USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試在進行USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試時，會要求測試對象發(fā)出特定的測試碼型，用實時示波器對該碼型進行眼圖分析，并測量信號的幅度、抖動、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時間等。雖然看起來好像比較簡單，但實際上USB3.x針對超高速部分的信號測試與傳統(tǒng)USB2.0的測試方法有較大的不同，包括很多算法的處理和注意事項。首先，由于USB3.x信號速率很高，且信號的幅度更小，因此測試中需要更高帶寬的示波器。對于5Gbps信號的測試，推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器；對于10Gbps信號的測試，推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次，對于USB3.x發(fā)送端測試，其測試的參考點不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進行測試，還需要測試經(jīng)過“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸，并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進行的測試叫作“ShortChannel”測試，把經(jīng)過傳輸通道進行的測試叫作“LongChannel”測試。USB2.0一致性測試環(huán)境；校準USB測試HDMI測試

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠端 校準時，   除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards，   利用 網(wǎng) 絡 分 析 實測，   保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整個測試鏈路的插入損耗滿足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。

同時，  是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自動化接收端軟件，  幫 助客戶非常方便的控制示波器對誤碼儀輸出的加壓信號進行校 準，  通過 USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 軟件讀取誤碼測試時誤 碼儀和被測芯片 Preset 和鏈路協(xié)商過程、以及的誤碼測試結(jié) 果，  生成完整的測試報告。 DDR測試USB測試銷售USB2.0USB3.0測試方法區(qū)別？

由于數(shù)據(jù)速率提升，能夠支持的電纜長度也會縮短。比如USB2.0電纜長度能夠達到5m,USB3.0接口支持的電纜長度在5Gbps速率下可以達到3m,USB3.1在10Gbps速率下如果不采用特殊的有源電纜技術(shù)只能達到1m。USB4.0標準中通過提升芯片性能，在10Gbps速率下可以支持2m的電纜傳輸，而在20Gbps速率下也能支持0.8m的無源電纜。隨著新的更高速率接口的產(chǎn)生，原有的USB連接器技術(shù)也在不斷改進。圖3.2是一些類型的USB2.0和USB3.0連接器類型。其中，Type-C是隨著USB3.x標準推出的新型高性能連接器，也可以向下兼容提供USB2.0的連接。

對于不同類型連接器的主機、設(shè)備、電纜來說，其傳輸通道損耗的要求也不一樣。圖3.3 是USB3. 1標準中各種速率和接口類型組合對于鏈路損耗的要求(損耗值對應的是Nyquist 頻點，即信號數(shù)據(jù)速率的1/2頻率處),在具體電路設(shè)計和測試中可以參考。

從 2015 年到現(xiàn)在，是德科技基于磷化銦 (InP) 工藝的 Infiniium 系 列高帶寬示波器，  憑借其優(yōu)異的低噪聲、低抖動底噪等硬件性能 和的尾部擬合”Tail-fit”抖動分離算法等軟件，一直是被 Intel 和Thunderbolt 認證實驗室認可和批準使用的高帶寬示波器。

進入到 USB4.0 時代，大家如果仔細通讀每一個版本的測試規(guī)范， 都可以發(fā)現(xiàn)，所以的儀表截屏、設(shè)定和算法，采用的都是德科技 高帶寬示波器。

2019 年，是德科技基于第二代磷化銦(InP 工藝，推出了 110GHz 帶寬， 256GSa/s 采樣率，硬件 10bit ADC，25fs 抖動底噪的 UXR 系列示波器， 將高速信號量測精度推到了另外一個高度。如下所示，  是是德科 技 UXR 示波器和已是業(yè)內(nèi)的是德科技 V 系列示波器，測試同 一個 USB4.0 信號的測試結(jié)果比較，  UXR 示波器提供了更優(yōu)的信號 測試余量。 USB3.0信號測試方法定義？

（1）速度快：接口的傳輸速度高達480 Mbit／s，完全能滿足高速數(shù)據(jù)交換的要求；  （2）連接簡單快捷：所有的 USB設(shè)備利用通用的連接器，無需打開主機機箱就可簡單方便地連人計算機，實現(xiàn)熱拔插；  （3）無需外接電源：USB電源向低壓設(shè)備提供 5V電源；  （4）有不同的帶寬和連接距離：USB 2．0提供全速與高速 2種傳輸數(shù)率規(guī)格，使用戶有足夠的帶寬供新的外設(shè)使用；  （5）良好的兼容性：系統(tǒng)檢測到 1．1版本的接口類型時，會自動按照 12 Mbit／s的速度傳輸 ，而其他采用2．0版本的外設(shè)還是能以2．0所規(guī)定的速率傳輸。USB2.0一致性測試環(huán)和報告解讀；重慶DDR測試USB測試

USB2.0一致性測試環(huán)境；示波器、測試軟件、夾具；校準USB測試HDMI測試

USB電纜/連接器測試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號帶寬高出很多，電纜、連接器和信號傳輸路徑驗證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對支持10Gbps信號的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測 試標準是矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)。另外，對于電纜來說還有一些時域參數(shù)，如差分阻抗和 不對稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個參數(shù)通常是用TDR/TDT來測量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過增加時域TDR選件(對頻域測試參數(shù)進行反FFT變換實現(xiàn))的方 式實現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USB Type-C電纜上要測試的線對數(shù)量很多，通過模塊化的 設(shè)計，VNA可以在一個機箱里支持多達32個端口，因此所有差分電纜/連接器的測試項目 都可以通過一 臺多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測試夾具進行 Type-C 的USB 電纜測試的例子。 校準USB測試HDMI測試