光學(xué)測量領(lǐng)域中，光學(xué)應(yīng)變測量和光學(xué)干涉測量是兩種重要的技術(shù)手段。雖然它們都屬于光學(xué)測量，但在測量原理和應(yīng)用背景上存在明顯差異。首先，讓我們深入探討光學(xué)應(yīng)變測量的工作原理。這種測量技術(shù)的中心是通過捕捉物體表面的形變來推斷其內(nèi)部的應(yīng)力分布狀態(tài)。該過程主要依賴于光柵投影和圖像處理技術(shù)。具體實(shí)施步驟包括將光柵投射到目標(biāo)物體表面，隨后使用高精度相機(jī)或其他光學(xué)傳感器捕捉光柵形變圖像。通過對這些圖像進(jìn)行一系列復(fù)雜而精密的處理和分析，我們能夠得到物體表面的應(yīng)變分布信息。與光學(xué)應(yīng)變測量相比，光學(xué)干涉測量在方法上有著本質(zhì)的不同。它是一種直接測量物體表面形變的技術(shù)，主要利用光的干涉現(xiàn)象來實(shí)現(xiàn)。在光學(xué)干涉測量中，一束光源被分為兩束，分別沿不同路徑傳播，并在某一點(diǎn)重新匯合。當(dāng)物體表面發(fā)生形變時(shí)，這兩束光的相位關(guān)系會發(fā)生相應(yīng)的變化。通過精確測量這種相位變化，我們可以獲取物體表面的形變信息?？偟膩碚f，光學(xué)應(yīng)變測量和光學(xué)干涉測量雖然都是光學(xué)測量的重要分支，但在工作原理和應(yīng)用范圍上具有明顯的區(qū)別。光學(xué)應(yīng)變測量通過間接方式推斷物體內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)，而光學(xué)干涉測量則直接測量物體表面的形變。 三維應(yīng)變測量技術(shù)用于研究新材料力學(xué)性能，如彈性模量、泊松比等，以及材料在受力或變形過程中的失效行為。光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)變形測量

    橡膠拉力試驗(yàn)機(jī)采用直流伺服電機(jī)及調(diào)速系統(tǒng)一體化結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)同步帶減速機(jī)構(gòu)，經(jīng)減速后帶動(dòng)絲杠副進(jìn)行加載。電氣部分包括負(fù)荷測量系統(tǒng)和變形測量系統(tǒng)組成，所有的控制參數(shù)及測量結(jié)果均可以在大屏幕液晶上實(shí)時(shí)顯示。并具有過載保護(hù)、位移測量等功能。適用于橡膠、復(fù)合膜、軟質(zhì)包裝材料、膠粘劑、膠粘帶、不干膠、橡膠、紙張等產(chǎn)品的拉伸、剝離、撕裂、熱封、粘合等性能測試；能夠保存6次試驗(yàn)數(shù)據(jù)及結(jié)果，具有曲線顯示，查詢等必要的功能。 四川全場非接觸式應(yīng)變測量在材料科學(xué)領(lǐng)域，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可用于研究材料的力學(xué)性能和變形行為。

    光學(xué)非接觸應(yīng)變測量是一種利用光學(xué)原理和傳感器技術(shù)，對物體表面的應(yīng)變進(jìn)行非接觸式測量的方法。技術(shù)特點(diǎn)——非接觸性：無需在物體表面安裝傳感器或夾具，避免了傳統(tǒng)接觸式測量方法對物體表面的損傷和測量誤差。高精度：隨著光學(xué)技術(shù)和傳感器技術(shù)的不斷發(fā)展，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量的精度不斷提高，可以滿足高精度測量的需求。實(shí)時(shí)性：可以實(shí)時(shí)監(jiān)測物體表面的應(yīng)變變化，提供動(dòng)態(tài)應(yīng)變數(shù)據(jù)。全場測量：可以實(shí)現(xiàn)物體表面的全場應(yīng)變測量，獲得更較全的應(yīng)變分布信息。適用范圍廣：適用于各種材料和形狀的物體，包括高溫、高壓等惡劣環(huán)境下的測量。

刻寫在光纖上的光柵傳感器自身抗剪能力很差，在應(yīng)變測量的應(yīng)用中，需要根據(jù)實(shí)際需要開發(fā)出相應(yīng)的封裝來適應(yīng)不同的基體結(jié)構(gòu)，通常采用直接埋入式、封裝后表貼式、直接表貼等方式。埋入式一般是將光纖光柵用金屬或其他材料封裝成傳感器后，將其預(yù)埋進(jìn)混凝土等結(jié)構(gòu)中進(jìn)行應(yīng)變測量，如橋梁、樓宇、大壩等。但在已有的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行監(jiān)測只能進(jìn)行表貼，如現(xiàn)役飛機(jī)的載荷譜監(jiān)測等。無論是哪種封裝形式，由于材料的彈性模量以及粘帖工藝的不同，在應(yīng)變傳遞過程必將造成應(yīng)變傳遞損耗，光纖光柵所測得的的應(yīng)變與基體實(shí)際應(yīng)變不一致。在航空航天領(lǐng)域，光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可用于測量飛機(jī)結(jié)構(gòu)在飛行過程中的應(yīng)變情況。

    動(dòng)態(tài)基準(zhǔn)實(shí)時(shí)測量軟件用來獲取各測站點(diǎn)實(shí)時(shí)坐標(biāo)數(shù)據(jù)，其實(shí)質(zhì)是控制網(wǎng)的全自動(dòng)測量。當(dāng)全站儀測站點(diǎn)位于變形區(qū)域，為及時(shí)得到測站點(diǎn)的位置信息，將測站點(diǎn)納入控制網(wǎng)，控制網(wǎng)的已知點(diǎn)位于變形區(qū)域外，即為監(jiān)測控制網(wǎng)中的基準(zhǔn)點(diǎn)。變形點(diǎn)監(jiān)測軟件包括各分控機(jī)上的監(jiān)測軟件和主控機(jī)上的數(shù)據(jù)庫管理軟件兩部分。分控機(jī)上的監(jiān)測軟件用來控制測量機(jī)器人按.要求的觀測時(shí)間、測量限差、觀測的點(diǎn)組進(jìn)行測量，并將測量的結(jié)果寫入主控機(jī)上的管理數(shù)據(jù)庫中。 典型的DIC測量系統(tǒng)一般由CCD攝像機(jī)、照明光源、圖像采集卡及計(jì)算機(jī)組成。上海全場三維數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)應(yīng)變測量系統(tǒng)

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量利用全息干涉術(shù)和激光散斑術(shù)，通過光的干涉和散斑圖案分析物體表面應(yīng)變。光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)變形測量

    拉力試驗(yàn)力值的應(yīng)變測量是通過測力傳感器、擴(kuò)展器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)來完成的。從數(shù)據(jù)力學(xué)上看，在小變形的前提下，彈性元件的某一點(diǎn)應(yīng)變霹靂與彈性元件的力成正比，也與彈性變形成正比。以S型試驗(yàn)機(jī)傳感器為例，當(dāng)傳感器受到拉力P的影響時(shí)，由于彈性元件的應(yīng)變與外力P的大小成正比，彈性元件的應(yīng)變與外力P的大小成正比，應(yīng)變片可以連接到測量電路，測量其輸出電壓，然后測量輸出力的大小。變形測量是通過變形測量和安裝來測量的，用于測量樣品在實(shí)驗(yàn)過程中的變形。安裝有兩個(gè)夾頭，通過一系列傳記念頭結(jié)構(gòu)與安裝在測量和安裝頂部的光電編碼器連接。 光學(xué)數(shù)字圖像相關(guān)變形測量