深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-02-11

一般來說，探針壽命的測(cè)試條件較為嚴(yán)格和規(guī)范。在測(cè)試過程中，通常會(huì)模擬實(shí)際使用場(chǎng)景中的插拔動(dòng)作，包括插拔的頻率、力度和角度等因素。插拔頻率可能會(huì)設(shè)定在一個(gè)較高的值，以加速探針的磨損，模擬長(zhǎng)時(shí)間使用的情況。插拔力度會(huì)根據(jù)彈簧探針的設(shè)計(jì)彈力范圍進(jìn)行控制，一般在20g-30gperPin左右，確保在正常工作壓力下測(cè)試探針的壽命。插拔角度也會(huì)盡量保持一致，避免因角度偏差過大導(dǎo)致探針異常磨損。同時(shí)，測(cè)試環(huán)境也會(huì)進(jìn)行嚴(yán)格控制，包括溫度、濕度和灰塵等因素。溫度可能會(huì)在測(cè)試插座的工作溫度范圍內(nèi)，如-55℃至155℃之間變化，以考察不同溫度對(duì)探針壽命的影響。濕度和灰塵等環(huán)境因素也可能會(huì)進(jìn)行一定程度的模擬，因?yàn)閷?shí)際使用環(huán)境中這些因素也會(huì)對(duì)探針的磨損產(chǎn)生作用。通過在這些模擬實(shí)際使用且較為嚴(yán)苛的條件下進(jìn)行測(cè)試，終得出探針大于30萬次的壽命數(shù)據(jù)。

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