MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)與仿真

MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)模擬部分采用定制方法，數(shù)字部分采用Veriloa語(yǔ)言描述，程序設(shè)計(jì)采用層次化設(shè)計(jì)方法，根據(jù)圖2所示是MIPI-DSI接口總體功能電路設(shè)計(jì)框圖，編寫系統(tǒng)spec和模塊spec，設(shè)定各個(gè)功能模塊的互連接目，每個(gè)模塊的數(shù)據(jù)流外理都采用有限狀態(tài)機(jī)進(jìn)行描述。MIPLDSI在上由初始化時(shí)外干閑苦狀態(tài)，總線都處于LP-II狀態(tài)，當(dāng)檢測(cè)到主機(jī)發(fā)送序列時(shí)，從機(jī)接收序列，并判斷開始進(jìn)入哪種工作模式，主要有高速接收、Escape模式和反向傳輸(Turnaround)模式。

設(shè)計(jì)的頂層模塊，為頂層模塊搭建測(cè)試平臺(tái)的初始化環(huán)境，根據(jù)MIPI協(xié)議描述的DSI接口的各個(gè)功能，編寫測(cè)試激勵(lì)testcase，通過(guò)建立虛擬主機(jī)發(fā)送端，建立虛擬顯示驅(qū)動(dòng)接收端，搭建起系統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái)，仿真結(jié)果 數(shù)據(jù)線的HS信號(hào)質(zhì)量測(cè)試；眼圖測(cè)試MIPI測(cè)試銷售電話

MIPI一致性測(cè)試

MIPI一致性測(cè)試是一種用于檢查MIPI設(shè)備是否符合MIPI聯(lián)盟制定規(guī)范的測(cè)試方法。這種測(cè)試方法通常包括兩個(gè)方面：功能性測(cè)試和互操作性測(cè)試。在功能性測(cè)試中，測(cè)試設(shè)備會(huì)執(zhí)行一系列針對(duì)特定MIPI協(xié)議的測(cè)試程序，并檢查設(shè)備是否正確地響應(yīng)和處理測(cè)試指令。例如，針對(duì)MIPIDSI（DisplaySerialInterface）協(xié)議的測(cè)試可以確保顯示器能夠正常接收和顯示圖像數(shù)據(jù)。在互操作性測(cè)試中，測(cè)試設(shè)備會(huì)模擬多種不同的設(shè)備和情境對(duì)MIPI設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，以確保設(shè)備能夠與其他設(shè)備和系統(tǒng)穩(wěn)定通信并正常工作。例如，在MIPICSI（CameraSerialInterface）協(xié)議的互操作性測(cè)試中，測(cè)試設(shè)備會(huì)模擬各種不同的攝像頭組件，并測(cè)試是否能夠正確地從攝像頭接收數(shù)據(jù)。通過(guò)MIPI一致性測(cè)試，廠商能夠檢查其MIPI產(chǎn)品是否符合MIPI聯(lián)盟制定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，確保其設(shè)備能夠與其他MIPI兼容設(shè)備無(wú)縫集成并可靠地工作。 眼圖測(cè)試MIPI測(cè)試銷售電話MIPI接口一致性測(cè)試 MIPI物理層測(cè)試 MIPI接口測(cè)試；

如何測(cè)試電接口信令？

數(shù)據(jù)在HS模式下傳送，在線路空閑時(shí)，發(fā)射機(jī)切換到低功率模式，以便節(jié)能。在高速(HS)模式下，差分電壓最小值是140mV，標(biāo)稱值是200mV，比較大值是270mV，數(shù)據(jù)速率擴(kuò)展到比較大2.5Gb/s。HS模式由兩種可能狀態(tài)組成：Differential-0(HS-0)和Differential-1(HS-1)。在低功率(LP)模式下，信令采用兩條單端線路，擺幅為1.2V，比較大運(yùn)行數(shù)據(jù)速率為10Mb/s。數(shù)據(jù)+(Dp)線路和數(shù)據(jù)-(Dn)線路相互獨(dú)立。每條線路可以有兩種狀態(tài)：0和1，這會(huì)導(dǎo)致LP模式，其有四種可能的狀態(tài)：LP-00,LP-01,LP-10,LP-11。

MIPI D-PHY的接收端容限測(cè)試

除了對(duì)于D-PHY設(shè)備的發(fā)送的信號(hào)質(zhì)量有要求以外，MIPI協(xié)會(huì)還規(guī)定了對(duì)于接收端的容限要求，D-PHY的CTS規(guī)定的接收端的測(cè)試項(xiàng)目主要包含以下幾個(gè)部分。

(1)LP信號(hào)電平和時(shí)序的判決容限(GROUP1:LP-RXVOLTAGEANDTIMINGREQUIREMENTS):其中包含了被測(cè)件對(duì)于LP信號(hào)高電平、低電平的判決閾值和容限對(duì)于脈沖寬度的判決容限測(cè)試等。(TestIDs:2.1.1，2.1.22.1.3,2.1.4,2.1.5.2.1.6，2.1.7，2.1.8)

(2)LP狀態(tài)下的指令時(shí)序判決容限(GROUP2:LP-RXBEHAVIORALREQUIREMENTS):其中包含了被測(cè)件在LP狀態(tài)下對(duì)于初始化、喚醒、Escape模式切換指令時(shí)序的判決容限測(cè)試等。(TestIDs:2.2.1，2.2.2,2.2.3，2.2.4，2.2.5,2.2.6,2.2.7，2.2.8) 什么是mipi一致性測(cè)試；

MIPI顯示器工作組DickLawrence在一份聲明中稱，“這一標(biāo)準(zhǔn)給從簡(jiǎn)單的低端設(shè)備、到高復(fù)雜性的智能電話、再到更大型手持平臺(tái)的移動(dòng)系統(tǒng)帶給重大好處。移動(dòng)產(chǎn)業(yè)一直期待著統(tǒng)一到一種開放標(biāo)準(zhǔn)上，而SDI提供了驅(qū)動(dòng)這一轉(zhuǎn)變的強(qiáng)制性技術(shù)。

串行接口一般采用差分結(jié)構(gòu)，利用幾百mV的差分信號(hào)，在收發(fā)端之間傳送數(shù)據(jù)。串行比并行相比：更節(jié)省PCB板的布線面積，增強(qiáng)空間利用率；差分信號(hào)增強(qiáng)了自身的EMI抗干擾能力，同時(shí)減少了對(duì)其他信號(hào)的干擾；低的電壓擺幅可以做到更高的速度，更小的功耗. 信號(hào)完整性測(cè)試：檢查MIPI信號(hào)傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性，包括檢測(cè)信號(hào)波形的噪聲、抖動(dòng)、失真等;眼圖測(cè)試MIPI測(cè)試銷售電話

D-PHY的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試主要應(yīng)該包含有哪些測(cè)試項(xiàng)目；眼圖測(cè)試MIPI測(cè)試銷售電話

數(shù)據(jù)通路[D0:D3]的D0通路是雙向通路，用于總線周轉(zhuǎn)(BTA)功能。在主發(fā)射機(jī)要求外設(shè)響應(yīng)時(shí)，它會(huì)在傳輸?shù)臄?shù)據(jù)包時(shí)向其PHY發(fā)出一個(gè)請(qǐng)求，告訴PHY層在傳輸結(jié)束(EoT)后確認(rèn)總線周轉(zhuǎn)(BTA)命令。其余通路和時(shí)鐘都是單向的，數(shù)據(jù)在不同通路中被剝離。例如，個(gè)字節(jié)將在D0上傳送，然后第二個(gè)字節(jié)將在D1上傳送，依此類推，第五個(gè)字節(jié)將在D0上傳送。根據(jù)設(shè)計(jì)要求，數(shù)據(jù)通路結(jié)構(gòu)可以從一路擴(kuò)充到四路。圖3是1時(shí)鐘3路系統(tǒng)上的數(shù)據(jù)剝離圖。每條通路有一個(gè)的傳輸開始(SoT)和傳輸結(jié)束(EoP)，SoT在所有通路之間同步。但是，某些通路可能會(huì)在其他通路之前先完成HS傳輸(EoT)。眼圖測(cè)試MIPI測(cè)試銷售電話