuō),由于信號(hào)速率更高,需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù),因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外,在跳變比特的前 1個(gè)比特也要增大幅度發(fā)送,這個(gè)增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對(duì)復(fù)雜的鏈路環(huán)境,
SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡,而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整,所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,測(cè)試效率 比較低,而且對(duì)于不熟練的測(cè)試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測(cè)試結(jié)果的不一致,測(cè)試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測(cè)試的效率和測(cè)試項(xiàng)目覆蓋 率,有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試軟件。PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試;
另外,在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測(cè)試中,都還需要用到能 與被測(cè)件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信 號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測(cè)試需要的不同Preset的預(yù)加 重組合,同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制,并對(duì)接收回來(lái)的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決,在進(jìn)行測(cè)試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測(cè)試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目 與下面要介紹的接收容限測(cè)試的連接和組網(wǎng)方式比較類(lèi)似,所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié) 內(nèi)容,其相關(guān)的測(cè)試軟件通常也和接收容限的測(cè)試軟件集成在一起。PCI-E測(cè)試和協(xié)議調(diào)試;重慶PCI-E測(cè)試安裝
PCI-E3.0的接收端測(cè)試中的Repeater起作用?重慶PCI-E測(cè)試安裝
PCIe4.0的接收端容限測(cè)試在PCIel.0和2.0的時(shí)代,接收端測(cè)試不是必需的,通常只要保證發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開(kāi)始,由于速率更高,所以接收端使用了均衡技術(shù)。由于接收端更加復(fù)雜而且其均衡的有效性會(huì)影響鏈路傳輸?shù)目煽啃裕越邮斩说娜菹逌y(cè)試變成了必測(cè)的項(xiàng)目。所謂接收容限測(cè)試,就是要驗(yàn)證接收端對(duì)于惡劣信號(hào)的容忍能力。這就涉及兩個(gè)問(wèn)題,一個(gè)是惡劣信號(hào)是怎么定義的,另一個(gè)是怎么判斷被測(cè)系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號(hào)。重慶PCI-E測(cè)試安裝
關(guān)于各測(cè)試項(xiàng)目的具體描述如下:·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)質(zhì)量,針對(duì)2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)中的脈沖寬度抖動(dòng),針對(duì)16Gbps速率。·項(xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)的Preset值是否正確,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:...