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企業(yè)商機(jī)
USB測(cè)試基本參數(shù)
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USB測(cè)試企業(yè)商機(jī)

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實(shí)際界面,它可以通過USB4ElectricalTestT;手動(dòng)控制)或者USB4ElectricalTestToolCLI.exe(commandlineinterface;自動(dòng)化編程控制)兩種方式,使被測(cè)設(shè)備產(chǎn)生必須的測(cè)試碼型。

b)TransmitterPresetCalibrationUSB4.0信號(hào)為了補(bǔ)償有損鏈路帶來(lái)的損耗,定義了16種發(fā)送端均衡(Preset0~Preset15),測(cè)試規(guī)范規(guī)定在做發(fā)送端測(cè)試前,需要對(duì)每一個(gè)接口的每一對(duì)高速信號(hào)支持的每一種速率分別做Preset的校準(zhǔn),選擇能夠提供值小DDJ值的Preset值,把它設(shè)定到被測(cè)體的固件里,作為后續(xù)驗(yàn)證的基礎(chǔ)。 USB2.0USB3.0測(cè)試方法區(qū)別?校準(zhǔn)USB測(cè)試維修價(jià)格

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和發(fā)送端測(cè)試類似,  USB4.0 需要支持有源電纜 (Case 1) 和無(wú)源電 纜 (Case 2) 兩種應(yīng)用場(chǎng)景,接收端對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)分別是 TP3’和 TP3。既然信號(hào)源需要提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的符合規(guī)范的壓力信號(hào)進(jìn)行 接收端測(cè)試,  就必須采用示波器對(duì)壓力信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn),  保證信號(hào) 源發(fā)出的信號(hào)經(jīng)過不同的夾具、電纜后到達(dá)測(cè)試點(diǎn)各壓力成分均 滿足規(guī)范的要求。同時(shí)在接收端測(cè)試時(shí),  我們需要準(zhǔn)備兩條被 USB-IF 協(xié)會(huì)認(rèn)證過的無(wú)源電纜,  2M 長(zhǎng)的 USB4.0 Gen2(10Gb/s) 無(wú)源 電纜和 0.8M 長(zhǎng)的 USB4.0 Gen3(20Gb/s) 無(wú)源電纜,  模擬惡劣的鏈 路環(huán)境。黑龍江USB測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試USB 3.2 & 2.0 兼容性測(cè)試;

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USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”;測(cè) 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無(wú)源電纜兩種應(yīng)用場(chǎng)景,  針對(duì) 的測(cè)試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3,  即通俗講的近端測(cè)試和遠(yuǎn)端測(cè)試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測(cè)試時(shí),需要考慮無(wú)源電纜的影響。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無(wú)源電纜很難完整的表征所有惡劣的場(chǎng)景,  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等,為了保證測(cè)試的一致性和可重復(fù)性,發(fā)動(dòng)端測(cè) 試都是用軟件的算法,  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式, 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時(shí),  為了保證測(cè)試精度,  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號(hào)捕獲前,需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測(cè)試電纜的影響。

基于Type-C接口還可以更好地支持Power Delivery技術(shù),以實(shí)現(xiàn)更智能強(qiáng)大的 充電能力。即插即用、數(shù)據(jù)傳輸與充電合一是USB接口的一個(gè)重要特征。在USB2.0時(shí) 代,USB接口可以支持2.5W的供電能力(5V/500mA),到USB3.0時(shí)代提高到了4.5W (5V/900mA),但這樣的供電能力對(duì)于筆記本或者一些稍大點(diǎn)的電器都是不夠的。由于一 些產(chǎn)品的質(zhì)量問題,也出現(xiàn)過充電過程中起火燒毀的事故。為了支持更強(qiáng)大的充電能力,同 時(shí)避免安全隱患,USB3.1標(biāo)準(zhǔn)中引入了Power Delivery協(xié)議(即PD協(xié)議),一方面允許更 大范圍的供電能力(比如5V/2A、12V/1.5A、12V/3A、12V/5A、20V/3A、20V/5A),另一方 面要通過CC線進(jìn)行PD的協(xié)商以了解線纜和對(duì)端支持的供電能力,只有協(xié)商成功后才允 許提供更高的電壓或工作電流。圖3. 16展示了PD協(xié)議中定義的不同等級(jí)的供電能力 標(biāo)準(zhǔn)??藙诘率静ㄆ鱑SB2.0測(cè)試方案;

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USB測(cè)試

在USB4.0的接收容限測(cè)試中,壓力信號(hào)的產(chǎn)生和校準(zhǔn)是非常復(fù)雜的工作,同時(shí)測(cè)試中 還需要和被測(cè)設(shè)備進(jìn)行頻繁的數(shù)據(jù)讀取和交互,因此接收容限測(cè)試都是在自動(dòng)測(cè)試軟件的 控制下進(jìn)行。

除了接收容限測(cè)試以外,為了控制接收端的反射影響,USB4.0的規(guī)范還要求對(duì)接收端 的回波損耗(Return Loss)進(jìn)行測(cè)試。這個(gè)測(cè)試主要借助于網(wǎng)絡(luò)分析儀,對(duì)端口的差模和共?;夭〒p耗進(jìn)行測(cè)試。圖3.38是USB4.0接收端回波損耗的測(cè)試組網(wǎng)。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

地址:深圳市南山區(qū)南頭街道中祥路8號(hào)君翔達(dá)大廈A棟2樓H區(qū) USB2.0一致性測(cè)試環(huán)境;吉林USB測(cè)試聯(lián)系方式

USB2.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試方法?校準(zhǔn)USB測(cè)試維修價(jià)格

c)EqualizationCalibration針對(duì)無(wú)源電纜的應(yīng)用場(chǎng)景,USB的發(fā)送端測(cè)試點(diǎn)在TP3。示波器在進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量分析前,需要模擬真實(shí)device,引入一個(gè)參考均衡算法,減輕有損電纜對(duì)信號(hào)質(zhì)量的惡化。USB4.0定義了這種參考均衡算法可以有多種不同的連續(xù)時(shí)間線性均衡(CTLE:Continuous-Time-Linear-Equalizer)和判決反饋均衡(DFE:Decision-Feedback-Equalizer)組成。在做TP3測(cè)試前,需要sweep這些組合,找到能提供眼圖面積(如果面積相等,參考眼高)的算法,以此為基礎(chǔ),得到TP3相關(guān)的測(cè)試結(jié)果。

d)USB4.0抖動(dòng)分離為了更好表征高達(dá)20Gbps的USB4.0信號(hào)質(zhì)量,不同于USB3.2測(cè)試Tj,Rj和Dj三個(gè)抖動(dòng)指標(biāo),USB4.0定義了嚴(yán)格的TJ,UDJ,DDJ,LPUDJ,DCD等抖動(dòng)指標(biāo),并且對(duì)每個(gè)指標(biāo)如何做抖動(dòng)分離、如何測(cè)量做了詳細(xì)的規(guī)定。 校準(zhǔn)USB測(cè)試維修價(jià)格

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USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試在進(jìn)行USB3.x發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí),會(huì)要求測(cè)試對(duì)象發(fā)出特定的測(cè)試碼型,用實(shí)時(shí)示波器對(duì)該碼型進(jìn)行眼圖分析,并測(cè)量信號(hào)的幅度、抖動(dòng)、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時(shí)間等。雖然看起來(lái)好像比較簡(jiǎn)單,但實(shí)際上USB3.x針對(duì)超高速部分的信號(hào)測(cè)試與傳統(tǒng)USB2.0的測(cè)試方法有較大的不同,包括很多算法的處理和注意事項(xiàng)。首先,由于USB3.x信號(hào)速率很高,且信號(hào)的幅度更小,因此測(cè)試中需要更高帶寬的示波器。對(duì)于5Gbps信號(hào)的測(cè)試,推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器;對(duì)于10Gbps信號(hào)的測(cè)試,推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次,對(duì)于USB3.x發(fā)送端測(cè)試,其測(cè)試的參考點(diǎn)不是...

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