PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測(cè)試中，為了把被測(cè)主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測(cè)試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試需要用到CBB板；而在接收容限測(cè)試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測(cè)試夾具組成。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？DDR測(cè)試PCI-E測(cè)試代理品牌

測(cè)試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測(cè)試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測(cè)試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時(shí)，信號(hào)的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進(jìn)行，人工操作非常耗時(shí)耗力。為了解決這個(gè) 問題，接收端容限測(cè)試時(shí)也會(huì)使用自動(dòng)測(cè)試軟件，這個(gè)軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動(dòng)校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測(cè)件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài)，并自動(dòng)進(jìn)行環(huán)回?cái)?shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計(jì)。圖4 . 18是典型自動(dòng)校準(zhǔn)和接收容限測(cè)試軟件的界面，以及相應(yīng)的測(cè)試福建PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試pcie4.0和pcie2.0區(qū)別？

綜上所述，PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶自己設(shè)計(jì)測(cè)試板；對(duì)于主板或者  插卡的測(cè)試來說，測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時(shí)除了要嵌入芯片封裝的線路模型以外，還要把均衡器對(duì)信號(hào)的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會(huì)提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動(dòng)測(cè)試軟件都可以為PCle4. 0的測(cè)試提供很好的幫助。

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?！latformBIOSTesting(平臺(tái)BIOS測(cè)試):用于檢查主板BIOS識(shí)別和配置PCIe外設(shè)的能力。對(duì)于PCIe4.0來說，針對(duì)之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性，替換或增加了以下測(cè)試項(xiàng)目·InteroperabilityTesting(互操作性測(cè)試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測(cè)試)?！aneMargining(鏈路裕量測(cè)試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對(duì)電氣特性測(cè)試，又有專門的物理層測(cè)試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試方法。表4.2是針對(duì)PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測(cè)試項(xiàng)目,其中灰色背景的測(cè)試項(xiàng)目都涉及鏈路協(xié)商功能。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目，提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板，測(cè)試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入，測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。 PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化；安徽PCI-E測(cè)試銷售價(jià)格

pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？DDR測(cè)試PCI-E測(cè)試代理品牌

在測(cè)試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測(cè)試采用了雙口(Dual-Port)測(cè)試方法，即需要 把被測(cè)的一條通道和參考時(shí)鐘RefClk同時(shí)接入示波器測(cè)試。由于測(cè)試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測(cè)試時(shí)需要用到4個(gè)示波器通道(雖然理論上也可以用2個(gè) 差分探頭實(shí)現(xiàn)連接，但是由于會(huì)引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點(diǎn)是可以比較方便地計(jì)算數(shù)據(jù)通道相對(duì)于RefClk的抖動(dòng)。但在PCIe5.0中，對(duì)于 主板的測(cè)試也采用了類似于插卡測(cè)試的單口(Single-Port)方法，即只把被測(cè)數(shù)據(jù)通道接入 示波器測(cè)試，這樣信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中只需要占用2個(gè)示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號(hào)質(zhì)量測(cè)試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIGDDR測(cè)試PCI-E測(cè)試代理品牌

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