變形測量的內(nèi)容有哪些？1、建筑物沉降測量，建筑物的沉降是地基、基礎(chǔ)和上層結(jié)構(gòu)共同作用的結(jié)果。此項測量資料的積累是研究解決地基沉降問題和改進(jìn)地基設(shè)計的重要手段。同時，通過測量來分析相對沉降是否有差異，以監(jiān)視建筑物的安全。2、建筑物水平位移測量，建筑物水平位移指建筑物整體平面移動，其原因主要是基礎(chǔ)受到水平應(yīng)力的影響，如地基處于滑坡地帶或受地震影響。要測定平面位置隨時間變化的移動量，以監(jiān)視建筑物的安全或釆取加固措施。 光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用全息干涉術(shù)和激光散斑術(shù)，通過光的干涉和散斑圖案分析物體表面應(yīng)變。VIC-2D數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

    芯片研發(fā)制造過程鏈條漫長，很多重要工藝環(huán)節(jié)需要進(jìn)行精密檢測以確保良率，降低生產(chǎn)成本。提高制造控制工藝，并通過不斷研發(fā)迭代和測試，才能制造性能更優(yōu)異的芯片，走向市場并逐漸應(yīng)用到生活和工作的方方面面。由于芯片尺寸小，在溫度循環(huán)下的應(yīng)力，傳統(tǒng)測試方法難以獲取；高精度三維顯微應(yīng)變測量技術(shù)的發(fā)展，打破了原先在微觀尺寸測量領(lǐng)域的限制，特別是在半導(dǎo)體材料、芯片結(jié)構(gòu)變化細(xì)微的測量條件下，三維應(yīng)變測量技術(shù)分析尤為重要。 北京全場三維非接觸應(yīng)變系統(tǒng)光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車工程、材料科學(xué)等領(lǐng)域。

    隨著計算機(jī)圖像處理技術(shù)的飛速發(fā)展，對材料和結(jié)構(gòu)三維信息的提取在工業(yè)生產(chǎn)、汽車制造、土木建筑等領(lǐng)域中顯得尤為重要。結(jié)合光、電、計算機(jī)等技術(shù)的優(yōu)點，光學(xué)三維應(yīng)變測量技術(shù)達(dá)到了非接觸性、無破壞性、精度和分辨率高以及測量速度快的特點，在彈性塑性材料等特殊測量領(lǐng)域受到很大的關(guān)注。研究和設(shè)計一個新產(chǎn)品或制造各種零部件時，掌握所使用材料的特性信息十分關(guān)鍵，這有助于更加可靠、有效地比較塑性材料的差異和優(yōu)化成形過程。

    電阻應(yīng)變測量(電測法)是實驗應(yīng)力分析中使用比較廣和適應(yīng)性比較強的方法之一。該方法是利用電阻應(yīng)變計(簡稱應(yīng)變片或電阻片)作為敏感元件，用應(yīng)變儀作為測量儀器，通過測量可以得出受力構(gòu)件上的應(yīng)力、應(yīng)變的一種實驗方法。測量時，將應(yīng)變計牢固地貼在構(gòu)件上，構(gòu)件變形連同應(yīng)變計一起變形，應(yīng)變計的變形產(chǎn)生了電阻的變化，通過測量電橋使這微小的電阻變化轉(zhuǎn)換成電壓或電流的變比，經(jīng)過信號放大，將其變換成構(gòu)件的應(yīng)變值而顯示出來，完成上述轉(zhuǎn)換工作的儀器叫應(yīng)變儀。 光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)通常具有納米級別的測量精度，能夠滿足高精度測量的需求。

    金屬應(yīng)變計是一種用于測量物體應(yīng)變的裝置，其實際應(yīng)變計因子可以從傳感器制造商或相關(guān)文檔中獲取，通常約為2。由于應(yīng)變測量通常很小，只有幾個毫應(yīng)變（10?3），因此需要精確測量電阻的微小變化。例如，當(dāng)測試樣本的實際應(yīng)變?yōu)?00毫應(yīng)變時，應(yīng)變計因子為2的應(yīng)變計可以檢測到電阻變化為2(50010??)=。對于120Ω的應(yīng)變計，變化值只為Ω。為了測量如此小的電阻變化，應(yīng)變計采用基于惠斯通電橋的配置概念?；菟雇姌蛴伤膫€相互連接的電阻臂和激勵電壓VEX組成。當(dāng)應(yīng)變計與被測物體一起安裝在電橋的一個臂上時，應(yīng)變計的電阻值會隨著應(yīng)變的變化而發(fā)生微小的變化。這個微小的變化會導(dǎo)致電橋的電壓輸出發(fā)生變化，從而可以通過測量輸出電壓的變化來計算應(yīng)變的大小。除了傳統(tǒng)的應(yīng)變測量方法外，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)也越來越受到關(guān)注。這種技術(shù)利用光學(xué)原理來測量材料的應(yīng)變，具有非接觸、高精度和高靈敏度等優(yōu)點。它能夠通常使用光纖光柵傳感器或激光干涉儀等設(shè)備來測量材料表面的位移或形變，從而間接計算出應(yīng)變的大小。這種新興的測量技術(shù)為應(yīng)變測量帶來了新的可能性，并在許多領(lǐng)域中得到了普遍應(yīng)用。 光學(xué)測量技術(shù)不只精度高，還能適應(yīng)各種環(huán)境和條件，是現(xiàn)代建筑物變形監(jiān)測的理想選擇。貴州掃描電鏡非接觸式應(yīng)變測量

三維應(yīng)變測量技術(shù)常用的光學(xué)方法有光柵片法、激光干涉儀法和數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）等。VIC-2D數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)

    對于復(fù)合材料的拉伸試驗，可以使用試樣一側(cè)的單應(yīng)變測量來測量軸向應(yīng)變。然而，通過在試樣的相對兩側(cè)進(jìn)行測量并計算它們的平均值，可以得到更一致和準(zhǔn)確的結(jié)果。使用平均應(yīng)變測量對于壓縮測試至關(guān)重要，因為兩次測量之間的差異用于檢查試樣是否過度彎曲。通常在拉伸和壓縮測試中確定泊松比需要額外測量橫向應(yīng)變。剪切試驗時需要確定剪切應(yīng)變，剪切應(yīng)變可以通過測量軸向和橫向應(yīng)變來計算。在V型缺口剪切試驗中，應(yīng)變分布不均勻且集中在試樣的缺口之間，為了更加準(zhǔn)確地測量這些局部應(yīng)變需要使用應(yīng)變儀。 VIC-2D數(shù)字圖像相關(guān)應(yīng)變系統(tǒng)