2.PCB的疊層(stackup)和阻抗對(duì)于一塊受PCB層數(shù)約束的基板(如4層板)來(lái)說(shuō),其所有的信號(hào)線只能走在TOP和BOTTOM層,中間的兩層,其中一層為GND平面層,而另一層為VDD平面層,Vtt和Vref在VDD平面層布線。而當(dāng)使用6層來(lái)走線時(shí),設(shè)計(jì)一種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)變得更加容易,同時(shí)由于Power層和GND層的間距變小了,從而提高了電源完整性?;ヂ?lián)通道的另一參數(shù)阻抗,在DDR2的設(shè)計(jì)時(shí)必須是恒定連續(xù)的,單端走線的阻抗匹配電阻50Ohms必須被用到所有的單端信號(hào)上,且做到阻抗匹配,而對(duì)于差分信號(hào),100Ohms的終端阻抗匹配電阻必須被用到所有的差分信號(hào)終端,比如CLOCK和DQS信號(hào)。另外,所有的匹配電阻必須上拉到VTT,且保持50Ohms,ODT的設(shè)置也必須保持在50Ohms。在DDR3的設(shè)計(jì)時(shí),單端信號(hào)的終端匹配電阻在40和60Ohms之間可選擇的被設(shè)計(jì)到ADDR/CMD/CNTRL信號(hào)線上,這已經(jīng)被證明有很多的優(yōu)點(diǎn)。而且,上拉到VTT的終端匹配電阻根據(jù)SI仿真的結(jié)果的走線阻抗,電阻值可能需要做出不同的選擇,通常其電阻值在30-70Ohms之間。而差分信號(hào)的阻抗匹配電阻始終在100Ohms。DDR信號(hào)的讀寫(xiě)分離方法;吉林DDR測(cè)試銷售價(jià)格
DDR測(cè)試信號(hào)和協(xié)議測(cè)試
DDR4一致性測(cè)試工作臺(tái)(用示波器中的一致性測(cè)試軟件分析DDR仿真波形)對(duì)DDR5來(lái)說(shuō),設(shè)計(jì)更為復(fù)雜,仿真軟件需要幫助用戶通過(guò)應(yīng)用IBIS模型針對(duì)基于DDR5顆?;駾IMM的系統(tǒng)進(jìn)行仿真驗(yàn)證,比如仿真驅(qū)動(dòng)能力、隨機(jī)抖動(dòng)/確定性抖動(dòng)、寄生電容、片上端接ODT、信號(hào)上升/下降時(shí)間、AGC(自動(dòng)增益控制)功能、4tapsDFE(4抽頭判決反饋均衡)等。
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
地址:深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 測(cè)量DDR測(cè)試市場(chǎng)價(jià)價(jià)格走勢(shì)主流DDR內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)的比較;
這里有三種方案進(jìn)行對(duì)比考慮:一種是,通過(guò)過(guò)孔互聯(lián)的這個(gè)過(guò)孔附近沒(méi)有任何地過(guò)孔,那么,其返回路徑只能通過(guò)離此過(guò)孔250mils的PCB邊緣來(lái)提供;第二種是,一根長(zhǎng)達(dá)362mils的微帶線;第三種是,在一個(gè)信號(hào)線的四周有四個(gè)地過(guò)孔環(huán)繞著。圖6顯示了帶有60Ohm的常規(guī)線的S-Parameters,從圖中可以看出,帶有四個(gè)地過(guò)孔環(huán)繞的信號(hào)過(guò)孔的S-Parameters就像一根連續(xù)的微帶線,從而提高了S21特性。
由此可知,在信號(hào)過(guò)孔附近缺少返回路徑的情況下,則此信號(hào)過(guò)孔會(huì)增高其阻抗。當(dāng)今的高速系統(tǒng)里,在時(shí)延方面顯得尤為重要。
DDR測(cè)試
DDR的信號(hào)仿真驗(yàn)證由于DDR芯片都是采用BGA封裝,密度很高,且分叉、反射非常嚴(yán)重,因此前期的仿真是非常必要的。是借助仿真軟件中專門(mén)針對(duì)DDR的仿真模型庫(kù)仿真出的通道損耗以及信號(hào)波形。仿真出信號(hào)波形以后,許多用戶需要快速驗(yàn)證仿真出來(lái)的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī)范要求。這時(shí),可以把軟件仿真出的DDR的時(shí)域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測(cè)試軟件中,并生成相應(yīng)的一致性測(cè)試報(bào)告,這樣可以保證仿真和測(cè)試分析方法的一致,并且便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號(hào)違規(guī)。 DDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法、測(cè)試裝置與測(cè)試設(shè)備與流程;
DDR測(cè)試
DDR5的接收端容限測(cè)試
前面我們?cè)诮榻BUSB3.0、PCIe等高速串行總線的測(cè)試時(shí)提到過(guò)很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器,因此需要進(jìn)行接收容限的測(cè)試以驗(yàn)證接收均衡器和CDR在惡劣信號(hào)下的表現(xiàn)。對(duì)于DDR來(lái)說(shuō),DDR4及之前的總線接收端還相對(duì)比較簡(jiǎn)單,只是做一些匹配、時(shí)延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時(shí)代(圖5.19),由于信號(hào)速率更高,因此接收端也開(kāi)始采用很多高速串行總線中使用的可變?cè)鲆嬲{(diào)整以及均衡器技術(shù),這也使得DDR5測(cè)試中必須關(guān)注接收均衡器的影響,這是之前的DDR測(cè)試中不曾涉及的。 DDR3信號(hào)質(zhì)量自動(dòng)測(cè)試軟件;HDMI測(cè)試DDR測(cè)試
DDR內(nèi)存條電路原理圖;吉林DDR測(cè)試銷售價(jià)格
DDR測(cè)試
DDRSDRAM即我們通常所說(shuō)的DDR內(nèi)存,DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代,目前DDR4已經(jīng)成為市場(chǎng)的主流,DDR5也開(kāi)始進(jìn)入市場(chǎng)。對(duì)于DDR總線來(lái)說(shuō),我們通常說(shuō)的速率是指其數(shù)據(jù)線上信號(hào)的快跳變速率。比如3200MT/s,對(duì)應(yīng)的工作時(shí)鐘速率是1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率,由于在DDR總線上會(huì)有讀寫(xiě)間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間、高阻態(tài)時(shí)間、總線刷新時(shí)間等,因此其實(shí)際的總線傳輸速率達(dá)不到這個(gè)理想值。
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
地址:深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) 吉林DDR測(cè)試銷售價(jià)格
深圳市力恩科技有限公司目前已成為一家集產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷售相結(jié)合的貿(mào)易型企業(yè)。公司成立于2014-04-03,自成立以來(lái)一直秉承自我研發(fā)與技術(shù)引進(jìn)相結(jié)合的科技發(fā)展戰(zhàn)略。公司主要產(chǎn)品有實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等,公司工程技術(shù)人員、行政管理人員、產(chǎn)品制造及售后服務(wù)人員均有多年行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。并與上下游企業(yè)保持密切的合作關(guān)系。依托成熟的產(chǎn)品資源和渠道資源,向全國(guó)生產(chǎn)、銷售實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品,經(jīng)過(guò)多年的沉淀和發(fā)展已經(jīng)形成了科學(xué)的管理制度、豐富的產(chǎn)品類型。我們本著客戶滿意的原則為客戶提供實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品售前服務(wù),為客戶提供周到的售后服務(wù)。價(jià)格低廉優(yōu)惠,服務(wù)周到,歡迎您的來(lái)電!
DDR測(cè)試 測(cè)試軟件運(yùn)行后,示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量并匯總成一個(gè)測(cè)試報(bào)告,測(cè)試報(bào)告中列出了測(cè)試的項(xiàng)目、是否通過(guò)、spec的要求、實(shí)測(cè)值、margin等。圖5.17是自動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開(kāi)度測(cè)量的一個(gè)例子。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試還可以輔助用戶進(jìn)行內(nèi)存參數(shù)的配置,比如高速的DDR芯片都提供有ODT(OnDieTermination)的功能,用戶可以通過(guò)軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對(duì)信號(hào)質(zhì)量的影響。除了一致性測(cè)試以外,DDR測(cè)試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測(cè)試失敗后,可以針對(duì)這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí),測(cè)試軟件會(huì)捕獲、存儲(chǔ)一段時(shí)間的波...