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當(dāng)測(cè)試座出現(xiàn)接觸不良問題時(shí),有哪些常見的排查和修復(fù)方法?

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深圳市欣同達(dá)科技有限公司2024-11-12

當(dāng)測(cè)試座出現(xiàn)接觸不良問題時(shí),常見的排查和修復(fù)方法如下: 外觀排查:首先對(duì)測(cè)試座進(jìn)行外觀檢查,看是否有明顯的彎曲、折斷、變形等情況。檢查夾具是否能正常夾緊和松開,探針是否有彎曲、折斷等現(xiàn)象。如果發(fā)現(xiàn)有明顯的機(jī)械損傷,可能需要更換相應(yīng)的部件(如夾具、探針等)。 清潔處理:很多時(shí)候,接觸不良可能是由于灰塵、雜物等雜質(zhì)進(jìn)入測(cè)試座,導(dǎo)致接觸部分受到污染。按照前面提到的清潔方法,對(duì)測(cè)試座進(jìn)行徹底清潔,包括表面和內(nèi)部,特別是接觸探針周圍,看是否能解決接觸不良問題。 接觸電阻測(cè)量:使用低電阻測(cè)量?jī)x器,如微歐計(jì)或毫歐計(jì),測(cè)量測(cè)試座的接觸電阻。將測(cè)量探頭連接到測(cè)試座的對(duì)應(yīng)接觸點(diǎn)上,測(cè)量其在正常接觸狀態(tài)下的電阻值。如果測(cè)量值過比較大,說明存在接觸不良問題。此時(shí)可以進(jìn)一步排查是哪個(gè)接觸點(diǎn)出現(xiàn)問題,如通過逐一測(cè)量各個(gè)探針與插座之間的電阻值,找到電阻值異常的接觸點(diǎn),然后針對(duì)性地進(jìn)行修復(fù)。 調(diào)整夾具和探針:如果經(jīng)過上述排查后發(fā)現(xiàn)問題不是出在機(jī)械損傷和雜質(zhì)污染方面,可能需要調(diào)整夾具的夾緊力度、固定位置等,或者調(diào)整探針的間距、插入深度等,看是否能改善接觸不良的情況。

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簡(jiǎn)介:研發(fā)、生產(chǎn)和銷售半導(dǎo)體芯片測(cè)試插座。提供定制化的測(cè)試插座方案
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