。DPHY的物理層支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)兩種工作模式。HS模式下采用低壓差分信號，功耗較大，但是可以傳輸很高的數(shù)據(jù)速率（數(shù)據(jù)速率為80M1GbpsLP模式下采用單端信號，數(shù)據(jù)速率很低（<10Mbps），但是相應的功耗也很低。兩種模式的結(jié)合保證了MIPI總線在需要傳輸大量數(shù)據(jù)（如圖像）時可以高速傳輸，而在不需要大數(shù)據(jù)量傳輸時又能夠減少功耗。用示波器捕獲的MIPI信號，可以清楚地看到HS和LP信號。

由于 MIPI D PHY 的信號比較復雜，要保證接口 信號和協(xié)議 的一致性需要很復雜的測試。為了提高測試的效率， Keysight 提供了基于示波器和邏輯分析儀的 MIPI D PHY 測試平臺。 D-PHY的發(fā)送信號質(zhì)量測試主要應該包含有哪些測試項目；河南MIPI測試故障

MIPI-DSI接口以MIPID-PHY協(xié)議定義的物理傳輸層為基礎(chǔ)，DPHY定義的物理傳輸層多可支持4個數(shù)據(jù)通道，1個時鐘通道，每個通道在低功耗模式時以1.2V的低速信號傳輸，在高速模式時則采用擺幅為200毫伏的低壓差分信號傳輸，從而相對于現(xiàn)有的設(shè)備表現(xiàn)出更高性能，更低功耗，更低EMI和更少的引腳，LCOS顯示芯片是一種硅基液晶微顯示技術(shù)，常用與便攜式移動電子設(shè)備中，如可穿戴式設(shè)備，要求具有很低的功耗，又要具有較高的顯示分辨率。因此筆者設(shè)計了一種適用于LCOS顯示芯片的MIPIDSI顯示驅(qū)動接口，支持的分辨率為1280*720，幀率60Hz。黑龍江MIPI測試規(guī)格尺寸MIPI LCD 的CLK時鐘頻率與顯示分辨率及幀率的關(guān)系;

當主機向從機發(fā)送TA(turnaround)請求序列LP-II->LP-IO>LPOO>LP-IO>LPOO時，從機檢測到正確的序列后即將低功耗發(fā)送使能端和線路檢測使能端置1。在序列檢測過程中，當接收到LP-II狀態(tài)時則從機立即終止該模式的進入，使通道處于LP-II狀態(tài)。當接口工作于高速接收模式時，主要負責接收主機發(fā)送過來的圖像數(shù)據(jù)，并對數(shù)據(jù)包進行解碼，將圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成RGB666、RGB565、RGB888三種格式輸出到LCOS驅(qū)動控制模塊中點亮液晶像素。并生成行同步信號、場同步信號、數(shù)據(jù)有效信號及像素時鐘信號。當接口工作于低功耗接收模式下時，負責接收主機發(fā)送過來的低功耗命令和數(shù)據(jù)，并將其轉(zhuǎn)換成MIPI協(xié)議所描述的DBI格式輸出到LCOS驅(qū)動控制器中，對LCOS顯示模式及參數(shù)進行配置。

終端電阻的校準，需要通過如圖3所示的RTUN模塊來實現(xiàn)。它的原理是利用片外精細電阻對片內(nèi)電阻進行校準。基準電路產(chǎn)生的基準電壓vba(1.2V)經(jīng)過buffer在片外6.04K電阻上產(chǎn)生電流，用同樣大小的電流ires流經(jīng)片內(nèi)電阻產(chǎn)生電壓與rex-tv(1.2V)進行比較，觀察比較器的輸出。通過setrd來控制W這三個開關(guān)，從000到111掃描，再從111到000掃描，改變片內(nèi)電阻大小，觀察比較器輸出cmpout信號的變化，從而得到使得片內(nèi)電阻接近6.04K的控制字。圖2中的比較器終端電阻采用與該模塊相同類型的電阻，以及成比例的電阻關(guān)系。當RTUN模塊完成校準后，得到的控制字setrd同時控制比較器的終端電阻，從而使得比較器終端電阻接近100歐姆。數(shù)字示波器使用及MIPI-DSI信號測量;

MIPICSI/DSI的協(xié)議測試

對于從事MIPICSI/DSI的芯片和模塊開發(fā)的用戶來說，需要的是能夠地驗證被測件的功能及在各種可能出現(xiàn)的情況下的表現(xiàn)，依靠示波器提供的信號質(zhì)量分析和協(xié)議解碼功能就不太夠了(主要是內(nèi)存深度和觸發(fā)功能的限制)，這時的協(xié)議分析儀是個更好的選擇，例如Agilent公司基于U4421A平臺的MIPICSI/DSI的協(xié)議分析和信號激勵方案。如圖13.14所示，U4421A采用的也是AXIe的模塊式結(jié)構(gòu)，是插在AXle機箱里的一個分析模塊，根據(jù)不同的License選件可以配置分析儀或訓練器功能,或者兩者兼有。 電氣測試：檢驗MIPI信號的電氣參數(shù)是否符合規(guī)范，包括差分阻抗、峰峰電壓等；湖北MIPI測試檢修

MIPI測試有什么作用？河南MIPI測試故障

MIPI還是一個正在發(fā)展的規(guī)范，其未來的改進方向包括采用更高速的嵌入式時鐘的M-PHY作為物理層、CSI/DSI向更高版本發(fā)展、完善基帶和射頻芯片間的DigRFV4接口、定義高速存儲接口UFS(主要是JEDEC組織)等。當然，MIPI能否成功，還取決于市場的選擇。

當前，終端市場要求新設(shè)計具有更低功耗、更高數(shù)據(jù)傳輸率和更小的PCB占位空間，在這種巨大壓力之下，一些智能化且具有更高性能價格比的替代方案開始逐漸為相關(guān)設(shè)計人員所采用。現(xiàn)在使用的幾種基于標準的串行差分接口當中，MIPI接口在功率敏感同時又要求高性能的移動手持式設(shè)備領(lǐng)域中的增長極為迅速。而基帶和顯示器/相機模塊對MIPI顯示器串行接口(DisplaySerialInterface，DSI)和相機串行接口(CameraSerialInterface，CSI-2)協(xié)議的采納，正是這種增長的主要推動力。DSI和CSI-2是分別針對顯示器和相機要求的邏輯層(logical-level)協(xié)議，它們通過物理互連對主機與外設(shè)之間的數(shù)據(jù)進行管理、差錯和通信。MIPID-PHY規(guī)定了連接處理器和外設(shè)的物理層的物理及電氣特性，這些MIPI接口為服務移動設(shè)備市場而專門設(shè)計。 河南MIPI測試故障

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