在物理層方面，PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸，每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。PCI-E3.0設(shè)計(jì)還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎？山西PCI-E測(cè)試代理商

PCIe4.0的測(cè)試夾具和測(cè)試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測(cè)試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測(cè)試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測(cè)信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對(duì)于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試來說，CBB用于插卡的測(cè)試，CLB用于主板的測(cè)試；但是在接收容限測(cè)試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過夾具連接示波器做校準(zhǔn)，所以無論是主板還是插卡的測(cè)試，CBB和CLB都需要用到。浙江PCI-E測(cè)試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)PCI-E 3.0測(cè)試接收端的變化；

在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，為了避免10Gbps的電信號(hào)傳輸帶來的挑戰(zhàn)，PCI-SIG  終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼  更換為更有效的128b/130b編碼，以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時(shí)，為了保證數(shù)據(jù)傳輸  密度和直流平衡，還采用了擾碼的方法，即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個(gè)多項(xiàng)式進(jìn)行異或，這樣傳輸  鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機(jī)性，可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時(shí)鐘恢復(fù)。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會(huì)再用相同的多項(xiàng)式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來。

相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測(cè)試中，也會(huì)要求測(cè)試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場(chǎng)景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試解決方案；

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類型的板卡，針對(duì)一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯(cuò)誤？遼寧PCI-E測(cè)試檢查

PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；山西PCI-E測(cè)試代理商

當(dāng)被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后，被測(cè)件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測(cè)試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn)  行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場(chǎng)合。在接收端容限測(cè)試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時(shí)  間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準(zhǔn)和測(cè)試。 一般建議事先用VNA  標(biāo)定和選擇好鏈路，這樣校準(zhǔn)過程會(huì)快很多，測(cè)試結(jié)果也會(huì)更加準(zhǔn)確。所以，在PCIe4.0的  測(cè)試中，無論是發(fā)送端測(cè)試還是接收端測(cè)試，都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道  選擇。山西PCI-E測(cè)試代理商

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