關(guān)于各測試項目的具體描述如下：·項目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗證插卡發(fā)送信號質(zhì)量，針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項目2.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動，針對16Gbps速率。·項目2.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確，針對8Gbps和16Gbps速率?！ろ椖?.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:驗證插卡能根據(jù)鏈路命令設(shè)置成正確的初始Prest值，針對8Gbps和16Gbps速率。·項目2.5Add-inCardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗證插卡對于鏈路協(xié)商的響應時間，針對8Gbps和16Gbps速率。PCI-E的信號測試中否一定要使用一致性測試碼型？多端口矩陣測試PCI-E測試價格多少

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調(diào)整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數(shù)的調(diào) 整需要反復進行以得到 一個比較好化的組合。校準中會調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達到要求，會在誤碼儀中進 一步調(diào)整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達到參數(shù)要求。山西數(shù)字信號PCI-E測試在PCI-E的信號質(zhì)量測試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進行分析？

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導芯片設(shè)計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導服務器、計算機和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。

對于PCIe來說，由于長鏈路時的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量，在PCIe3.0時代，有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量，但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標準中，規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值，使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯誤？

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIGPCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測試；青海PCI-E測試維修電話

高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；多端口矩陣測試PCI-E測試價格多少

相應地，在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中，也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時鐘，可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應用場景(比如通過Cable連接時)提供便利，但由于收發(fā)端參考時鐘不同源，所 以對于收發(fā)端的設(shè)計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構(gòu)，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。多端口矩陣測試PCI-E測試價格多少

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