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企業(yè)商機(jī)
PCI-E測(cè)試基本參數(shù)
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PCI-E測(cè)試企業(yè)商機(jī)

為了克服大的通道損耗,PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn),其直流增益可以在-5~ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整,以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí),為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響,其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來說,PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大, 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。PCI-E的信號(hào)測(cè)試中否一定要使用一致性測(cè)試碼型?PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試

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綜上所述,PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器,根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶自己設(shè)計(jì)測(cè)試板;對(duì)于主板或者  插卡的測(cè)試來說,測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了;

在數(shù)據(jù)分析時(shí)除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外,還要把均衡器對(duì)信號(hào)的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會(huì)提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動(dòng)測(cè)試軟件都可以為PCle4. 0的測(cè)試提供很好的幫助。 青海PCI-E測(cè)試方案PCI-E 3.0及信號(hào)完整性測(cè)試方法;

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雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作,但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn),特 別是當(dāng)采用比較便宜的PCB板材時(shí),就不得不適當(dāng)減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下,還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個(gè)連接器實(shí)現(xiàn)可靠信號(hào)傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下,整個(gè)16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi),其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預(yù)算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預(yù)算為-8dB@8GHz。

整個(gè)鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi),并且鏈路上只能有一個(gè)連接器。如果需要支持更 長的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器,則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對(duì)信號(hào)進(jìn)行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預(yù)算,圖中各 個(gè)部分的鏈路預(yù)算對(duì)于設(shè)計(jì)和測(cè)試都非常重要,對(duì)于測(cè)試部分的影響后面會(huì)具體介紹。

PCIe4.0的測(cè)試夾具和測(cè)試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測(cè)試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測(cè)試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測(cè)信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售,主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對(duì)于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試來說,CBB用于插卡的測(cè)試,CLB用于主板的測(cè)試;但是在接收容限測(cè)試中,由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過夾具連接示波器做校準(zhǔn),所以無論是主板還是插卡的測(cè)試,CBB和CLB都需要用到。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?

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Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試,都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下,要通過測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后,可以通過測(cè)試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí),正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?廣西PCI-E測(cè)試熱線

PCI-E3.0定義了11種發(fā)送端的預(yù)加重設(shè)置,實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)該用那個(gè)?PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試

相應(yīng)地,在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測(cè)試中,也會(huì)要求測(cè)試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘,可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場(chǎng)景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利,但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源,所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡,保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu),以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試PCI-E測(cè)試

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關(guān)于各測(cè)試項(xiàng)目的具體描述如下:·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)質(zhì)量,針對(duì)2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)中的脈沖寬度抖動(dòng),針對(duì)16Gbps速率。·項(xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)的Preset值是否正確,針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?!ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:...

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