光纖光柵傳感器在應(yīng)變測(cè)量中具有一定的局限性，其光柵在受到剪切力時(shí)表現(xiàn)相對(duì)較弱。為了應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)，并根據(jù)不同的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，需要開(kāi)發(fā)和應(yīng)用各種封裝技術(shù)，包括直接埋入式、封裝后表貼式以及直接表貼等方法。在直接埋入式封裝中，光纖光柵通常會(huì)被封裝在金屬或其他材料中，預(yù)先埋入如混凝土等結(jié)構(gòu)中，以便進(jìn)行應(yīng)變測(cè)量。這種技術(shù)在橋梁、建筑和大壩等大型工程中有著普遍的應(yīng)用。然而，對(duì)于已經(jīng)存在的結(jié)構(gòu)，如表面的飛機(jī)載荷譜進(jìn)行監(jiān)測(cè)時(shí)，則只能采用表貼式的封裝方式。封裝形式的選擇會(huì)受到材料彈性模量和粘貼工藝的影響，這在光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量中會(huì)導(dǎo)致應(yīng)變傳遞的損耗，從而使得光纖光柵測(cè)量的應(yīng)變與實(shí)際基體的應(yīng)變之間存在差異。因此，進(jìn)行光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量時(shí)，必須要考慮這種應(yīng)變傳遞損耗的影響。要降低這種應(yīng)變傳遞損耗，可以在封裝過(guò)程中選擇具有高彈性模量的材料，以提高傳感器的靈敏度和精度。同時(shí)，粘貼工藝也需要精確控制，確保光柵與基體之間的緊密接觸，以進(jìn)一步減小傳遞損耗。這些措施將有助于提升光纖光柵傳感器在應(yīng)變測(cè)量中的性能。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量技術(shù)利用光學(xué)原理，實(shí)現(xiàn)高精度、高靈敏度的無(wú)接觸應(yīng)變檢測(cè)。重慶VIC-2D非接觸式測(cè)量裝置

電阻應(yīng)變測(cè)量，常被稱作電測(cè)法，是實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析的常用方法之一，具有普遍的應(yīng)用范圍和強(qiáng)大的適應(yīng)性。該方法運(yùn)用電阻應(yīng)變計(jì)作為敏感元件，以應(yīng)變儀為測(cè)量工具，通過(guò)精確的測(cè)量步驟，確定受力構(gòu)件的應(yīng)力和應(yīng)變。在進(jìn)行電阻應(yīng)變測(cè)量時(shí)，首先需將應(yīng)變計(jì)（也被稱作應(yīng)變片或電阻片）牢固地粘貼在待測(cè)構(gòu)件上。當(dāng)構(gòu)件受到外力作用產(chǎn)生變形時(shí)，應(yīng)變計(jì)也會(huì)隨之變形，進(jìn)而導(dǎo)致電阻發(fā)生變化。為了捕捉這種微小的電阻變化，我們通常采用電橋電路。電橋電路由四個(gè)電阻組成，其中一個(gè)是應(yīng)變計(jì)。當(dāng)應(yīng)變計(jì)受到應(yīng)變時(shí)，其電阻值會(huì)發(fā)生變化，導(dǎo)致電橋失衡。通過(guò)調(diào)整電橋中的其他電阻，使電橋恢復(fù)平衡，我們可以測(cè)量到電橋中的電流或電壓變化。這種變化與應(yīng)變計(jì)的電阻變化成正比。為了提高測(cè)量的精度和靈敏度，我們通常會(huì)使用信號(hào)放大器對(duì)電流或電壓進(jìn)行放大。放大后的信號(hào)經(jīng)過(guò)處理，可以轉(zhuǎn)換為構(gòu)件的應(yīng)變值，并通過(guò)顯示器呈現(xiàn)出來(lái)。電阻應(yīng)變測(cè)量方法具有諸多優(yōu)點(diǎn)。首先，它可以應(yīng)用于各種不同材料和結(jié)構(gòu)的構(gòu)件，包括金屬、塑料、混凝土等。其次，它可以實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量，避免對(duì)待測(cè)構(gòu)件造成破壞或干擾。因此，電阻應(yīng)變測(cè)量方法在工程實(shí)踐中具有普遍的應(yīng)用前景。江西光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變與運(yùn)動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量方法中的激光散斑法具有高靈敏度和無(wú)損傷的特點(diǎn)，適用于微小應(yīng)變的測(cè)量。

形變監(jiān)測(cè)是對(duì)建筑物或結(jié)構(gòu)物的形態(tài)變化進(jìn)行精密測(cè)量的技術(shù)。這種技術(shù)可以捕捉建筑物的垂直下沉和水平偏移等關(guān)鍵信息，從而評(píng)估其結(jié)構(gòu)的穩(wěn)固性和安全性。這些數(shù)據(jù)不只可以為建筑師和工程師提供深入的洞察，以優(yōu)化地基設(shè)計(jì)，還可以預(yù)防潛在的結(jié)構(gòu)風(fēng)險(xiǎn)。在垂直下沉方面，形變監(jiān)測(cè)能夠揭示建筑物基礎(chǔ)及其上部結(jié)構(gòu)之間的相互作用。長(zhǎng)期的下沉數(shù)據(jù)收集可以為我們提供關(guān)于土壤性能、基礎(chǔ)設(shè)計(jì)和建筑物負(fù)載的寶貴信息。通過(guò)這些信息，我們可以更加深入地理解地基行為，并為未來(lái)的建筑設(shè)計(jì)提供實(shí)踐指導(dǎo)。水平偏移是建筑物面臨的另一個(gè)挑戰(zhàn)，它可能由多種因素引起，如地震活動(dòng)、土壤液化或基礎(chǔ)滑坡。形變監(jiān)測(cè)技術(shù)能夠精確地捕捉這些偏移，使工程師可以在早期階段識(shí)別潛在問(wèn)題并采取必要的預(yù)防措施。現(xiàn)代形變監(jiān)測(cè)技術(shù)通常依賴于先進(jìn)的光學(xué)非接觸測(cè)量工具。這些工具，如高精度激光掃描儀和三維成像系統(tǒng)，可以在不干擾建筑物正常使用的情況下進(jìn)行高精度的測(cè)量。這種方法的優(yōu)勢(shì)在于其高效率、高精度和實(shí)時(shí)性，使得我們可以持續(xù)、全部地了解建筑物的形變情況。

建筑物變形測(cè)量是確保建筑物安全穩(wěn)定的重要環(huán)節(jié)，而基準(zhǔn)點(diǎn)的設(shè)置則是變形測(cè)量的基礎(chǔ)。為了獲得準(zhǔn)確可靠的測(cè)量結(jié)果，我們需要在受變形影響的廠房圍墻之外設(shè)置基準(zhǔn)點(diǎn)。這樣做可以避免廠房本身的變形對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生干擾，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。在選擇基準(zhǔn)點(diǎn)的位置時(shí)，穩(wěn)定性是一個(gè)重要的考慮因素?；鶞?zhǔn)點(diǎn)應(yīng)該設(shè)置在地質(zhì)條件穩(wěn)定、不易受外界干擾的地方，以確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定性。同時(shí)，為了方便后續(xù)的測(cè)量工作，基準(zhǔn)點(diǎn)的位置應(yīng)該便于訪問(wèn)和觀測(cè)。為了避免高壓線路對(duì)測(cè)量結(jié)果的干擾，我們需要特別注意基準(zhǔn)點(diǎn)與高壓線路之間的距離。一般來(lái)說(shuō)，基準(zhǔn)點(diǎn)應(yīng)該遠(yuǎn)離高壓線路，這樣可以減少電磁干擾對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。為了確?；鶞?zhǔn)點(diǎn)的穩(wěn)定性，我們可以使用記號(hào)石或記號(hào)筆進(jìn)行埋設(shè)。這些標(biāo)記物可以幫助我們準(zhǔn)確地找到基準(zhǔn)點(diǎn)的位置，并且在后續(xù)的測(cè)量工作中提供穩(wěn)定的參考。在確定基準(zhǔn)點(diǎn)的穩(wěn)定期時(shí)，我們需要綜合考慮觀測(cè)要求和地質(zhì)條件。一般來(lái)說(shuō)，穩(wěn)定期不應(yīng)少于7天，以確?；鶞?zhǔn)點(diǎn)充分穩(wěn)定并適應(yīng)周?chē)h(huán)境的變化。光學(xué)非接觸應(yīng)變測(cè)量利用光學(xué)原理，無(wú)需接觸樣本，避免對(duì)其造成影響。

外部變形描述的是物體外部形態(tài)及其在空間中的位置變化，這可能涉及到傾斜、裂縫、垂直和水平方向的移動(dòng)等。為了觀察和測(cè)量這些變形，我們可以采用多種觀測(cè)方法。垂直位移觀測(cè)，也常被稱為沉降觀測(cè)，主要關(guān)注地面或建筑結(jié)構(gòu)的垂直位移。通過(guò)這種觀測(cè)，我們可以獲取地基或結(jié)構(gòu)沉降的詳細(xì)信息，以及由此可能引發(fā)的問(wèn)題。水平位移觀測(cè)，簡(jiǎn)稱位移觀測(cè)，專注于地面或建筑結(jié)構(gòu)的水平移動(dòng)。這種觀測(cè)能讓我們了解地基或結(jié)構(gòu)的水平位移狀況，以及可能因此產(chǎn)生的問(wèn)題。傾斜觀測(cè)則是對(duì)地面或建筑結(jié)構(gòu)的傾斜狀況進(jìn)行觀察和測(cè)量。它有助于我們理解地基或結(jié)構(gòu)的傾斜程度，以及可能引發(fā)的安全隱患。裂縫觀測(cè)主要關(guān)注地面或建筑結(jié)構(gòu)上的裂縫。這種觀測(cè)能幫助我們了解裂縫的形態(tài)和發(fā)展情況，以及可能由此產(chǎn)生的問(wèn)題。較后，撓度觀測(cè)是對(duì)建筑的基礎(chǔ)、上部結(jié)構(gòu)或構(gòu)件在彎矩作用下因撓曲而產(chǎn)生的垂直于軸線的線位移進(jìn)行觀測(cè)。通過(guò)撓度觀測(cè)，我們可以獲取結(jié)構(gòu)變形的信息，以及可能因此引發(fā)的結(jié)構(gòu)安全問(wèn)題。這些觀測(cè)方法為我們提供了理解和監(jiān)控外部變形的有效手段。光學(xué)應(yīng)變測(cè)量技術(shù)能夠提供更全部、準(zhǔn)確的應(yīng)變數(shù)據(jù)，具有在結(jié)構(gòu)分析和材料性能評(píng)估中的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。上海VIC-Gauge 3D視頻引伸計(jì)總代理

光學(xué)傳感器高靈敏、快速響應(yīng)，適用于高溫、高壓或強(qiáng)磁場(chǎng)等復(fù)雜環(huán)境。重慶VIC-2D非接觸式測(cè)量裝置

變形測(cè)量是對(duì)物體形態(tài)、大小、位置等進(jìn)行精細(xì)化測(cè)量的過(guò)程?；诓煌臏y(cè)量策略與精度需求，變形測(cè)量可被劃分為多種類(lèi)型。靜態(tài)水準(zhǔn)測(cè)量是其中的一種主流方法，特別適用于地表高程變動(dòng)的測(cè)量。在這種測(cè)量中，觀測(cè)點(diǎn)高差均方誤差是一個(gè)中心參數(shù)，它表示在靜態(tài)水準(zhǔn)測(cè)量中獲取的水準(zhǔn)點(diǎn)高差之間的均方誤差，或者相鄰觀測(cè)點(diǎn)間斷面高差的等效相對(duì)均方誤差。這個(gè)參數(shù)能夠有效地反映測(cè)量的穩(wěn)定性和精確度。電磁波測(cè)距三角高程測(cè)量是另一種普遍應(yīng)用的變形測(cè)量方法，此方法主要利用電磁波的傳播屬性來(lái)測(cè)量物體的高程變化。在這種測(cè)量方法中，觀測(cè)點(diǎn)高差均方誤差同樣是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，用于評(píng)估測(cè)量結(jié)果的精確性和可靠性。除了高差測(cè)量外，觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)的精確性在變形測(cè)量中也扮演著關(guān)鍵角色。觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)的均方差是對(duì)獲取的坐標(biāo)值進(jìn)行精確度評(píng)估的一個(gè)重要參數(shù)，包括坐標(biāo)值的均誤差、坐標(biāo)差的均方差、相對(duì)于基線的等效觀測(cè)點(diǎn)均方差，以及建筑物或構(gòu)件相對(duì)于底部固定點(diǎn)的水平位移分量的均方差。這些參數(shù)共同提供了對(duì)測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性的全部反映。觀測(cè)點(diǎn)位置的中誤差是通過(guò)計(jì)算觀測(cè)點(diǎn)坐標(biāo)中誤差的平方根并乘以√2得到的。這個(gè)參數(shù)對(duì)于評(píng)估整體測(cè)量精度具有重要的參考價(jià)值。重慶VIC-2D非接觸式測(cè)量裝置