深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-05-01

在 HTOL（高溫操作壽命測(cè)試）中，欣同達(dá)老煉座表現(xiàn)出色。傳統(tǒng)插座在高溫環(huán)境長(zhǎng)期暴露下，易出現(xiàn)接觸不良或損壞情況，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。欣同達(dá)老煉座則采用高性能材料，具備良好的耐高溫特性，即便長(zhǎng)時(shí)間處于高溫工作狀態(tài)，其接觸穩(wěn)定性和電氣性能也不會(huì)下降。比如在模擬高溫環(huán)境下，對(duì)某芯片進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間 HTOL 測(cè)試，使用欣同達(dá)老煉座時(shí)，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，未出現(xiàn)因插座問題導(dǎo)致的信號(hào)中斷或數(shù)據(jù)異常波動(dòng)。這得益于其優(yōu)良設(shè)計(jì)，從內(nèi)部電路布局到外部結(jié)構(gòu)構(gòu)造，都充分考慮了高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性需求，有效保障了 HTOL 測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性，助力工程師精細(xì)評(píng)估芯片在高溫環(huán)境下的使用壽命和性能表現(xiàn) 。?

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