去嵌入操作步驟以**網(wǎng)絡(luò)去嵌入(NetworkDe-embedding)**為例(以AgilentE5063A界面為例):進(jìn)入去嵌入設(shè)置菜單:按面板“Analysis”>選擇“FixtureSimulator”>“De-Embedding”。選擇目標(biāo)端口:單擊“SelectPort”>選擇需去嵌入的端口(如Port1、Port2)...
查看詳細(xì) >>如果光衰減器精度不足,不能將光信號功率準(zhǔn)確地衰減到接收端設(shè)備(如光模塊)的允許范圍內(nèi),可能會(huì)使接收端設(shè)備因承受過高的光功率而損壞。例如,在高速光通信系統(tǒng)中,光模塊的接收端通常對光功率有一定的閾值要求。如果光衰減器衰減后的光功率超過這個(gè)閾值,光模塊內(nèi)部的光電探測器(如雪崩光電二極管)可能會(huì)被燒毀,導(dǎo)致整個(gè)接收端設(shè)備失效,影響光通...
查看詳細(xì) >>光功率測量準(zhǔn)確性光信號功率變化快時(shí):如果光信號的功率在短時(shí)間內(nèi)發(fā)生快速變化,響應(yīng)時(shí)間長的探頭可能無法及時(shí)捕捉到這種變化,導(dǎo)致測量出的光功率值與實(shí)際值存在偏差。比如在一些光通信系統(tǒng)中,光信號的強(qiáng)度可能會(huì)因?yàn)橥饨绺蓴_或系統(tǒng)調(diào)整而瞬間改變,此時(shí)響應(yīng)時(shí)間短的探頭能更準(zhǔn)確地反映光功率的真實(shí)變化情況,而響應(yīng)時(shí)間長的探頭可能會(huì)使測量結(jié)果滯后...
查看詳細(xì) >>網(wǎng)絡(luò)分析儀在通信領(lǐng)域極為重要,以下是詳細(xì)體現(xiàn):確保網(wǎng)絡(luò)性能和信號完整性測量反射和傳輸參數(shù):它可測量天線的反射系數(shù)、回波損耗和駐波比等反射參數(shù),以及插入損耗、傳輸系數(shù)和群延遲等傳輸參數(shù),從而評估天線的阻抗匹配、增益、方向圖和極化特性,這對于確保天線發(fā)射和接收信號,避免信號反射和干擾至關(guān)重要。測試增益和損耗:可用于測試各種射頻器件...
查看詳細(xì) >>科研與材料研究:是測量和分析激光與材料相互作用時(shí)能量傳輸和轉(zhuǎn)換的基礎(chǔ)工具,用于光學(xué)材料、光電子學(xué)、光熱效應(yīng)等領(lǐng)域的研究。技術(shù)參數(shù)波長范圍:不同光功率探頭的波長范圍有所差異,如某些探頭適用于450?1020nm波段,能夠覆蓋可見光到近紅外波段的多種應(yīng)用場景。。光功率測量:適用于多種場景下的光功率測量,包括通用光功率測量、計(jì)量場景...
查看詳細(xì) >>光子集成芯片(PIC)測試依賴微型波長計(jì)(如光纖端面集成器件[[網(wǎng)頁1]]),實(shí)現(xiàn)晶圓級激光器波長篩選,支撐全光交換節(jié)點(diǎn)低成本量產(chǎn)。五、行業(yè)價(jià)值鏈重塑與挑戰(zhàn)影響維度傳統(tǒng)模式痛點(diǎn)光波長計(jì)技術(shù)帶來的變革案例/數(shù)據(jù)擴(kuò)容能力固定柵格頻譜浪費(fèi)靈活柵格提升頻譜利用率30%+上海電信20維ROADM網(wǎng)[[網(wǎng)頁9]]制造成本外置校準(zhǔn)源維護(hù)成本...
查看詳細(xì) >>多端口與非對稱處理:多端口系統(tǒng)需分步去嵌入,避免通道耦合影響8。非對稱夾具需為每個(gè)端口**設(shè)置模型(如Port1和Port2加載不同.s2p文件)。總結(jié)去嵌入的**是**“校準(zhǔn)+夾具建?!?*:校準(zhǔn)建立基準(zhǔn)面→2.建模夾具特性(.s2p)→3.加載模型延伸校準(zhǔn)面→4.驗(yàn)證去嵌效果。推薦流程:Mermaid對于高頻(>40GHz...
查看詳細(xì) >>環(huán)境溫度和濕度:將網(wǎng)絡(luò)分析儀放置在溫度和濕度適宜的環(huán)境中,避免高溫、高濕或低溫環(huán)境對儀器造成損害。一般要求溫度在0℃到40℃之間,濕度在10%到80%之間。防震措施:儀器內(nèi)部的精密部件對振動(dòng)較為敏感。將儀器放置在穩(wěn)固的實(shí)驗(yàn)臺上,避免振動(dòng)和碰撞。在移動(dòng)儀器時(shí)要小心輕放。4.開機(jī)自檢與預(yù)熱開機(jī)自檢:每次開機(jī)時(shí),觀察儀器的自檢過程是...
查看詳細(xì) >>硅光衰減器技術(shù)在未來五年(2025-2030年)可能迎來以下重大突破,結(jié)合技術(shù)演進(jìn)趨勢、產(chǎn)業(yè)需求及搜索結(jié)果中的關(guān)鍵信息分析如下:一、材料與工藝創(chuàng)新異質(zhì)集成技術(shù)突破通過磷化銦(InP)、鈮酸鋰(LiNbO3)等材料與硅基芯片的異質(zhì)集成,解決硅材料發(fā)光效率低的問題,實(shí)現(xiàn)高性能激光器與衰減器的單片集成。例如,九峰山實(shí)驗(yàn)室已成功在8寸...
查看詳細(xì) >>網(wǎng)絡(luò)分析儀(特別是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA)在6G通信中面臨超高頻段(太赫茲)、超大規(guī)模天線陣列等新挑戰(zhàn),衍生出以下創(chuàng)新應(yīng)用案例及技術(shù)突破:一、太赫茲頻段器件與系統(tǒng)測試亞太赫茲收發(fā)組件校準(zhǔn)應(yīng)用場景:6G頻段拓展至110-330GHz(H頻段),傳統(tǒng)傳導(dǎo)測試失效。技術(shù)方案:混頻接收方案:VNA結(jié)合變頻模塊(如VDI變頻器),將信號下...
查看詳細(xì) >>??三、網(wǎng)絡(luò)可靠性和運(yùn)維效率影響設(shè)備壽命縮短接收端過載:探頭低估光功率(如-3dBm測為-6dBm),使高功率信號(>+3dBm)直接沖擊探測器,壽命縮減50%。防護(hù)建議:定期校準(zhǔn)高功率耐受性(如>+10dBm探頭用于EDFA輸出監(jiān)測)。故障失效未校準(zhǔn)探頭的非線性誤差(如低功率段±1dB偏差)導(dǎo)致OTDR測試誤判,故障點(diǎn)偏移達(dá)...
查看詳細(xì) >>在波導(dǎo)光衰減器中,利用波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的干涉效應(yīng)來實(shí)現(xiàn)光衰減。通過設(shè)計(jì)波導(dǎo)的幾何結(jié)構(gòu)和材料特性,使光信號在波導(dǎo)中發(fā)生干涉,部分光信號被抵消,從而降低光信號的功率。5.可變衰減原理機(jī)械可變衰減器:通過機(jī)械裝置(如旋轉(zhuǎn)的偏振片、可調(diào)節(jié)的光闌等)來改變光信號的衰減量。例如,偏振可變光衰減器利用偏振片的旋轉(zhuǎn)來改變光信號的偏振態(tài),從而實(shí)現(xiàn)光衰...
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