PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測(cè)試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對(duì)于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測(cè)試來(lái)說(shuō)，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號(hào)并驗(yàn)證其信號(hào)質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測(cè)試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對(duì)于PCIe4.0來(lái)說(shuō)，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測(cè)試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上。如果要進(jìn)行主板的測(cè)試，測(cè)試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測(cè)試方式，即把被測(cè)的數(shù)據(jù)通道和參考時(shí)鐘同時(shí)接入示波器，這樣在進(jìn)行抖動(dòng)分析時(shí)就可以把一部分參考時(shí)鐘中的抖動(dòng)抵消掉，對(duì)于參考時(shí)鐘Jitter的要求可以放松一些。PCI-E3.0設(shè)計(jì)還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎？浙江設(shè)備PCI-E測(cè)試

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測(cè)試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測(cè)試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測(cè)試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測(cè)試夾具、1塊可 變ISI的測(cè)試夾具。在測(cè)試中，CBB4用于插卡的TX測(cè)試以及主板RX測(cè)試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測(cè)試以及插卡RX測(cè)試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測(cè)試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無(wú)論是哪種測(cè)試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測(cè)試夾具的原因是在PCIe4.0 的測(cè)試規(guī)范中，要求通過(guò)硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過(guò)孔以及連接器造成的損耗。湖南機(jī)械PCI-E測(cè)試PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無(wú)法引出，則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。

雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當(dāng)采用比較便宜的PCB板材時(shí)，就不得不適當(dāng)減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個(gè)連接器實(shí)現(xiàn)可靠信號(hào)傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個(gè)16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi)，其中主板上芯片封裝、PCB/過(guò)孔走線、連接器的損耗總 預(yù)算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過(guò)孔走線的損耗總預(yù)算為-8dB@8GHz。

整個(gè)鏈路的長(zhǎng)度需要控制在12英寸以內(nèi)，并且鏈路上只能有一個(gè)連接器。如果需要支持更 長(zhǎng)的傳輸距離或者鏈路上有更多的連接器，則需要在鏈路中插入Re-timer芯片對(duì)信號(hào)進(jìn)行 重新整形和中繼。圖4.6展示了典型的PCle4.0的鏈路模型以及鏈路損耗的預(yù)算，圖中各 個(gè)部分的鏈路預(yù)算對(duì)于設(shè)計(jì)和測(cè)試都非常重要，對(duì)于測(cè)試部分的影響后面會(huì)具體介紹。 PCI-E 3.0及信號(hào)完整性測(cè)試方法;

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些PCIE物理層鏈路一致性測(cè)試狀態(tài)設(shè)計(jì)；天津PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格

多個(gè)cpu socket的系統(tǒng)時(shí)，如何枚舉的？浙江設(shè)備PCI-E測(cè)試

PCIe4.0的接收端容限測(cè)試在PCIel.0和2.0的時(shí)代，接收端測(cè)試不是必需的，通常只要保證發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量基本就能保證系統(tǒng)的正常工作。但是從PCle3.0開始，由于速率更高，所以接收端使用了均衡技術(shù)。由于接收端更加復(fù)雜而且其均衡的有效性會(huì)影響鏈路傳輸?shù)目煽啃?，所以接收端的容限測(cè)試變成了必測(cè)的項(xiàng)目。所謂接收容限測(cè)試，就是要驗(yàn)證接收端對(duì)于惡劣信號(hào)的容忍能力。這就涉及兩個(gè)問(wèn)題，一個(gè)是惡劣信號(hào)是怎么定義的，另一個(gè)是怎么判斷被測(cè)系統(tǒng)能夠容忍這樣的惡劣信號(hào)。浙江設(shè)備PCI-E測(cè)試

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