為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對于發(fā)射端來說，PCle5.0相對于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。pcie物理層面檢測,pcie時(shí)序測試；內(nèi)蒙古PCI-E測試維修

并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖，這個(gè)分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實(shí)現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實(shí) 際測試到的眼圖從實(shí)現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實(shí)際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點(diǎn)和誤碼數(shù)統(tǒng)計(jì)等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號(hào)Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室內(nèi)蒙古PCI-E測試維修PCI-E的信號(hào)測試中否一定要使用一致性測試碼型？

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。

關(guān)于各測試項(xiàng)目的具體描述如下：·項(xiàng)目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)質(zhì)量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)中的脈沖寬度抖動(dòng)，針對16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗(yàn)證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間，針對8Gbps和16Gbps速率。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設(shè)計(jì)；

是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接，具體的標(biāo)定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號(hào)進(jìn)行捕獲和信號(hào)質(zhì)量分析。正式 的信號(hào)質(zhì)量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號(hào)的惡化以及均衡器對信號(hào)的 改善效果都考慮進(jìn)去，PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動(dòng)等測試的參考點(diǎn) 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號(hào)的惡化的影響以及均 衡器對信號(hào)的改善影響都考慮進(jìn)去。 PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時(shí)候推出？有什么變化？電氣性能測試PCI-E測試項(xiàng)目

PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化；內(nèi)蒙古PCI-E測試維修

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過夾具連接示波器做校準(zhǔn)，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。內(nèi)蒙古PCI-E測試維修

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