并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖，這個分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實 際測試到的眼圖從實現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點和誤碼數(shù)統(tǒng)計等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？安徽PCI-E測試推薦貨源

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設備傳輸層的協(xié)議行為。·PlatformBIOSTesting(平臺BIOS測試):用于檢查主板BIOS識別和配置PCIe外設的能力。對于PCIe4.0來說，針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性，替換或增加了以下測試項目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)?！aneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對電氣特性測試，又有專門的物理層測試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測試項目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進行的物理層測試項目,其中灰色背景的測試項目都涉及鏈路協(xié)商功能。中國澳門PCI-E測試HDMI測試PCI-E3.0定義了11種發(fā)送端的預加重設置，實際應用中應該用那個？

PCIe4.0的接收端容限測試在PCIel.0和2.0的時代，接收端測試不是必需的，通常只要保證發(fā)送端的信號質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開始，由于速率更高，所以接收端使用了均衡技術。由于接收端更加復雜而且其均衡的有效性會影響鏈路傳輸?shù)目煽啃?，所以接收端的容限測試變成了必測的項目。所謂接收容限測試，就是要驗證接收端對于惡劣信號的容忍能力。這就涉及兩個問題，一個是惡劣信號是怎么定義的，另一個是怎么判斷被測系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號。

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預加重和均衡功能也越來越復雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術，即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術來說，由于信號速率更高，需要采用更加 復雜的去加重技術，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應對復雜的鏈路環(huán)境，PCIE3.0和PCIE4.0應該如何選擇？

·項目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗證插卡能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質(zhì)量，針對16Gbps速率?！ろ椖?.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗證主板發(fā)送信號質(zhì)量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?！ろ椖?.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ椖?.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗證插卡對于鏈路協(xié)商的響應時間，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ椖?.10SystemLaneMarginingat16GT/s:驗證主板能通過LaneMargining功能反映接收到的信號質(zhì)量，針對16Gbps速率?！ろ椖?.11AddinCardReceiverLinkEqualizationTest:驗證插卡在壓力信號下的接收機性能及誤碼率，要求可以和對端進行鏈路協(xié)商并相應調(diào)整對端的預加重，針對8Gbps和16Gbps速率。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？校準PCI-E測試維修價格

PCIe如何解決PCI體系結構存在的問題的呢？安徽PCI-E測試推薦貨源

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時鐘源給被測件提供參考時鐘，并且只需要對 數(shù)據(jù)線進行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時鐘，但參考時鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時需要把參考時鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時鐘且參考時鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進行特殊處理。安徽PCI-E測試推薦貨源

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