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企業(yè)商機
PCI-E測試基本參數(shù)
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  • 克勞德
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  • PCI-E測試
PCI-E測試企業(yè)商機

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬:41.25ps+0/—2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:46mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬:45ps+0/-2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:50mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時,信號的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進(jìn)行,人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題,接收端容限測試時也會使用自動測試軟件,這個軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)А⒖刂?誤碼儀和示波器完成自動校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài),并自動進(jìn)行環(huán)回數(shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計。圖4 . 18是典型自動校準(zhǔn)和接收容限測試軟件的界面,以及相應(yīng)的測試如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?機械PCI-E測試檢修

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簡單總結(jié)一下,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點和不同點有:(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率;(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式;(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,多1個連接器,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態(tài)鏈路協(xié)商功能;多端口矩陣測試PCI-E測試價格優(yōu)惠PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化;

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PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些

相應(yīng)地,在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中,也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的參考時鐘,可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時)提供便利,但由于收發(fā)端參考時鐘不同源,所 以對于收發(fā)端的設(shè)計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡,保證*終的發(fā)射機 抖動指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構(gòu),以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-e體系的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);

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為了克服大的通道損耗,PCle5.0接收端的均衡能力也會更強一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個極點和2個零點,其直流增益可以在-5~ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整,以精確補償通道損耗的  影響。同時,為了更好地補償信號反射、串?dāng)_的影響,其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對于發(fā)射端來說,PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大, 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么?假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么?機械PCI-E測試檢修

PCI-E 3.0測試接收端容限測試;機械PCI-E測試檢修

如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。

PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動測試。 機械PCI-E測試檢修

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關(guān)于各測試項目的具體描述如下:·項目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗證插卡發(fā)送信號質(zhì)量,針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動,針對16Gbps速率?!ろ椖?.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:...

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