萊森光學(xué)(深圳)有限公司2024-12-28

盡管激光誘導(dǎo)光譜儀具有許多優(yōu)點(diǎn)，但也面臨一些技術(shù)挑戰(zhàn)： 樣品的激發(fā)深度：激光只能分析表面或薄層物質(zhì)，較深的樣品可能無法被有效分析。 復(fù)雜樣品的干擾：在含有復(fù)雜背景的樣品中（如多元素的合金），可能需要較為復(fù)雜的分析和數(shù)據(jù)處理。 靈敏度限制：對于一些元素的低濃度檢測，LIBS的靈敏度可能受到限制，萊森光學(xué)通過優(yōu)化光譜解析和增強(qiáng)激光源功率，努力提高分析精度。 成本問題：高精度激光源和探測器使得LIBS設(shè)備價(jià)格較高，這可能影響其在某些低成本應(yīng)用中的普及。

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