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企業(yè)商機(jī)
搪錫機(jī)基本參數(shù)
  • 品牌
  • 桐爾
  • 型號(hào)
  • JTX650
  • 產(chǎn)地
  • 上海閔行區(qū)
  • 廠家
  • 上海桐爾
  • 所適用芯片種類
  • QFP、LQFP、RQFP、TOFP
搪錫機(jī)企業(yè)商機(jī)

半導(dǎo)體行業(yè)為什么要用搪錫機(jī)

在半導(dǎo)體行業(yè)中,搪錫工藝是一種關(guān)鍵的工藝步驟。主要原因如下:

增強(qiáng)焊接強(qiáng)度:通過將SnPb合金涂在芯片表面,搪錫工藝可以增強(qiáng)芯片之間的焊接強(qiáng)度,提高整個(gè)電路的穩(wěn)定性和可靠性。

保護(hù)芯片:SnPb合金具有較好的耐腐蝕性,可以保護(hù)芯片免受環(huán)境因素的影響,如氧化、腐蝕等。

減少因熱膨脹和振動(dòng)引起的破裂和斷裂:由于錫的物理特性,它能夠緩沖熱膨脹和振動(dòng)對(duì)芯片的影響,減少芯片因這些因素而破裂或斷裂。

總的來說,搪錫工藝提高了芯片的可靠性、穩(wěn)定性和耐用性,對(duì)于半導(dǎo)體行業(yè)來說是非常重要的工藝。

1.適用QFP/sOP/QFN/DIP封裝、電阻、電容及一些異形元件

2.解決芯片焊接面金脆、氧化現(xiàn)象、含金量,提高可焊性

3.解決手工搪錫中引腳連錫、引腳氧化問題

4.數(shù)據(jù)自動(dòng)記錄。 金可能會(huì)導(dǎo)致眾所周知的金脆裂現(xiàn)象,因此需要將其去除。江蘇多功能搪錫機(jī)價(jià)格查詢

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即質(zhì)量的3%)所對(duì)應(yīng)的金鍍層的厚度的認(rèn)識(shí)尚不統(tǒng)一。長(zhǎng)春光機(jī)所工藝人員認(rèn)為:“這種含量對(duì)應(yīng)的金層厚度約為μm”;2000年以后IPC-2221A-2003,GJB362B-2009,IPC-6012C-2010,QJ3103A-2011和QJ831B-2011規(guī)定為μm;而GB/(按IEC61191-1)規(guī)定為不應(yīng)超過μm。2)直接焊接金鍍層在直接焊接金鍍層時(shí),錫/鉛合金對(duì)金鍍層產(chǎn)生強(qiáng)烈的溶解作用,金鍍層與焊料中的錫金屬結(jié)合生成金錫合金,使結(jié)合部的性能變脆,機(jī)械強(qiáng)度下降,影響電氣連接的可靠性。3)維修使用金鍍層的表面所產(chǎn)生的焊點(diǎn)存在修理時(shí)再次焊接困難、受振動(dòng)時(shí)容易產(chǎn)生疲勞斷裂和容易向焊料的錫中擴(kuò)散而產(chǎn)生“金脆化”。4)鍍金厚度的影響(1)鍍金層厚度小于μm時(shí),容易產(chǎn)生***,不能滿足可焊性要求;而且由于這種鍍金層是厚度極薄、附著力差的多孔性鍍金層,空氣中的氧能夠很容易的深入到底層金屬表面,對(duì)基體金屬產(chǎn)生銹蝕作用。一旦用能夠熔掉金的錫-鉛焊料焊接這種表面時(shí),金鍍層完全被溶解到焊料去,從而使已經(jīng)銹蝕了的底層基體金屬表面直接暴露在焊料中,從而導(dǎo)致反潤濕甚至不潤濕現(xiàn)象。(2)鍍金厚度在μm時(shí),能在2秒時(shí)間內(nèi)溶于低熔點(diǎn)的錫-鉛焊料中。(3)當(dāng)鍍金厚度大于μm時(shí)。浙江直銷搪錫機(jī)設(shè)計(jì)搪錫是一種涂覆在金屬表面的保護(hù)性薄層,主要由錫和其他金屬合金組成。它通常用于保護(hù)金屬制品免受氧化。

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根據(jù)IPCJ-STD-001D-2005規(guī)定,應(yīng)用波峰焊接的鍍金引線無須預(yù)先除金。片式元器件焊端的鍍覆國內(nèi)基本上是電鍍Sn、SnPb和SnPd合金;國外已經(jīng)無鉛化,焊端是金鍍層的元器件已經(jīng)很少,見表2。元器件焊端或引腳表面的鍍層厚度見表3。從表3可以看出,表面貼裝器件焊端金鍍層的厚度是很薄的,一般在μm。在Sn-Pb焊料中的熔解曲線也可以看出:當(dāng)鍍金厚度>μm時(shí),才有足夠的金元素向焊料中擴(kuò)散而產(chǎn)生脆性。薄的鍍金層能在焊接時(shí)迅速熔于焊料中,此時(shí)焊料中的錫與鎳層形成錫鎳共價(jià)化合物,使焊點(diǎn)更牢固,少量的金熔于錫中不會(huì)引起焊點(diǎn)變脆,金層起保護(hù)Ni層不被氧化的作用。Ni作為Cu和金之間的隔離層,防止盤層的孔隙在受潮濕時(shí)與Cu層形成微電池而腐蝕Cu。一般認(rèn)為,少量的金不至于引起金脆,所以對(duì)表貼器件一般不采取去金措施。三.元器件引線/焊端“除金”工藝1.去金搪錫通用工藝1)手工智能焊臺(tái)去金搪錫使用烙鐵進(jìn)行手工搪錫,搪錫溫度一般為260℃~280℃,時(shí)間為2s~3s,然后用吸錫繩加熱后吸除表面的搪錫層,若表面鍍金層大于μm,應(yīng)再進(jìn)行一次搪錫處理。由于鍍金層厚度有時(shí)很難判斷,一般全部按二次搪錫處理;該方法同樣適用于連接器焊杯的去金處理。手工搪錫法。

力學(xué)強(qiáng)度下降,產(chǎn)生“金脆”現(xiàn)象,影響電氣連接的可靠性。按照焊點(diǎn)可靠性要求,焊縫焊料中的金濃度應(yīng)小于3wt%(限制濃度)。由此可以判定失效的原因是由于焊縫焊料中的金元素濃度過高而導(dǎo)致接點(diǎn)抗剪強(qiáng)度退化,**終引發(fā)“金脆斷裂”。5.鍍金引線/焊端的除金規(guī)定美國NASA及美國軍標(biāo)DOD-STD-2000-1B,IPCJ-STD-001DCN和我國QJ3012,QJ3117A及SJ20632都相繼作出“在需要釬接部位的金涂敷層,應(yīng)在釬接之前全部消除,因?yàn)檫@種脆性的金-錫化合物所構(gòu)成的連接部,是特別不可靠的。因此現(xiàn)在凡是需要錫焊的表面都不允許鍍金,原來已有的也必須除去”的規(guī)定。GJB128A、GJB548B、QJ3267和由******科工局下達(dá)、**電子科技集團(tuán)牽頭,**電子科技集團(tuán)旗下四十多個(gè)研究所電子裝聯(lián)工藝人員集體研究制定,得到****科工局、航天科技集團(tuán)和中興通信等*****認(rèn)可,通過**鑒定和驗(yàn)收,并以**電子科技集團(tuán)名義下發(fā)實(shí)施的“電子裝聯(lián)焊接工藝質(zhì)量控制要求”相繼確定鍍金引線的搪錫與除金的規(guī)定及提出具體實(shí)施工藝。關(guān)于鍍金引線/焊端不能直接用鉛錫合金焊接,必須在焊接前除金的要求**早可以追溯到三十年前:★1985年3月,歐洲空間局(ESA)在《高可靠性電連接的手工焊接》。全自動(dòng)去金搪錫機(jī)還可用于通孔和SMT元器件的去金搪錫工藝。設(shè)備可以自動(dòng)處理普通和異形器件及連接器;

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兩次搪錫分別在兩個(gè)錫鍋中進(jìn)行,第二次搪錫要待電子元器件冷卻后再進(jìn)行。***次搪錫的錫鍋不可用于非鍍金引線的搪錫,錫鍋中的焊錫應(yīng)經(jīng)常更換。(3)鍍金引線的搪錫一般*局限于焊接部位的線段,如圖18所示。2)搪錫工藝流程電連接器焊杯搪錫工藝流程見圖19。(1)搪錫前外觀檢查按電子元器件配套表清點(diǎn)電連接器數(shù)量,凡不符合下述要求的電連接器應(yīng)予以更換,并報(bào)告有關(guān)人員進(jìn)行分析,具體檢查要求如下:①電連接器型號(hào)、規(guī)格、標(biāo)志應(yīng)清晰,外觀應(yīng)無損傷、無刻痕、安裝零部件應(yīng)無缺損;②電連接器焊杯、焊針應(yīng)無扭曲、無刻痕、無銹蝕、無內(nèi)縮、無偏心等現(xiàn)象;③電連接器焊杯、焊針的可焊性應(yīng)良好。(2)搪錫前電連接器焊杯清洗搪錫前,應(yīng)用浸有無水乙醇或異丙醇的無塵紙或醫(yī)用脫脂棉紗擦洗電連接器的焊杯,應(yīng)無沾污物等。(3)電連接器焊杯搪錫①用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯搪錫a)用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯一般采用電烙鐵搪錫,搪錫時(shí)要求焊杯應(yīng)呈水平狀態(tài)或略向下傾斜,焊料應(yīng)潤濕焊杯的整個(gè)內(nèi)側(cè),至少填滿焊杯的75%空間,不允許焊料溢出焊杯和流入外層,如圖20、圖21所示。b)用于焊接導(dǎo)線的電連接器焊杯電烙鐵搪錫溫度及時(shí)間見表4。全自動(dòng)搪錫機(jī)是一種高效、智能化的設(shè)備,能夠滿足現(xiàn)代制造業(yè)的需求。江蘇多功能搪錫機(jī)價(jià)格查詢

鋁是一種高導(dǎo)電材料,在電解電容器中作為電極材料使用。然而,鋁的機(jī)械強(qiáng)度較低。江蘇多功能搪錫機(jī)價(jià)格查詢

在焊料中有AuSn4顆粒;圖43(b)表示經(jīng)過烘烤的試樣,Ni3Sn4層長(zhǎng)大,AuSn4從焊料內(nèi)部向焊料和PCB基板的界面遷移。由于金屬間化合物中Au和Sn的比為1:4,所以即使很少量的Au也會(huì)生成較厚的AuSn4。圖43(c)表示經(jīng)過烘烤再進(jìn)行再流焊的試樣焊點(diǎn),AuSn4化合物從界面溶解進(jìn)入焊點(diǎn)。2.試驗(yàn)證明:PBGA組件在150℃老化兩周后的金脆,表明主裂紋在Au-Sn化合物和Ni-Sn化合物間擴(kuò)展,裂紋穿過了Ni3Sn4和Ni(P)+層,如圖44(a)所示。圖44(a)(b)所示為PBGA一側(cè)的SEM圖。圖中亮的區(qū)域?yàn)锳uSn4化合物,暗的區(qū)域?yàn)镹i3Sn4化合物,亮的斑點(diǎn)為富Pb焊料。圖44(c)(d)所示為PCB一側(cè)的SEM圖。圖中亮的區(qū)域?yàn)镹i3Sn4化合物,暗的區(qū)域?yàn)镹i-P,亮的斑點(diǎn)為富Pb焊料。老化后PBGA組裝件的斷裂位置如圖44所示,其斷裂方式與上兩種不同,它是在界面處的分層斷裂而不是焊料的脆性斷裂。這些鍍金的PCB焊盤都存在金鍍層是否需要“除金”,應(yīng)該引起我們的高度重視。六.鍍金引線除金的爭(zhēng)議1.“鍍金引線的除金處理”事關(guān)大局目前業(yè)界個(gè)別人對(duì)鍍金引線的除金處理的必要性和可行性頗有微詞。江蘇多功能搪錫機(jī)價(jià)格查詢

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