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無(wú)損顯微CT3D-XRM不需要進(jìn)行切片，染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復(fù)測(cè)試，進(jìn)行縱向比對(duì)。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質(zhì)，對(duì)Ｘ射線吸收非常弱，想獲得足夠高的對(duì)比度，①要求X射線探測(cè)器的靈敏程度高，可以識(shí)別出微小的信號(hào)差異，獲取吸收襯度信息。②設(shè)備整體精度高，探測(cè)器靈敏度高，在吸收襯度之外，還可以利用X射線相位的變化，獲得包含相位襯度的圖像。大工作距離條件下的高分辨率模式大工作距離條件下的高分辨率掃描，一般是通過透鏡或光錐對(duì)閃爍體產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行二次放大，布魯克SkyScan采用高分辨率CCD探測(cè)器（1100萬(wàn)像素,普通探測(cè)器一般為400萬(wàn)像素）+具有放大功能的光纖實(shí)現(xiàn)幾何放大和光錐二次放大，并且在進(jìn)行二次放大的同時(shí)，可以保證成像速度，在合理的時(shí)間內(nèi)完成大工作距離下的高分辨率掃描。江西進(jìn)口顯微CT配件很大程度上保護(hù)樣品：無(wú)需制備樣品，無(wú)損三維重現(xiàn)。

特點(diǎn)：X射線源：涵蓋各領(lǐng)域應(yīng)用，從有機(jī)物到金屬樣品標(biāo)稱分辨率（放大倍數(shù)下的像素尺寸）：檢測(cè)樣品極小的細(xì)節(jié)X射線探測(cè)器：3MP（1,944x1,536）有效像素的CMOS平板探測(cè)器，高讀取速度，高信噪比樣品尺寸：適用于小-中等尺寸樣品輻射安全：滿足國(guó)際安全要求供電要求：標(biāo)準(zhǔn)插座，即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供，如您想了解更多關(guān)于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢。

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