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在納米CT圖像定量分析的過程中，相信大家都遇到過這樣的情況：很難找到一個合適的閾值來分割我們要分析的對象。尤其是對于顯微ct掃描樣品中的細微結(jié)構(gòu)而言，由于沒有足夠高的分辨率來表征，高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值，局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對我們的閾值選取、個體分割造成了非常大的困難，尤其是動輒幾百兆，幾個G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進行閾值分割之前，各種濾波工具就被我們拿來強化對象，弱化背景噪音，以期能夠得到一個更準確的結(jié)果。確定結(jié)構(gòu)的厚度、結(jié)構(gòu)間隔實現(xiàn)空隙網(wǎng)絡(luò)可視化、壓縮和拉伸臺進行原位力學(xué)試驗、確定開孔孔隙和閉孔孔隙度。

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SKYSCAN 1272 CMOS XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化。江西特殊顯微CT推薦咨詢

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