深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-08

欣同達(dá) IC socket 老化座具備完善的自動(dòng)化測(cè)試和記錄功能。在自動(dòng)化測(cè)試方面，老化座可以與自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成。測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序，自動(dòng)控制老化座對(duì)芯片進(jìn)行各種測(cè)試。例如，在測(cè)試開(kāi)始時(shí)，測(cè)試系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)向老化座發(fā)送指令，加載合適的電源電壓和測(cè)試信號(hào)，按照既定的測(cè)試序列對(duì)芯片進(jìn)行功能測(cè)試、性能測(cè)試等。整個(gè)過(guò)程無(wú)需人工過(guò)多干預(yù)，提高了測(cè)試效率。在測(cè)試過(guò)程中，若芯片出現(xiàn)異常，如信號(hào)傳輸錯(cuò)誤、功能不達(dá)標(biāo)等，老化座會(huì)及時(shí)反饋給測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試系統(tǒng)立即停止相關(guān)測(cè)試步驟，并記錄異常情況，同時(shí)發(fā)出警報(bào)通知操作人員。? 在數(shù)據(jù)記錄方面，老化座連接的測(cè)試系統(tǒng)擁有高精度的數(shù)據(jù)采集模塊，能夠?qū)崟r(shí)采集芯片在測(cè)試過(guò)程中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，包括芯片的工作電壓、電流、信號(hào)傳輸?shù)念l率和幅度等。這些數(shù)據(jù)會(huì)被精確記錄，并按照時(shí)間順序進(jìn)行存儲(chǔ)。例如，每秒鐘采集并記錄一次芯片的關(guān)鍵參數(shù)，形成詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)日志。數(shù)據(jù)記錄的格式也十分規(guī)范，便于后續(xù)的數(shù)據(jù)處理和分析。此外，欣同達(dá)老化座的數(shù)據(jù)記錄功能還支持?jǐn)?shù)據(jù)的實(shí)時(shí)顯示，操作人員可以在測(cè)試過(guò)程中通過(guò)監(jiān)控界面直觀地查看芯片的各項(xiàng)參數(shù)變化情況，及時(shí)了解測(cè)試進(jìn)展和芯片狀態(tài)。對(duì)于長(zhǎng)時(shí)間的老化測(cè)試，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)保存完整的測(cè)試數(shù)據(jù)，方便后續(xù)追溯和分析，為評(píng)估芯片質(zhì)量和可靠性提供了有力依據(jù)。

本回答由 深圳市欣同達(dá)科技有限公司 提供