uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，較大挑戰(zhàn)在于加載過程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。原位加載系統(tǒng)掃描可以提供更準(zhǔn)確、可靠的信息，便于提高產(chǎn)品質(zhì)量和客戶使用的安全性。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有賣

數(shù)字圖像分析技術(shù)在掃描電鏡原位加載技術(shù)中的應(yīng)用：目前，基于分形幾何、非平衡統(tǒng)計(jì)力學(xué)和原位加載掃描電鏡的實(shí)驗(yàn)研究方法，對(duì)巖石、合金、混凝土復(fù)合材料、陶瓷復(fù)合材料等，建立微觀斷裂過程的系列分形模型，從微觀和宏觀上解釋裂紋發(fā)展擴(kuò)張的物理機(jī)理，發(fā)現(xiàn)影響材料力學(xué)性能的關(guān)鍵因素，取得了大批重要研究成果在通過原位拉伸掃描電鏡對(duì)固體推進(jìn)劑的細(xì)觀損傷破壞過程進(jìn)行定型研究基礎(chǔ)上，基于數(shù)字圖像分析技術(shù)對(duì)材料原位拉伸破壞過程的圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換-邊界提取-黑白二值圖轉(zhuǎn)換等處理，進(jìn)一步地通過對(duì)破壞過程裂紋表面分形模型的構(gòu)建，將固體推進(jìn)劑的細(xì)觀損傷破壞過程實(shí)現(xiàn)了定量化的分析。河南CT原位加載系統(tǒng)哪家好原位加載系統(tǒng)是一種結(jié)合材料表征分析手段的力學(xué)性能加載方式。

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：基于性能特點(diǎn)，我們將體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)技術(shù)與原位拉伸裝置結(jié)合，研究了固體推進(jìn)劑的絕熱層與推進(jìn)劑藥柱在加載作用下的細(xì)觀損傷破壞過程。由于體視學(xué)顯微鏡觀測(cè)空間不受限制，可以充分?jǐn)U展加載臺(tái)，實(shí)現(xiàn)對(duì)延伸率較大樣品的觀測(cè);并可通過對(duì)加載臺(tái)的溫度控制，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在高、低溫環(huán)境下?lián)p傷力學(xué)性能規(guī)律的研究;此外，體視學(xué)顯微鏡原位加載裝置還具有樣品不需噴金、成本低等優(yōu)點(diǎn)。由于種種問題的存在，限制了SEM原位加載實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的應(yīng)用范圍，對(duì)材料力學(xué)性能研究的貢獻(xiàn)也有限。

原位加載掃描電鏡技術(shù)與運(yùn)用：材料的力學(xué)性能是其諸多性能中的關(guān)鍵性能之一，對(duì)于材料獲得大范圍的應(yīng)用具有重要意義。因此，對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行研究,尋求提高材料力學(xué)性能的途徑，成為材料科學(xué)研究中的重要工作。但目前對(duì)材料性能的研究多是基于宏觀的試驗(yàn)研究，測(cè)試結(jié)果雖與材料的應(yīng)用效果緊密相關(guān)，但這種方法難以為提高材料的力學(xué)性能提供直接的機(jī)理支撐。細(xì)觀力學(xué)的研究方法從介于宏觀與微觀之間的尺度對(duì)影響材料的力學(xué)性能因素進(jìn)行分析與研究，是近年來材料力學(xué)性能研究的熱點(diǎn)領(lǐng)域。原位加載設(shè)備是專門為X射線CT設(shè)備定制設(shè)計(jì)的緊湊型測(cè)試系統(tǒng)。

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用：1、掃描電鏡觀察大試樣的原始表面：掃描電鏡能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對(duì)試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實(shí)觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度(背反射電子象)。2、掃描電鏡觀察試樣區(qū)域細(xì)節(jié)：試樣在三度空間內(nèi)有6個(gè)自由度運(yùn)動(dòng)(即三度空間平移、三度空間旋轉(zhuǎn))。且可動(dòng)范圍大，這對(duì)觀察不規(guī)則形狀試樣的各個(gè)區(qū)域帶來極大的方便。3、掃描電鏡連續(xù)觀察：掃描電鏡進(jìn)行從高倍到低倍的連續(xù)觀察，放大倍數(shù)的可變范圍很寬，且不用經(jīng)常對(duì)焦。原位力學(xué)加載裝置一般是放在檢測(cè)儀器的艙室內(nèi)。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有賣

CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有高溫/低溫適用于結(jié)構(gòu)對(duì)溫度敏感的樣品分析。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有賣

掃描電鏡原位加載系統(tǒng)：掃描電鏡原位技術(shù)已經(jīng)大范圍應(yīng)用于材料科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域，它可以將材料宏觀性能與微觀結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來，這對(duì)研發(fā)高性能新型材料非常有幫助。但電鏡原位實(shí)驗(yàn)從來都不是一個(gè)簡(jiǎn)單的工作，有的時(shí)候甚至還需要一些運(yùn)氣。掃描電鏡原位解決方案將掃描電鏡、原位樣品臺(tái)、ebsd和eds控制軟件深度整合，在單臺(tái)pc的一個(gè)軟件中就可以控制所有硬件，實(shí)現(xiàn)成像、分析以及原位樣品臺(tái)參數(shù)設(shè)定的高度集成。開創(chuàng)性自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)流程：節(jié)省時(shí)間+解放雙手。西安SEM原位加載系統(tǒng)哪里有賣

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