克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

Keysight(是德科技)、Agilent（安捷倫）、羅德與施瓦茨（R&S）、Tektronix、等海外有名品牌儀器儀表，其中包括：綜合測(cè)試儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、噪聲源、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、音頻分析儀等品質(zhì)電子儀器的銷(xiāo)售、租賃、維修、保養(yǎng)、校準(zhǔn)、等項(xiàng)目，是綜合技術(shù)服務(wù)型公司。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室矩陣開(kāi)關(guān)，信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試、DDR測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。 一種眼圖測(cè)試方法和眼圖測(cè)試系統(tǒng)？廣東通信眼圖測(cè)試產(chǎn)品介紹

    對(duì)于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號(hào)與DQ數(shù)據(jù)信號(hào)有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會(huì)導(dǎo)致接收鎖存信號(hào)錯(cuò)誤，DDR4信號(hào)速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來(lái)越小，傳統(tǒng)的測(cè)量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無(wú)法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動(dòng)帶來(lái)的對(duì)時(shí)序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動(dòng)Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動(dòng)因素，基于雙狄拉克模型分解抖動(dòng)和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會(huì)在規(guī)范中明確了在DDR4中測(cè)試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周?chē)鶷divw時(shí)間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 設(shè)備眼圖測(cè)試服務(wù)熱線眼圖測(cè)試分析系統(tǒng)參數(shù)？

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室高速線纜系統(tǒng)用于對(duì)高達(dá)100Gb/s的高速數(shù)據(jù)線纜進(jìn)行全自動(dòng)性能測(cè)試，支持QSFP/QSFP+/QSFP28SFP/SFP+MiniSASHDMI，USB3.0等系統(tǒng)基于AgilentE5071C的TDR功能，通過(guò)多端射頻開(kāi)關(guān)矩陣自動(dòng)切換測(cè)試通道，并采用了快速校準(zhǔn)、去嵌入、及并行數(shù)據(jù)處理等技術(shù)，實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)線纜的高精度全自動(dòng)頻域、時(shí)域及眼圖測(cè)試，測(cè)試頻率高達(dá)20GHz。矩陣開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)可以匹配各種型號(hào)網(wǎng)絡(luò)分析儀，5G天線多端口矩陣測(cè)試系統(tǒng)。

1. 眼圖張開(kāi)的寬度決定了接收波形可以不受干擾而抽樣再生的時(shí)間間隔

2. 眼圖的斜率表示系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)（或誤差）的靈敏度，斜率越大，系統(tǒng)對(duì)定時(shí)抖動(dòng)越靈敏

3. 眼圖左（右）角陰影部分的水平寬度表示信號(hào)零點(diǎn)的變化范圍，稱(chēng)為零點(diǎn)失真量，在許多接收設(shè)備中定時(shí)信息是由信號(hào)零點(diǎn)位置提取得，對(duì)于這種設(shè)備零點(diǎn)失真量很重要。

4. 在抽樣時(shí)刻，陰影區(qū)域的垂直寬度表示信號(hào)失真量

5. 在抽樣時(shí)刻上、下的兩陰影區(qū)間隔的一半是小噪聲容限，噪聲瞬時(shí)值超過(guò)它就有可能發(fā)生錯(cuò)誤判斷

6.橫軸對(duì)應(yīng)判決門(mén)限電平 對(duì)符號(hào)波形序列所顯示的眼圖性能參數(shù)進(jìn)行度量的過(guò)程。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號(hào)的比特位信息，所以成為了衡量信號(hào)質(zhì)量的重要工具，眼圖測(cè)量有時(shí)侯就叫“信號(hào)質(zhì)量測(cè)試”。此外，眼圖測(cè)量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對(duì)于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號(hào)“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測(cè)量有時(shí)侯又被稱(chēng)為“模板測(cè)試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號(hào)的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類(lèi)型。如果用發(fā)送端的模板來(lái)作為接收端眼圖模板，可能會(huì)一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號(hào)、E1/T1的信號(hào)，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí)，我們就認(rèn)為信號(hào)質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以?xún)?nèi)。示波器中有測(cè)量參數(shù)可自動(dòng)統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號(hào)的哪方面有問(wèn)題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號(hào)的問(wèn)題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問(wèn)題導(dǎo)致的?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試、DDR測(cè)試。北京眼圖測(cè)試產(chǎn)品介紹

USB2.0眼圖測(cè)試設(shè)備步驟？廣東通信眼圖測(cè)試產(chǎn)品介紹

產(chǎn)生抖動(dòng)的原因有很多，常見(jiàn)的一種由于噪聲引起的。

一個(gè)帶噪聲的數(shù)字信號(hào)及其判決。一般我們把數(shù)字信號(hào)超過(guò)閾值的狀態(tài)判決為“1”，把低于閾值的狀態(tài)判決為"0",由于信號(hào)的上升沿不是無(wú)限陡的，所以噪聲會(huì)引起信號(hào)過(guò)閾值點(diǎn)時(shí)刻的左右變化，這就是由噪聲引起的信號(hào)抖動(dòng)。由于噪聲是隨機(jī)的、無(wú)界的，因此造成的隨機(jī)抖動(dòng)也是隨機(jī)的、無(wú)界的、也就是說(shuō)理論上隨著樣本數(shù)的增加隨機(jī)抖動(dòng)的峰峰值是無(wú)窮大，所以通常用隨機(jī)抖動(dòng)的RMS值而不是峰峰值來(lái)衡量隨機(jī)抖動(dòng)的大小。理想的隨機(jī)抖動(dòng)應(yīng)該是一個(gè)高斯分布，所以有時(shí)候也會(huì)根據(jù)系統(tǒng)誤碼率的要求，對(duì)隨機(jī)抖動(dòng)的RMS值乘以一個(gè)系數(shù)，再和確定性抖動(dòng)一起計(jì)算系統(tǒng)的總體抖動(dòng)。隨機(jī)抖動(dòng)的大小取決于系統(tǒng)的噪聲，和發(fā)送的碼型無(wú)關(guān)，因此早期在沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的抖動(dòng)分解軟件時(shí)，是讓被測(cè)件產(chǎn)生一個(gè)周期性的0101的碼型來(lái)進(jìn)行隨機(jī)抖動(dòng)的測(cè)試。 廣東通信眼圖測(cè)試產(chǎn)品介紹