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企業(yè)商機
XRD衍射儀基本參數
  • 品牌
  • 布魯克
  • 型號
  • D8
XRD衍射儀企業(yè)商機

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術的發(fā)展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節(jié)點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器。D8 VENTURE

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所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數率、動態(tài)范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。浙江第三方檢測機構XRD衍射儀樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺,較大限度地提高實驗靈活性。

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汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導體與微電子:從過程開發(fā)到質量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。制藥業(yè)篩選:新結構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,對此,D8D具有高通量篩選功能。儲能/電池:使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,直接了當的獲取不斷變化的儲能材料的晶體結構和相組方面的信息。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,通常需要進行殘余應力和織構測量。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力,可延長其功能壽命。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成。構成塊狀樣品的微晶的取向,決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構,可顯著增強其特性。這兩種技術在優(yōu)化制造法(例如增材制造)領域也占有一席之地。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.TEXTURE中,使用球諧函數和分量方法,生成極圖、取向分布函數(ODF)和體積定量分析。

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D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,其應用范圍、數據質量、靈活性和可升級性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,適用于所有X射線粉末衍射和散射應用。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性。面對新應用,您隨時都能對它輕松完成升級,從而適應未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應用需求:相鑒定定量相分析微觀結構分析結構測定和精修殘余應力織構掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(PDF)分析對較大300 mm的樣品進行掃描、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品、自動化接口。重慶檢測實驗室XRD衍射儀

安裝在標準陶瓷X射線管前面,可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,無需認為干預。D8 VENTURE

X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結構信息。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結構:層厚度、應變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。應力和織構(擇優(yōu)取向)分析。D8 VENTURE

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